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1. 发明专利

TWI299790B 用於探針裝置之定位件有权
简体标题：用于探针设备之定位件
公开(公告)号：TWI299790B
公开(公告)日：2008-08-11
申请号：TW094134388
申请日：2005-09-30
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：林信宏 , 尤嘉祥
IPC分类号： G01R
摘要：一種用於探針裝置之定位件,係可較為方便地組裝及定位探針裝置之各探針,不會損壞探針結構;定位件具有多數呈貫穿狀之第一開口,且於各第一開口之周圍設有至少一第二開口,各第二開口係自各第一開口之壁面向外延伸。
简体摘要：一种用于探针设备之定位件,系可较为方便地组装及定位探针设备之各探针,不会损坏探针结构;定位件具有多数呈贯穿状之第一开口,且于各第一开口之周围设有至少一第二开口,各第二开口系自各第一开口之壁面向外延伸。

2. 发明专利

TW200724926A 具保護電路功能之探針卡裝置失效
简体标题：具保护电路功能之探针卡设备
公开(公告)号：TW200724926A
公开(公告)日：2007-07-01
申请号：TW094147337
申请日：2005-12-29
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：顧偉正 , 何志浩
IPC分类号： G01R
摘要：一種具保護電路功能之探針卡裝置,具有一電路板、複數個探針以及一保護體;電路板係佈設有電子電路,並具有上、下相對之二表面,二表面上則設有複數個銲點電性連接於電子電路,其中上表面可區分為一探針區及一測試區,該些探針為對應探針區而設置於下表面銲點上,並用以接觸待測之電子元件;保護體係設於電路板上,具有複數個穿孔對應於測試區的銲點而設置,電氣測試機台係以量測針頭通過該些穿孔與對應之銲點電性連接,可送出量測訊號由電子電路傳送至電子元件,因此藉由該探針卡裝置對電子元件作電性量測。
简体摘要：一种具保护电路功能之探针卡设备,具有一电路板、复数个探针以及一保护体;电路板系布设有电子电路,并具有上、下相对之二表面,二表面上则设有复数个焊点电性连接于电子电路,其中上表面可区分为一探针区及一测试区,该些探针为对应探针区而设置于下表面焊点上,并用以接触待测之电子组件;保护体系设于电路板上,具有复数个穿孔对应于测试区的焊点而设置,电气测试机台系以量测针头通过该些穿孔与对应之焊点电性连接,可送出量测信号由电子电路发送至电子组件,因此借由该探针卡设备对电子组件作电性量测。

3. 发明专利

TWI282429B 積體電路測試卡(二) 有权
简体标题：集成电路测试卡(二)
公开(公告)号：TWI282429B
公开(公告)日：2007-06-11
申请号：TW095103553
申请日：2006-01-27
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：范宏光
IPC分类号： G01R
摘要：一種積體電路測試卡(二)，包含有：一電路板，具有若干之接觸焊點；一探針組件，具有一電訊轉接板及若干之探針，該電訊轉接板可界定出電氣導通之一第一電訊面及一與之相背之第二電訊面，該各探針係電氣導通於該第一電訊面上，該第二電訊面係與該接觸焊點電氣導通；至少一轉向固定組件，具有一調適單元及一作用單元，該調適單元具有一頂撐件及一固接件，該頂撐件係以其一端連接於該第二電訊面，另一端則位在該電路板上，該固接件係夾固於位在該電路板上之頂撐件，該作用單元具有一第一應變塊及一與該第一應變塊相貼接之第二應變塊，係置於該調適單元與該電路板間，當該電訊轉接板與基板之間有平面不平行的歪斜情形時，可藉由該第一應變塊與該第二應變塊發生相互之錯移，使兩平面的角度歪斜誤差所造成的空隙可被補償，進而使頂撐件可被穩固地固接在基板上，而不會受到兩者平面歪斜的影響，由於頂撐件可被確實固接在基板上，使電訊轉接板可被穩固地撐在預定的水平位置，在承受外力時亦不會改變位置或變形。
简体摘要：一种集成电路测试卡(二)，包含有：一电路板，具有若干之接触焊点；一探针组件，具有一电讯转接板及若干之探针，该电讯转接板可界定出电气导通之一第一电讯面及一与之相背之第二电讯面，该各探针系电气导通于该第一电讯面上，该第二电讯面系与该接触焊点电气导通；至少一转向固定组件，具有一调适单元及一作用单元，该调适单元具有一顶撑件及一固接件，该顶撑件系以其一端连接于该第二电讯面，另一端则位在该电路板上，该固接件系夹固于位在该电路板上之顶撑件，该作用单元具有一第一应变块及一与该第一应变块相贴接之第二应变块，系置于该调适单元与该电路板间，当该电讯转接板与基板之间有平面不平行的歪斜情形时，可借由该第一应变块与该第二应变块发生相互之错移，使两平面的角度歪斜误差所造成的空隙可被补偿，进而使顶撑件可被稳固地固接在基板上，而不会受到两者平面歪斜的影响，由于顶撑件可被确实固接在基板上，使电讯转接板可被稳固地撑在预定的水平位置，在承受外力时亦不会改变位置或变形。

