会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明申请
    • IMAGING SPECTROMETER WITH FREEFORM SURFACES
    • 具有FREEFORM表面的成像光谱仪
    • WO2016200816A1
    • 2016-12-15
    • PCT/US2016/036224
    • 2016-06-07
    • UNIVERSITY OF ROCHESTER
    • ROLLAND, Jannick, P.REIMERS, Jacob
    • G01J3/28G01J3/02
    • G01J3/021G01J3/0208G01J3/18G01J3/2823
    • Expanded performance opportunities for imaging spectrometers are described using ϕ-polynomial freeform surfaces in reflective and diffractive optics. The imaging spectrometers are generally of a type that include an entrance aperture for admitting radiation over a range of wavelengths, a detector array, a primary reflective optic with optical power, a secondary reflective diffractive optic, and a tertiary reflective optic with optical power for collectively imaging the entrance aperture onto the detector array through a range of dispersed positions. One or more of the primary reflective optic, the secondary reflective diffractive optic, and the tertiary reflective optic can include a ϕ-polynomial optical surface with no axis of symmetry and represented by a function that depends on both a radial component and an azimuthal component.
    • 使用反射和衍射光学中的多项式自由曲面来描述成像光谱仪的扩展性能机会。 成像光谱仪通常是一种类型,其包括用于允许波长范围上的辐射的入口孔,检测器阵列,具有光功率的初级反射光学器件,次级反射衍射光学器件和具有用于集体的光焦度的第三反射光学器件 通过一系列分散位置将入射孔成像到检测器阵列上。 主要反射光学器件,次级反射衍射光学器件和第三反射光学器件中的一个或多个可以包括没有对称轴的φ多项式光学表面,并且由取决于径向分量和方位角分量的函数表示。