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1. 发明专利

JP6032837B2 分析装置有权
公开(公告)号：JP6032837B2
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：JP2012184854
申请日：2012-08-24
申请人：株式会社システムロード
发明人：森田貴彦 , 平尾佳
IPC分类号： G01N35/08 , G01N37/00 , G01N21/78 , G01N35/00

2. 发明专利

JP6474148B2 検査装置有权
公开(公告)号：JP6474148B2
公开(公告)日：2019-02-27
申请号：JP2014196382
申请日：2014-09-26
申请人：国立大学法人香川大学 , 株式会社システムロード
发明人：日下隆 , 平尾佳
IPC分类号： G01N21/49

3. 发明专利

JP2018149019A 体温測定解析装置およびデータ分析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018149019A
公开(公告)日：2018-09-27
申请号：JP2017046456
申请日：2017-03-10
申请人：株式会社システムロード , 平尾佳
发明人：平尾佳
IPC分类号： A61B5/00 , A61B5/01
摘要：【課題】サーカディアンリズムよりも短周期で生じている体温分布の周期的変動を適切に察知して評価することができ、被検者の病態の診断や病態への対応などに有効に利用し得るデータを得ることが可能な体温測定解析装置を提供する。【解決手段】体温測定解析装置Aは、被検者3の身体表面を経時的に撮像可能なサーモグラフィ・カメラ1と、このサーモグラフィ・カメラ1を利用した撮像により得られた複数の熱画像のデータに基づき、被検者3のサーカディアンリズムよりも短周期の現象としての被検者3の体温分布の周期的変動の周波数またはこれに対応するデータを求める処理を実行するデータ処理手段21と、を備えている。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2014044049A Analyzer 有权
标题翻译：分析仪
公开(公告)号：JP2014044049A
公开(公告)日：2014-03-13
申请号：JP2012184854
申请日：2012-08-24
申请人： Systemroad Co Ltd , 株式会社システムロード
发明人： MORITA TAKAHIKO , HIRAO YOSHI
IPC分类号： G01N35/00 , G01N21/78 , G01N35/08 , G01N37/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an analyzer that can appropriately process analysis of a sample even when a chip for analytical use is fitted in a somewhat misaligned state.SOLUTION: An analyzer provided with a chip fitting part 23 to which a chip 1 for analytical use having at least one reaction chamber 12 for causing a coloring reaction to occur between a sample 3 and a reagent 13 is further provided with an area image sensor 25 capable of shooting a greater range than the reaction chamber 12. As data of images shot by the area image sensor 25, data of a main image collectively shot to include the part of coloring reaction and its peripheries can be obtained, and a data processor 28 singles out image data of the part of coloring reaction, and executes an arithmetic operation of concentration on the basis of the singled-out image data.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够适当地处理样品分析的分析器，即使在用于分析用途的芯片处于稍微偏离的状态下也是如此。解决方案：分析仪设置有芯片装配部23，分析用芯片1 使用具有至少一个用于在样品3和试剂13之间发生着色反应的反应室12进一步设置能够比反应室12射出更大范围的区域图像传感器25.作为由反应室12拍摄的图像的数据区域图像传感器25，可以获得共同拍摄以包括部分着色反应及其周边的主图像的数据，并且数据处理器28单独显示部分着色反应的图像数据，并执行浓度的算术运算基于单挑图像数据。

5. 发明专利

JP2021183966A 光学測定方法およびその装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021183966A
公开(公告)日：2021-12-02
申请号：JP2021085433
申请日：2021-05-20
申请人：株式会社システムロード
发明人：森田貴彦
IPC分类号： G01B11/06
摘要：【課題】簡易な構成によって、被測定物の厚みや形状を適切に判断することが可能な光学測定方法を提供する。【解決手段】光照射手段10および光検出手段11と、被測定物5との相互間には、透光部材2を設け、かつ被測定物5の裏面側には、反射面3aを有する反射面形成部材3を設けた構成とし、透光部材2の裏面2aおよび反射面3aからの第1および第2の反射光L1,L2に基づき、透光部材2の裏面2aと反射面3aとの相互間の距離d1を求めるとともに、被測定物5の表面5aにより反射された第3の反射光L3、および第1の反射光L1に基づき、透光部材2の裏面2aと被測定物5の表面5aとの相互間の距離d2を求め、これら距離d1,d2に関するデータに基づき、被測定物5の厚みtxを判断する。【選択図】図1

