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    • 2. 发明公开
    • Verfahren zur Wellenlängenkalibration eines Spektrometers
    • Verfahren zurWellenlängenkalibrationeines Spektrometer
    • EP1998155A1
    • 2008-12-03
    • EP07109191.2
    • 2007-05-30
    • Roche Diagnostics GmbHF. Hoffmann-La Roche AG
    • Die Erfindernennung liegt noch nicht vor
    • G01J3/28
    • G01J3/28
    • Die Erfindung betrifft Verfahren zur Wellenlängenkalibration von Spektrometern, insbesondere Sekundärspektrometern, welche vor allem bei Spektrometern größerer Bandbreite deutlich bessere Kalibrationsgenauigkeiten als die herkömmlichen Peaksucheverfahren erzielen.
      Die erfinderischen Verfahren beruhen auf dem Prinzip einer schrittweisen RelativVerschiebung von korrespondierenden Messwertblöcken eines Modell- und Kalibrationsspektrums, wobei bei jedem Verschiebungsschritt ein Korrelationswert berechnet wird. Für jeden Messwertblock wird ein Verschiebungswert ermittelt, bei welchem der Korrelationswert ein Optimum erreicht. Für jeden Messwertblock wird ein Wertepaar, bestehend aus einer Positionsmarkierung des Messwertblocks und dem zugehörigen Verschiebungswert bestimmt. Diese Wertepaare stellen die Stützpunkte für ein Fitting an eine geeignete Zuordnungsfunktion dar. Die so erhaltenen Koeffizienten können direkt als Koeffizienten einer Wellenlängenzuordnung eingesetzt werden oder mit den Koeffizienten einer bestehenden ersten Wellenlängenzuordnung kombiniert werden, indem sie diese beispielsweise ersetzen oder mit den Koeffizienten einer bestehenden ersten Wellenlängenzuordnung verrechnet werden.
    • 该方法包括在二级光谱仪上对与模型光谱的测量值块相对应的校准光谱的测量值块进行切片。 校准谱块相对于模型谱块逐渐移位。 确定位移值。 对模型谱的所有块重复切片和相对位移和位移值确定步骤。 在步骤中获得的一对值拟合到相关函数中。 光谱仪的波长相关性由函数的系数决定。