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    • 6. 发明专利
    • Procedimiento para controlar la resistividad en lingotes hechos de silicio de carga de alimentación compensado
    • ES2377343T3
    • 2012-03-26
    • ES08772195
    • 2008-06-27
    • CALISOLAR INC
    • KIRSCHT FRITZABROSIMOVA VERAHEUER MATTHIASLINKE DIETERRAKOTONIAINA JEANOUNADJELA KAMEL
    • C01B33/26
    • Un procedimiento para controlar la resistividad en la formación de un lingote de silicio, que comprende las etapas de:preparar una carga de alimentación de silicio metalúrgico mejorado y compensado para ser fundida con el fin de formar una fundición de silicio, comprendiendo dicha carga de alimentación de silicio metalúrgico mejorado y compensado un semiconductor predominantemente de tipo p;evaluar las concentraciones de boro y fósforo en dicha carga de alimentación de silicio metalúrgico mejorado y compensado; añadir a dicha carga de alimentación de silicio metalúrgico mejorado y compensado, antes de la fundición, una cantidad predeterminada de un elemento o elementos del grupo que consiste en aluminio, galio, mezclas de aluminio y galio, u otros elementos del Grupo III, en la que dichas concentraciones relativas de boro y fósforo determinan dicha cantidad predeterminada; fundir dicha carga de alimentación de silicio metalúrgico mejorada y dicha cantidad predeterminada de dicho elemento para formar una solución de silicio fundida que incluye dicha cantidad predeterminada de dicho elemento;y realizar una solidificación direccional de dicha solución de silicio fundida para formar un lingote de silicio y, en virtud de dicha adición de dicha cantidad predeterminada de dicho elemento, reducir la pérdida de rendimiento a nivel de un lingote, en virtud de la reducción del efecto de los diferentes coeficientes de segregación de boro y fósforo.
    • 7. 发明专利
    • AT532749T
    • 2011-11-15
    • AT08772195
    • 2008-06-27
    • CALISOLAR INC
    • KIRSCHT FRITZABROSIMOVA VERAHEUER MATTHIASLINKE DIETERRAKOTONIAINA JEANOUNADJELA KAMEL
    • C01B33/26
    • Techniques for controlling resistivity in the formation of a silicon ingot from compensated feedstock silicon material prepares a compensated, upgraded metallurgical silicon feedstock for being melted to form a silicon melt. The compensated, upgraded metallurgical silicon feedstock provides a predominantly p-type semiconductor for which the process assesses the concentrations of boron and phosphorus and adds a predetermined amount of aluminum or/and gallium. The process further melts the silicon feedstock together with a predetermined amount of aluminum or/and gallium to form a molten silicon solution from which to perform directional solidification and, by virtue of adding aluminum or/and gallium, maintains the homogeneity the resistivity of the silicon ingot throughout the silicon ingot. In the case of feedstock silicon leading to low resistivity in respective ingots, typically below 0.4 ©cm, a balanced amount of phosphorus can be optionally added to aluminum or/and gallium. Adding phosphorus becomes mandatory at very low resistivity, typically close to 0.2 ©cm and slightly below.