4. 发明专利

TW200719115A 可傳遞差動信號對之探針卡失效
简体标题：可传递差动信号对之探针卡
公开(公告)号：TW200719115A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：TW094139174
申请日：2005-11-08
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：顧偉正
IPC分类号： G06F
摘要：一種可傳遞差動信號對之探針卡,包括有一電路板及複數個差動探針,電路板佈設有電子電路,電子電路具有複數條第一及第二導線,第一導線係成對相鄰且周圍設有至少一第二導線,第二導線係電性接地;各差動探針具有二針頭及一同軸線,同軸線包括有二信號線及一套管,二信號線於一端設有各針頭另一端則電性連接於成對相鄰之二第一導線,套管則電性連接於各第二導線,相鄰二第一導線以及與之相連之二信號線係維持相同之阻抗匹配;將各針頭與電子元件電性接觸,則探針卡可傳遞差動信號至電子元件。
简体摘要：一种可传递差动信号对之探针卡,包括有一电路板及复数个差动探针,电路板布设有电子电路,电子电路具有复数条第一及第二导线,第一导线系成对相邻且周围设有至少一第二导线,第二导线系电性接地;各差动探针具有二针头及一同轴线,同轴线包括有二信号线及一套管,二信号线于一端设有各针头另一端则电性连接于成对相邻之二第一导线,套管则电性连接于各第二导线,相邻二第一导线以及与之相连之二信号线系维持相同之阻抗匹配;将各针头与电子组件电性接触,则探针卡可传递差动信号至电子组件。

5. 发明专利

TWI274162B 具保護電路功能之探針卡裝置失效
简体标题：具保护电路功能之探针卡设备
公开(公告)号：TWI274162B
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：TW094147337
申请日：2005-12-29
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：顧偉正 , 何志浩
IPC分类号： G01R
摘要：一種具保護電路功能之探針卡裝置，具有一電路板、複數個探針以及一保護體；電路板係佈設有電子電路，並具有上、下相對之二表面，二表面上則設有複數個銲點電性連接於電子電路，其中上表面可區分為一探針區及一測試區，該些探針為對應探針區而設置於下表面銲點上，並用以接觸待測之電子元件；保護體係設於電路板上，具有複數個穿孔對應於測試區的銲點而設置，電氣測試機台係以量測針頭通過該些穿孔與對應之銲點電性連接，可送出量測訊號由電子電路傳送至電子元件，因此藉由該探針卡裝置對電子元件作電性量測。
简体摘要：一种具保护电路功能之探针卡设备，具有一电路板、复数个探针以及一保护体；电路板系布设有电子电路，并具有上、下相对之二表面，二表面上则设有复数个焊点电性连接于电子电路，其中上表面可区分为一探针区及一测试区，该些探针为对应探针区而设置于下表面焊点上，并用以接触待测之电子组件；保护体系设于电路板上，具有复数个穿孔对应于测试区的焊点而设置，电气测试机台系以量测针头通过该些穿孔与对应之焊点电性连接，可送出量测信号由电子电路发送至电子组件，因此借由该探针卡设备对电子组件作电性量测。

6. 发明专利

TWI261890B 微接觸元件及其製造方法有权
简体标题：微接触组件及其制造方法
公开(公告)号：TWI261890B
公开(公告)日：2006-09-11
申请号：TW094102382
申请日：2005-01-26
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：陳志忠 CHEN, CHIN CHUNG
IPC分类号： H01L
摘要：一種微接觸元件及其製造方法，其步驟包含有：在一表面不具導電性之基板上成形一導電薄膜；在該導電薄膜上成形出一具圖形化開口之遮蔽層；在該遮蔽層之開口中沈積一導電材料；去除遮蔽層；去除導電薄膜，使由導電材料所製成之微接觸元件與基板分離。
简体摘要：一种微接触组件及其制造方法，其步骤包含有：在一表面不具导电性之基板上成形一导电薄膜；在该导电薄膜上成形出一具图形化开口之屏蔽层；在该屏蔽层之开口中沉积一导电材料；去除屏蔽层；去除导电薄膜，使由导电材料所制成之微接触组件与基板分离。

