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    • 81. 发明申请
    • 情報記録再生方法
    • 信息记录/复制方法
    • WO2003036640A1
    • 2003-05-01
    • PCT/JP2002/010974
    • 2002-10-23
    • 松下電器産業株式会社神田 宏増田 英司
    • 神田 宏増田 英司
    • G11B20/10
    • G11B27/105G11B20/10527G11B20/12G11B2020/1062
    • An information recording/reproduction method in which when performing data recording or reproduction, data is temporarily stored in a memory for performing recording or reproduction. The data stored in the memory is divided and recorded or reproduced. After this, data is recorded or reproduced without dividing the data. After the data stored in the memory is recorded or reproduced without being divided, data is divided for recording or reproduction. Thus, in a disc apparatus for recording or reproducing video data on a disc, the data stored in the memory is recorded or reproduced without being divided and after this, when performing recording or reproduction next, there is no need of wait for one turn, thereby improving the lowering of the recording/reproduction execution time and optimizing the data recording/reproduction execution time.
    • 一种信息记录/再现方法,其中当执行数据记录或再现时,将数据临时存储在用于执行记录或再现的存储器中。 存储在存储器中的数据被分割和记录或再现。 之后,数据被记录或再现,而不分割数据。 在存储器中存储的数据被记录或再现而不被分割之后,数据被划分用于记录或再现。 因此,在用于在盘上记录或再现视频数据的盘装置中,存储在存储器中的数据被记录或再现而不被划分,此后,当执行下一步的记录或再现时,不需要等待一匝, 从而改善了记录/再现执行时间的降低和数据记录/再现执行时间的优化。
    • 85. 发明申请
    • 移相器およびアンテナ
    • 相变器和天线
    • WO2008081807A1
    • 2008-07-10
    • PCT/JP2007/074932
    • 2007-12-26
    • 松下電器産業株式会社桐野 秀樹小川 晃一
    • 桐野 秀樹小川 晃一
    • H01P1/18H01Q3/36
    • H01P1/182H01Q3/32
    •  低損失な機械式移相器、および低損失な指向特性が可変なアンテナを提供する。  1/4波長の奇数倍高の柱状導体によるワッフルアイアン導体板(104)を用いた2次元導波路(100a)内に放射器(106)から高周波信号を入出力し、断面積の小さい柱状導体(107)と断面積の大きい柱状導体(108)を、放射器(106)前面に入替わるよう導体板(104)を動かすことで低損失で移相変化量の大きい反射型移相素子を実現する。さらに反射型移相素子を2次元導波路外側の給電回路層(109)に設けたハイブリッドカプラ(110R)、(100L)と組合せて低損失な通過型移相器(112R)、(112L)を実現する。また通過型移相器(112R)、(112L)を用いて低損失な指向特性が可変なアンテナを実現する。
    • 提供了一种低损耗的机械式移相器和具有低损耗的可变指令特性的天线。 通过将散热器(106)的高频信号输入/输出到二维波导(100a)的内部,使用华夫饼实现低损耗和大的相移变化的反射型移相元件 铁导体板(104),其具有高度高四分之一波长的奇数的棱柱形导体,并且通过使导体板(104)移动,使得具有较小截面积的棱柱形导体(107)和棱柱形导体( 108)具有更大的截面面积可以在散热器(106)的前表面上彼此替换。 此外,通过将反射型移相元件与布置在外部的馈电电路层(109)中的混合耦合器(110R)和(100L)组合来实现低损耗的透射型移相器(112R)和(112L) 侧面的二维波导。 此外,通过使用发送型移相器(112R)和(112L)来实现低损耗的可变指令特性的天线。
    • 86. 发明申请
    • パルス変換回路、半導体集積回路、及び電子機器
    • 脉冲转换电路,半导体集成电路和电子器件
    • WO2008041447A1
    • 2008-04-10
    • PCT/JP2007/067479
    • 2007-09-07
    • 松下電器産業株式会社相馬 康人加藤 伸悦北平 尚丈
    • 相馬 康人加藤 伸悦北平 尚丈
    • H03F3/217
    • H03F3/217
