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    • 83. 发明申请
    • 향상된 물리하향링크제어채널영역을 검색하는 방법
    • 搜索增强型物理下行链路控制信道区域的方法
    • WO2012165877A2
    • 2012-12-06
    • PCT/KR2012/004304
    • 2012-05-31
    • 엘지전자 주식회사장지웅정재훈
    • 장지웅정재훈
    • H04J11/00H04B7/26
    • H04L5/0053H04L1/0026H04L1/0046H04L1/1671
    • 본 발명은 향상된 물리하향링크제어채널(E-PDCCH)을 검색하는 방법들 및 이를 지원하는 장치들을 개시한다. 본 발명의 일 실시예로서 무선접속시스템에서 향상된 물리하향링크제어채널 (E-PDCCH)을 검색하는 방법은, 제어채널영역을 블라인드 디코딩하여 레거시 물리하향링크제어채널 (PDCCH)을 검색하는 단계와 검색한 레거시 PDCCH를 기반으로 상기 E-PDCCH를 검색하는 단계를 포함할 수 있다. 이때, 레거시 PDCCH는 E-PDCCH가 할당되는 서브프레임에서는 항상 해당 서브프레임의 첫 번째 심볼부터 세 번째 심볼 모두를 사용하여 할당되는 것이 바람직하다.
    • 本发明涉及用于搜索增强物理下行链路控制信道(E-PDCCH)的方法以及用于支持该方法的设备。 根据本发明的一个实施例,一种用于在无线接入系统中搜索增强物理下行链路控制信道(E-PDCCH)的方法可以包括以下步骤:对控制信道区域执行盲解码并搜索传统物理下行链路 控制信道(PDCCH); 以及基于所搜索的传统PDCCH搜索E-PDCCH。 在这种情况下,在分配了E-PDCCH的子帧中,使用从第一符号到第三符号的子帧的全部符号总是优选用于传统PDCCH的分配。
    • 84. 发明申请
    • 주사탐침열현미경 및 이를 이용한 온도 프로파일링 방법
    • 扫描热显微镜及其使用温度分布的方法
    • WO2012165791A2
    • 2012-12-06
    • PCT/KR2012/004007
    • 2012-05-21
    • 고려대학교 산학협력단권오명정재훈김경태황광석
    • 권오명정재훈김경태황광석
    • G01Q60/58
    • G01Q60/58
    • 본 발명은 시편을 주사(scanning)하여 시편의 정량적 온도, 열적 특성 등을 프로파일링할 수 있는 주사탐침열현미경 및 이를 이용한 온도 프로파일링 방법에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 시편을 주사할 수 있는 첨단을 갖는 탐침; 상기 탐침 첨단이 활성모드로 구동될 수 있도록 상기 탐침 첨단을 가열하는 구동 전원부; 상기 탐침 첨단이 상기 시편에 접촉된 상태인 접촉모드 및 상기 시편으로부터 유격된 상태인 비접촉모드로 각각 구동될 수 있도록 상기 탐침 첨단 높이 위치를 제어하는 구동 기구부; 상기 탐침 첨단이 활성모드 또는 비 활성모드로 구동되어 접촉모드, 비접촉모드에서 각각 시편을 주사할 수 있도록 상기 구동 전원부 및 상기 구동 기구부를 제어하는 제어부; 상기 시편의 주사로 인해 상기 탐침 첨단에 생성된 열전전압으로부터 상기 시편의 온도를 계측하는 시편 온도 계측부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 주사탐침열현미경 및 이를 이용한 온도 프로파일링 방법을 제시할 수 있다.
    • 本发明涉及通过扫描样品来分析样品的定量温度和热特性的扫描热显微镜以及使用其的温度分布方法。 特别地,本发明的扫描热显微镜包括:具有用于扫描样品的尖端的探针; 驱动电源单元,用于加热探针的尖端,以将探头的尖端驱动到主动模式; 用于控制探针的尖端的高度位置的驱动机构,以便将探针的尖端驱动到探针的尖端接触样品并且进入非接触模式的接触模式, 其中探针的尖端与样品间隔开; 控制单元,用于通过将探头的尖端驱动到活动模式或被动模式中来控制驱动电源单元和驱动机构,以便在接触模式和非接触模式中的每一个中扫描样本; 以及采样温度测量单元,用于利用由于样品的扫描而在探针的尖端处产生的热电电压来测量样品的温度。