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1. 发明申请

WO2008064658A3 METHOD FOR TESTING A COMPUTER PROGRAMME 审中-公开
标题翻译：测试计算机程序的方法
公开(公告)号：WO2008064658A3
公开(公告)日：2008-11-20
申请号：PCT/DE2007002146
申请日：2007-11-28
申请人： CERTESS INC , HAMPTON MARK , GROSSE JOERG
发明人： HAMPTON MARK , GROSSE JOERG
IPC分类号： G06F11/36
CPC分类号： G06F17/5081 , G06F11/3688
摘要： The invention relates to a method for testing a computer programme after changing a first version of the computer programme into a second version of the computer programme as a result of updating the computer programme. The method comprises the following steps: (a) determining the mutations which can be installed in the first version of the computer programme and the mutations which can be installed in the second version of the computer programme and (b) comparing the first version of the computer programme with the second version of the computer programme to determine changed and unchanged mutations in the second version relative to the first version, where (b1) the mutations which can only be installed in the first version of the computer programme or only in the second version of the computer programme are classed as changed mutations and (b2) the mutations which can be installed in the first and in the second version are classed as unchanged.
摘要翻译：本发明涉及一种用于在计算机程序的第一版本由于修改计算机程序而改变为第二版本的计算机程序之后测试计算机程序的方法。设想该方法包括以下步骤：（a）确定可以被合并到计算机程序的第一版本中的突变以及可以合并到计算机程序的第二版本中的突变; （b）比较计算机程序的第一版本与计算机程序的第二版本，以确定第一版本中第二版本中的改变的和未改变的突变，其中（b1）计算机程序的第一版本独特的突变或仅在计算机程序的第二版本可以合并，分类为改变的突变; 和（b2）可以合并到第一和第二版本中的突变被分类为未改变的突变。

2. 发明申请

WO2006012867A3 METHOD FOR EVALUATING THE QUALITY OF A COMPUTER PROGRAM 审中-公开
标题翻译：方法评价质量的计算机程序的作者：
公开(公告)号：WO2006012867A3
公开(公告)日：2006-05-26
申请号：PCT/DE2005001340
申请日：2005-07-28
申请人： CERTES S A , GROSSE JOERG , HAMPTON MARK
发明人： GROSSE JOERG , HAMPTON MARK
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5022 , G06F11/008
摘要： The invention relates to a method for evaluating the quality of a computer program that, during execution, the input data and the output data of an integrated circuit are influenced. The method comprises the following steps: (a) preparing a mutated integrated circuit which is obtained by incorporating one or more functional mutations into the (unmutated) integrated circuit; (b) influencing the input data and the output data of the mutated integrated circuit during which the output data of the mutated integrated circuit are recorded; (c) comparing the hereby obtained output data obtained of the mutated integrated circuit with the output data that are expected when influencing the unmutated integrated circuit by the computer program, and; (d) evaluating the quality of the computer program on basis of the comparison results.
摘要翻译：本发明涉及一种方法，用于评估的计算机程序的质量，输入Batenburg和集成电路的输出数据可以在其执行的影响，包括：（a）提供包含未突变通过将在所述一个或多个功能性的突变的突变的集成电路（获得）集成电路; （B）影响所述输入数据和来自所述突变的集成电路的输出数据，从突变的集成电路的输出数据被检测; （C）比较由此获得的输出数据与输出数据，这是由所述计算机程序预期用于影响未突变的集成电路中的突变的集成电路; 和（d）评估所述计算机程序的比较结果的基础上的质量。

3. 发明申请

WO2006012875A3 METHOD FOR EVALUATING A TEST PROGRAM QUALITY 审中-公开
标题翻译：测试计划的评估过程质量
公开(公告)号：WO2006012875A3
公开(公告)日：2006-05-26
申请号：PCT/DE2005001349
申请日：2005-07-28
申请人： CERTESS S A , GROSSE JOERG , HAMPTON MARK
发明人： GROSSE JOERG , HAMPTON MARK
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5022
摘要： The invention relates to a method for evaluating an integrated circuit test program simulated with the aid of a computer and consisting (a) in providing a first file describing an integrated circuit, (b) in simulating a mutant integrated circuit obtainable by introducing mutations into the integrated circuit described at the first stage, (c) in supplying input values to the mutant integrated circuit and detecting output values produced by the mutant integrated circuit for said input values, (d) in comparing the output values produced by the mutant integrated circuit with expected values produced by the test program, wherein said expected values are generated in a reference system and (e) in evaluating the test program quality by means of comparison results.
摘要翻译：本发明涉及一种方法，用于评估测试程序的质量，含有（a）提供其描述集成电路的第一文件的计算机集成电路模拟; 这是通过将突变引入在集成突变集成电路的电路中的第一文件中的所述获得（B）仿真; （C）提供的输入值用于由突变集成电路这些输入值所产生的输出值的突变的集成电路和记录; （D）比较由与由测试程序，其中，所述预期值已经在参考系统中生成提供预期值的突变的集成电路的输出值的产生; 和（e），以评估比较结果的基础上，测试程序的质量。

4. 发明专利

DE102006056432A1 未知
公开(公告)号：DE102006056432A1
公开(公告)日：2008-05-29
申请号：DE102006056432
申请日：2006-11-28
申请人： CERTESS INC
发明人： HAMPTON MARC , GROSSE JOERG
IPC分类号： G06F11/36

5. 发明专利

DE502007003680D1 VERFAHREN ZUM TESTEN EINES COMPUTERPROGRAMMS 未知
公开(公告)号：DE502007003680D1
公开(公告)日：2010-06-17
申请号：DE502007003680
申请日：2007-11-28
申请人： CERTESS INC
发明人： HAMPTON MARK , GROSSE JOERG
IPC分类号： G06F11/36

6. 发明专利

AT467179T 未知
公开(公告)号：AT467179T
公开(公告)日：2010-05-15
申请号：AT07856039
申请日：2007-11-28
申请人： CERTESS INC
发明人： HAMPTON MARK , GROSSE JOERG
IPC分类号： G06F11/36

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