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1. 发明公开

KR20180052676A 인코더 장치 审中-公开
公开(公告)号：KR20180052676A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：KR20187009887
申请日：2016-09-08
申请人： RENISHAW PLC
发明人： SLACK JASON , BALE RICHARD JAMES
IPC分类号： G01D5/347 , G01D18/00
CPC分类号： G01D5/34715
摘要： 인코더장치는스케일및 센서상에떨어지는스케일신호를검출하기위한센서엘리먼트의어레이를포함하는센서를포함하는헤드를포함하고, 상기판독헤드는, 스케일과판독헤드의결정된상대적위치에대한센서엘리먼트의영향이, 스케일신호에서의바람직하지않은주파수의악영향을감소시키고그에의해인코더장치의재분할에러를감소시키도록구성되는미리결정된비 직사각형윈도우함수에따라어레이에걸쳐변하도록, 스케일과판독헤드의상대적위치를결정하기위해사용되는센서엘리먼트의출력이가중되도록구성된다.

2. 发明公开

KR20120017420A Position encoder apparatus 审中-公开
标题翻译：位置编码器设备
公开(公告)号：KR20120017420A
公开(公告)日：2012-02-28
申请号：KR20117026649
申请日：2010-04-08
申请人： RENISHAW PLC
发明人： GORDON INGRAM IAIN ROBERT , GRIBBLE ANDREW PAUL , MCADAM SIMON ELIOT
IPC分类号： G01D5/244 , G01D5/347
CPC分类号： G01D5/34707 , G01D5/24452 , G01D5/2448
摘要： 위치 특징점의 연속을 포함하는 스케일; 및 판독헤드를 포함하는 위치 인코더 키트에 관한 것이다. 판독헤드는 구성 아이템으로부터 구성 정보를 수신하는 검출기를 포함한다. 판독헤드는 구성 정보에 따라 작동하도록 구성된다. 또한, 판독헤드는 그것을 통하여 판독헤드가 수신기로 위치 정보를 공급할 수 있는 수신기 인터페이스를 포함한다.

3. 发明专利

TWI618917B 用於量測一零件的方法及裝置有权
简体标题：用于量测一零件的方法及设备
公开(公告)号：TWI618917B
公开(公告)日：2018-03-21
申请号：TW102141319
申请日：2013-11-13
申请人：任尼紹公司 , RENISHAW PLC
发明人：歐德約翰查爾斯 , OULD, JOHN CHARLES , 馬歇爾德瑞克 , MARSHALL, DEREK , 摩爾保羅威廉 , MOORE, PAUL WILLIAM , 李維爾馬修安東尼 , REVELL, MATTHEW ANTHONY
IPC分类号： G01B5/012 , G01B7/012 , B23Q11/00
CPC分类号： G01B21/04 , G01B21/047

4. 发明专利

TWI458937B 用於機械工具裝置之類比量測探針及操作方法有权
简体标题：用于机械工具设备之模拟量测探针及操作方法
公开(公告)号：TWI458937B
公开(公告)日：2014-11-01
申请号：TW101102281
申请日：2012-01-19
申请人：任尼紹公司 , RENISHAW PLC
发明人：科林伍德大衛 , COLLINGWOOD, DAVID , 布瑞格羅伯特強 , BRAGG, ROBERT JOHN
IPC分类号： G01B7/012
CPC分类号： G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/182

5. 发明专利

TW201350789A 在機器工具上量測之方法审中-公开
简体标题：在机器工具上量测之方法
公开(公告)号：TW201350789A
公开(公告)日：2013-12-16
申请号：TW102113860
申请日：2013-04-18
申请人：任尼紹公司 , RENISHAW PLC
发明人：伍德里奇麥可約翰 , WOOLDRIDGE, MICHAEL JOHN , 歐德約翰查爾斯 , OULD, JOHN CHARLES , 摩爾保羅威廉 , MOORE, PAUL WILLIAM
IPC分类号： G01B21/04 , G05B19/37
CPC分类号： G05B19/401 , G01B21/045 , G05B2219/50063
摘要：本發明揭示一種使用安裝在一機器工具上之一類比探針沿一物體之表面上之一標稱量測線掃描該物體以收集掃描量測資料之方法，該類比探針具有一較佳量測範圍。該方法包括根據一相對運動行程來控制該類比探針及/或該物體以執行一掃描操作，該相對運動行程經組態使得基於該物體之該表面的假定性質，將會導致該類比探針沿該物體之該表面上之該標稱量測線獲得其較佳量測範圍內的資料，且導致該類比探針超出其較佳量測範圍之外。
简体摘要：本发明揭示一种使用安装在一机器工具上之一模拟探针沿一物体之表面上之一标称量测线扫描该物体以收集扫描量测数据之方法，该模拟探针具有一较佳量测范围。该方法包括根据一相对运动行程来控制该模拟探针及/或该物体以运行一扫描操作，该相对运动行程经组态使得基于该物体之该表面的假定性质，将会导致该模拟探针沿该物体之该表面上之该标称量测线获得其较佳量测范围内的数据，且导致该模拟探针超出其较佳量测范围之外。