    •  本発明の電子機器(11)は、ラジオ受信部(13)が受信した音響信号をパルス信号に変換するパルス変換回路(17)を集積する半導体集積回路(16)を備える。パルス変換回路(17)は、複数のクロックを発生し、ラジオ受信部(13)の受信周波数に応じて、ワードクロック(210、211)を選択して出力するクロック発生部(110)と、A/D変換された音響信号のサンプル列をワードクロック(210)と同じ周波数になるように標本化周波数変換するFSC(111)と、FSC(111)が出力するサンプル列をワードクロック(211)でノイズシェーピング処理するノイズシェーパー(112)と、ワードクロック(211)を用いてノイズシェーパー(112)の出力からパルス信号を生成するPWM変調部(113)とを備えるので、パルス信号によりスピーカを駆動する際、パルス信号によるラジオ受信妨害を回避することができる。
    • 电子设备(11)设置有半导体集成电路(16),其集成了用于将由无线电接收部分(13)接收的声信号转换为脉冲信号的脉冲转换电路(17)。 脉冲转换电路(17)具有时钟产生部(110),产生多个时钟,选择并输出与无线电接收部(13)的接收频率对应的字时钟(210,211)。 用于执行采样频率转换的FSC(111),使得A / D转换的声信号的采样行具有与字时钟(210)相同的频率; 噪声整形器(112),用于通过字时钟(211)对从FSC(111)输出的采样行进行噪声整形; 以及用于通过使用字时钟(211)从噪声整形器(112)的输出产生脉冲信号的PWM调制部分(113)。 因此,在用脉冲信号驱动扬声器时,消除了由于脉冲信号引起的无线电接收干扰。
    • 87. 发明申请
    • 周辺機器装置、周辺機器装置の集積回路、および周辺機器装置の不良解析方法
    • 外围设备,用于外围设备的集成电路和用于分析外围设备故障的方法
    • WO2008016136A1
    • 2008-02-07
    • PCT/JP2007/065245
    • 2007-08-03
    • 松下電器産業株式会社山本 和司
    • 山本 和司
    • G06F11/22
    • G11B19/048G11B20/1816G11B2220/2537
    •  本発明の周辺機器装置は、インタフェースケーブル(3)を介してコンピュータ(200)と接続され、周辺機器装置(100)とその集積回路(400)の評価プログラム(22)を記憶する第2の記憶装置(13)と、コンピュータ(200)から送信される、モード指示信号がテストモードを示すのか、通常モードを示すのかを検出する検出部(10)と、モード指示信号がテストモードを示すことを検出部(10)が検出すると、第2の記憶装置(13)上の評価プログラム(22)を起動する起動手段(15)とを備えることを特徴とする。これにより、周辺機器装置に集積回路を実装した状態で、周辺機器装置とその集積回路を不良解析できる、周辺機器装置とその集積回路、および周辺機器装置の不良解析方法を提供することができる。
    • 外围设备具有第二存储设备(13),其通过接口电缆(3)连接到计算机(200),用于存储外围设备(100)的评估程序(22)和集成电路( 400); 检测部(10),其检测从计算机(200)发送的模式指示信号是否表示测试模式或正常模式; 以及启动装置(15),当所述检测部(10)检测到所述模式指示信号表示测试模式时,启动所述第二存储装置(13)的评估程序(22)。 因此,周边设备,外围设备的集成电路以及用于分析外围设备的故障的方法被设置为允许外围设备和外围设备的集成电路的故障处于集成电路为 安装在外围设备上。
    • 90. 发明申请
    • 半導体装置、及び半導体装置の検査方法
    • 用于检查半导体器件的半导体器件和方法
    • WO2007102257A1
    • 2007-09-13
    • PCT/JP2006/322591
    • 2006-11-13
    • 松下電器産業株式会社木内 崇文
    • 木内 崇文
    • H01L21/66
    • G01R31/2856
    •  第1、第2の電源供給パッド(12a,12b)に供給された電圧は、第1、第2の電源供給ライン(16a,16b)により第1、第2のアナログスイッチ(13a,13b)を介して第1~第6の電源端子(15a~15f)に供給されウエハ状態で一括バーンインが実施されるが、前の工程で不良判定された半導体装置に対しては、入力許容範囲外の電圧を印加し電気ヒューズ(11)を切断することで、電気ヒューズ(11)と、第1、第2のアナログスイッチ(13a,13b)との間のアナログスイッチ制御信号(14)の信号ラインに設けられたプルダウン抵抗(17)により、アナログスイッチ制御信号(14)の論理を固定し、第1、第2のアナログスイッチ(13a,13b)の論理をも一意に決定し、良品に対してのみバーンインを実施することができ、複数の半導体装置をウエハ状態で同時に検査することができる半導体装置及びその検査方法を提供する。
    • 提供给第一和第二电源焊盘(12a,12b)的电压通过第一和第二模拟开关(13a,13b)由第一和第二电源线(16a,16b)提供给第一至第六电源端子(15a-15f) ),并且在晶片状态下批量进行老化。 对于已经被判定为不合格的半导体器件,施加输入允许范围之外的电压并断开保险丝(11)。 因此,模拟开关控制信号(14)的逻辑由布置在熔丝(11)与第一和第二模拟开关(14)之间的模拟开关控制信号(14)的信号线上的下拉电阻(17)固定, (13a,13b),第一和第二模拟开关(13a,13b)的逻辑也被确定为处于一个状态,并且只对符合产品执行老化。 因此,提供了可以在晶片状态下同时批量检查的半导体器件以及用于检查这种半导体器件的方法。