7. 发明专利

TWI261672B 彈性微接觸元件及其製造方法失效
简体标题：弹性微接触组件及其制造方法
公开(公告)号：TWI261672B
公开(公告)日：2006-09-11
申请号：TW094107948
申请日：2005-03-15
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：陳志忠 CHEN, CHIN CHUNG
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R3/00 , G01R1/06722 , G01R1/06733
摘要：一種彈性微接觸元件及其製造方法，該彈性微接觸元件係以微機電技術所製成，該彈性微接觸元件包含有：一彈簧體，具導電性，並具有預定之拉伸預度，該彈簧體可界定出一第一端及一背向該第一端之第二端，且位於該第一端之彈簧體側邊上，形成有至少一與外界固接之接點；一針體，具導電性，係以其一端與該彈簧體之第二端緣連接，另一端則直立位於該第一端外；該針尖體，呈錐狀，具導電性，係以其底面與位於彈簧體第一端外之針體自由端連接；藉此當該針尖體受外力所壓抵時，會連動該針體拉動該彈簧體之第二端，使該彈簧體產生拉伸之變形。
简体摘要：一种弹性微接触组件及其制造方法，该弹性微接触组件系以微机电技术所制成，该弹性微接触组件包含有：一弹簧体，具导电性，并具有预定之拉伸预度，该弹簧体可界定出一第一端及一背向该第一端之第二端，且位于该第一端之弹簧体侧边上，形成有至少一与外界固接之接点；一针体，具导电性，系以其一端与该弹簧体之第二端缘连接，另一端则直立位于该第一端外；该针尖体，呈锥状，具导电性，系以其底面与位于弹簧体第一端外之针体自由端连接；借此当该针尖体受外力所压抵时，会连动该针体拉动该弹簧体之第二端，使该弹簧体产生拉伸之变形。

8. 发明专利

TW200628803A 垂直式探針卡失效
简体标题：垂直式探针卡
公开(公告)号：TW200628803A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：TW094103275
申请日：2005-02-02
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：洪文興 HENDRA SUDINID
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/06716
摘要：一種垂直式探針卡，包含有一電路板以及一針組；針組具有一基部與若干探針，各探針係設於基部，且電性連接於電路板；各探針具有一中間部以及一針尖部，中間部係設於基部與針尖部之間，中間部之彈性係數小於基部之彈性係數，使針尖部抵接於一待測物時，中間部係相對於基部呈彎曲狀。
简体摘要：一种垂直式探针卡，包含有一电路板以及一针组；针组具有一基部与若干探针，各探针系设于基部，且电性连接于电路板；各探针具有一中间部以及一针尖部，中间部系设于基部与针尖部之间，中间部之弹性系数小于基部之弹性系数，使针尖部抵接于一待测物时，中间部系相对于基部呈弯曲状。

9. 发明专利

TW200628800A 懸臂式探針审中-公开
简体标题：悬臂式探针
公开(公告)号：TW200628800A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：TW094103724
申请日：2005-02-04
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：洪文興 HENDRA SUDIN
IPC分类号： G01R
摘要：一種懸臂式探針，包含有一固定部，以及一連結於固定部之桿件，桿件之彈性係數與固定部之彈性係數不同；藉此，本發明可增加探針結構之彈性，減少探針發生疲勞破壞的情形。
简体摘要：一种悬臂式探针，包含有一固定部，以及一链接于固定部之杆件，杆件之弹性系数与固定部之弹性系数不同；借此，本发明可增加探针结构之弹性，减少探针发生疲劳破坏的情形。

10. 发明专利

TWI255521B 探針卡失效
简体标题：探针卡
公开(公告)号：TWI255521B
公开(公告)日：2006-05-21
申请号：TW094100577
申请日：2005-01-07
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN
IPC分类号： H01L , G01R
摘要：一種探針卡，包含有一電路板、一間隔件、至少一跳線板，以及一針組；電路板具有一配線禁止區，以及一定位孔，間隔件係設於定位孔，各跳線板具有若干電性連接點，各跳線板係接合於定位孔之孔壁與間隔件之間，各電性連接點可用以電性連接於電路板，而針組具有若干探針，針組係設於間隔件，使各探針之一端用以電性連接於一待測物，而另一端則可電性連接於跳線板之其中一電性連接點。
简体摘要：一种探针卡，包含有一电路板、一间隔件、至少一跳线板，以及一针组；电路板具有一配线禁止区，以及一定位孔，间隔件系设于定位孔，各跳线板具有若干电性连接点，各跳线板系接合于定位孔之孔壁与间隔件之间，各电性连接点可用以电性连接于电路板，而针组具有若干探针，针组系设于间隔件，使各探针之一端用以电性连接于一待测物，而另一端则可电性连接于跳线板之其中一电性连接点。

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