会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 10. 发明专利
    • Halbleiterspeichervorrichtung
    • DE102006062024B4
    • 2018-05-17
    • DE102006062024
    • 2006-12-29
    • HYNIX SEMICONDUCTOR INC
    • DO CHANG-HO
    • G11C29/48G11C29/12
    • Halbleiter-Speichervorrichtung, welche aufweist:eine Vielzahl von ersten Pads (TXi, RXi), wobei die Vielzahl von ersten Pads (TXi, RXi) Übertragungspads (TXi) und Empfangspads (RCi) umfasst ;eine Vielzahl Ports (PORT) zur Ausführung einer seriellen Datenkommunikation mit externen Vorrichtungen durch die ersten Pads (TXi, RXi);eine Vielzahl von Bänken (BANK) zur Ausführung einer parallelen Datenkommunikation mit der Vielzahl von Ports (PORT);eine Vielzahl von globalen Datenbussen (GIO_OUT, GIO_IN) zur Unterstützung der parallelen Datenkommunikation zwischen der Vielzahl von Ports (PORT) und der Vielzahl von Bänken (BANK); undeine Testmodussteuereinrichtung zur Ausführung eines Core-Tests während eines ausgewählten Core-Testmodus, wobei während des Core-Tests Testsignale durch die Übertragungspads (TXi) und die Empfangspads (RXi) der Vielzahl von ersten Pads (TXi, RXi) in paralleler Weise empfangen werden, und wobei in einem normalen Betrieb durch die Übertragungspads (TXi) und die Empfangspads (RXi) der Vielzahl von ersten Pads (TXi, RXi) Daten seriell eingebegen/ausgegeben werden.