6. 发明专利

TW200912579A 用於座標定位裝置的量測探針系統 MEASUREMENT PROBE SYSTEMS FOR CO-ORDINATE POSITIONING APPARATUS 审中-公开
简体标题：用于座标定位设备的量测探针系统 MEASUREMENT PROBE SYSTEMS FOR CO-ORDINATE POSITIONING APPARATUS
公开(公告)号：TW200912579A
公开(公告)日：2009-03-16
申请号：TW097126979
申请日：2008-07-16
申请人：任尼紹公司 RENISHAW PLC
发明人：提姆普雷史迪吉 PRESTIDGE, TIM , 强納森保羅傅吉 FUGE, JONATHAN PAUL , 彼得肯尼斯海里爾 HELLIER, PETER KENNETH , 約翰史戴爾 STYLES, JOHN , 傑米巴金漢 BUCKINGHAM, JAMIE
IPC分类号： G05B , G06F
CPC分类号： G06F21/44 , G01B5/012 , G01B21/047 , G01B2210/58 , H04L9/3236 , H04L9/3271 , H04L2209/80 , H04W12/06 , H04W12/10
摘要：本發明揭示一種量測探針(2;90;100;150;200;250),例如一觸控觸發量測探針(2;90;100;150;200),其包含:一量測部分(6;158;254),其用以量測一物件(256);以及一資料傳輸部分(8;16;124;266),其用以從一相關聯單元(18;94;118;126;152;268)接收資料及/或向一相關聯單元(18;94;118;126;152;268)發送資料。量測器件亦包含用以驗證該相關聯單元的真實性之一鑑識模組(13;50;113;159;261)。該鑑識模組可包括用以運行一單向雜湊演算法之一處理器(12;262)。可使用一詰問與回應鑑識程序來證明真實性。
简体摘要：本发明揭示一种量测探针(2;90;100;150;200;250),例如一触摸触发量测探针(2;90;100;150;200),其包含:一量测部分(6;158;254),其用以量测一对象(256);以及一数据传输部分(8;16;124;266),其用以从一相关联单元(18;94;118;126;152;268)接收数据及/或向一相关联单元(18;94;118;126;152;268)发送数据。量测器件亦包含用以验证该相关联单元的真实性之一鉴识模块(13;50;113;159;261)。该鉴识模块可包括用以运行一单向散列算法之一处理器(12;262)。可使用一诘问与回应鉴识进程来证明真实性。

7. 发明专利

TW200809210A 差動校準 DIFFERENTIAL CALIBRATION 审中-公开
简体标题：差动校准 DIFFERENTIAL CALIBRATION
公开(公告)号：TW200809210A
公开(公告)日：2008-02-16
申请号：TW096114801
申请日：2007-04-26
申请人：任尼紹公司 RENISHAW PLC
发明人：亞歷山大坦納特沙哲蘭 SUTHERLAND, ALEXANDER TENNANT
IPC分类号： G01R , G05B
CPC分类号： G01B21/042
摘要：本發明揭示一種校準安裝於一機器上之測量探針(10)的方法。該測量探針(1O)具有一尖筆(14),其具有一工件接觸尖端(16)。該方法包括決定一探針校準矩陣,其使探針輸出(a,b,c)關聯至機器座標系統(x,y,z)。該方法包含使用一第一探針偏轉(d1)掃描一校準製品(18)以獲得第一機器資料,及使用一第二探針偏轉(d2)來獲得第二機器資料的步驟。該第一及第二機器資料係用來獲得一純探針校準矩陣,其中任何機器誤差係大致上省略的。有利的是,該方法基於該第一及第二機器位置資料間之差係已知的假設,來數値上決定該純探針矩陣。
简体摘要：本发明揭示一种校准安装于一机器上之测量探针(10)的方法。该测量探针(1O)具有一尖笔(14),其具有一工件接触尖端(16)。该方法包括决定一探针校准矩阵,其使探针输出(a,b,c)关联至机器座标系统(x,y,z)。该方法包含使用一第一探针偏转(d1)扫描一校准制品(18)以获得第一机器数据,及使用一第二探针偏转(d2)来获得第二机器数据的步骤。该第一及第二机器数据系用来获得一纯探针校准矩阵,其中任何机器误差系大致上省略的。有利的是,该方法基于该第一及第二机器位置数据间之差系已知的假设,来数値上决定该纯探针矩阵。

8. 发明专利

TWI687057B 編碼器裝置有权
简体标题：编码器设备
公开(公告)号：TWI687057B
公开(公告)日：2020-03-01
申请号：TW107116768
申请日：2018-05-17
申请人：英商任尼紹公司 , RENISHAW PLC
发明人：伊凡斯芬雷瓊納桑 , EVANS, FINLAY JONATHAN
IPC分类号： H03M11/02

9. 外观设计

TWD176322S 用於坐標定位裝置之校正件之部分有权
简体标题：用于坐标定位设备之校正件之部分
公开(公告)号：TWD176322S
公开(公告)日：2016-06-11
申请号：TW104306030
申请日：2014-10-09
申请人：任尼紹公司 , RENISHAW PLC
设计人：麥克斯泰德保羅 , MAXTED, PAUL , 霍爾史都華 , HOWELL, STUART

10. 外观设计

TWD175445S 用於坐標定位裝置之校正件之部分有权
简体标题：用于坐标定位设备之校正件之部分
公开(公告)号：TWD175445S
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：TW104306032
申请日：2014-10-09
申请人：任尼紹公司 , RENISHAW PLC
设计人：麥克斯泰德保羅 , MAXTED, PAUL , 霍爾史都華 , HOWELL, STUART

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