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    • 1. 发明专利
    • 電子検出装置および走査電子顕微鏡
    • 电子检测装置和扫描电子显微镜
    • JP2016126955A
    • 2016-07-11
    • JP2015001343
    • 2015-01-07
    • 日本電子株式会社
    • 山下 健一工藤 政都中村 元弘
    • H01J37/244
    • 【課題】S/Nの良い検出信号を取得可能な電子検出装置を提供する。 【解決手段】二次電子の検知面(受光面)Sを、一次電子線の光軸Oの周りに当該光軸Oと平行になるように形成し、検知面Sの内側に円環状の分光器30を配置する。分光器30の外側に、内面が検知面Sとなるシールド部21を円環状に設け、その外側にシンチレータ部22を円環状に設け、試料から放出される二次電子をシンチレータ部22で光に変換し、シンチレータ部22から放出される光を検出信号として導出する。 【選択図】図2
    • 要解决的问题:提供允许以良好S / N获取检测信号的电子检测装置。解决方案:在一次电子的光轴O周围形成二次电子检测表面(光接收表面)S 光束与光轴O平行,并且环形光谱仪30设置在检测表面S的内侧。在光谱仪30的外侧,具有成为检测表面S的内表面的屏蔽21环形设置, 闪烁体22环形地设置在其外部。 从样品发射的二次电子在闪烁体22中被转换成光,并且从闪烁体22发射的光作为检测信号被引出。图2