6. 发明专利

JP6912045B2 膜厚測定方法およびその装置有权
公开(公告)号：JP6912045B2
公开(公告)日：2021-07-28
申请号：JP2019130910
申请日：2019-07-16
申请人：株式会社システムロード
发明人：森田貴彦
IPC分类号： G01B11/06

7. 发明专利

JP2020060567A 光学測定方法およびその装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020060567A
公开(公告)日：2020-04-16
申请号：JP2019186038
申请日：2019-10-09
申请人：株式会社システムロード
发明人：森田貴彦
IPC分类号： G01B11/02
摘要：【課題】簡易な構成により、被測定物の光学的特性を正確かつ迅速に判断することが可能な光学測定方法を提供する。【解決手段】光学測定方法は、複数の光源LSに異なる周波数の強度変調を与え、複数の光源LSのそれぞれから発せられる光を被測定物5に同時に照射する第1のステップと、被測定物5からの反射光または透過光を、検出器6を用いて1チャンネルで受光し、反射光または透過光の強度に関するデータを取得する第2のステップと、前記データにフーリエ変換を施してパワースペクトルを求め、かつこのパワースペクトルに基づき、複数の光源LSのそれぞれから発せられる光に対する被測定物5の特性を判断する第3のステップと、を有している。【選択図】図1

8. 发明专利

JP6309312B2 生化学検査システム有权
公开(公告)号：JP6309312B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2014043772
申请日：2014-03-06
申请人：株式会社ティー・ティー・エム , 株式会社システムロード , 平尾佳
发明人：森田貴彦 , 平尾佳
IPC分类号： G01N35/00
CPC分类号： G01N35/00871 , G01N21/78 , G01N21/8483 , G01N33/48707 , G01N35/00069 , G01N35/00712 , G01N2035/00881

9. 发明专利

JP2020016650A 膜厚測定方法およびその装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020016650A
公开(公告)日：2020-01-30
申请号：JP2019130910
申请日：2019-07-16
申请人：株式会社システムロード
发明人：森田貴彦
IPC分类号： G01B11/06
摘要：【課題】薄膜またはその基材の種類や色に起因する光強度スペクトルのトレンドによる悪影響をなくし、または少なくし、薄膜の厚みを正確に測定することが可能な膜厚測定方法を提供する。【解決手段】薄膜3による干渉光の分光強度を測定する分光強度測定ステップと、前記干渉光の分光強度に関するデータをフーリエ変換し、かつこの変換により得られたパワースペクトルに現れるピークの位置に基づいて薄膜3の厚さtを算出する厚さ算出ステップと、を有する、膜厚測定方法であって、前記干渉光の分光強度のトレンドを求めてこのトレンドの影響を除外または減少させた分光強度補正データを作成するステップをさらに有し、前記厚さ算出ステップにおいては、前記干渉光の分光強度に関するデータとして、分光強度補正データを用い、フーリエ変換の対象とする。【選択図】図4

10. 发明专利

JP2016200498A 光学特性測定用の遮光装置およびこれを備えた光学特性測定システム有权
标题翻译：光学特性测量系统，其包括遮阳装置和该用于测量的光学特性
公开(公告)号：JP2016200498A
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：JP2015080823
申请日：2015-04-10
申请人：株式会社システムロード
发明人：森田貴彦
IPC分类号： G01J1/00 , G01M11/00 , G01J1/06
摘要：【課題】暗室を用いることなく所望の光源の光学特性を適切に測定することが可能な光学特性測定用の遮光装置を提供する。【解決手段】光学特性測定対象の光源Lがセッティングされる光源セッティング装置1および光源Lからの光を受ける受光器2を具備する光学特性測定装置Aと組み合わせて用いられる、光学特性測定用の遮光装置Bであって、光源セッティング装置1と受光器2との相互間に配されて光源セッティング装置1から受光器2に到る光路9の周囲を囲み、かつ光路9への外乱光の進入を阻止する遮光筒状部4を備えており、この遮光筒状部4は、光路9の方向に伸縮可能とされている。【選択図】図1
摘要翻译：至用于适当地测量能够测量所需的光源的光学特性，而无需使用暗室的光学特性提供一种遮阳装置。的测得的光学特性的光源L在与光学特性测量装置组合使用的具有光接收器2从所述光源接收的光设定装置1和光源L被设置，屏蔽，用于测量光学性质装置B，设置在其间所述光源设置装置1和接收器2围绕从光源设置单元1延伸到光接收器2的光路9，和干扰光的进入光路9 具有遮光筒部4，以防止，遮光筒状部4被配置成在光路9的方向伸缩。点域1

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