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71. 发明专利

JP2018534229A 焼成珪藻土製品及び融剤焼成珪藻土製品の鉱物特性を決定する方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018534229A
公开(公告)日：2018-11-22
申请号：JP2018520488
申请日：2016-06-16
申请人：イーピーミネラルス,エルエルシー
发明人：ピーターイー.レンズ , スコットケー.パルム , ジョージエー.ニャメクイエ , ブラッドレイエス.ハンフレイス , クンワング
IPC分类号： G01N23/207 , G01N21/27 , G01J3/50 , C01B33/12
CPC分类号： B01J20/14 , G01N23/207 , G01N2223/605 , G01N2223/616
摘要：珪藻土を含む製品のオパール-C及びクリストバライト含有量を決定する方法が開示される。本方法は、熱処理を行って、該製品の試料の代表的な第一の部分の強熱減量を決定すること;該試料の代表的な第二の部分に対する原末X線回折から得られる第一の回折パターン中に存在する第一及び第二のピークを同定及び定量すること;並びにクリストバライトの既知の標準試料を用いて、該第一の回折パターン中に存在する第一及び第二のピークが該製品中のオパール-C又はクリストバライトの存在を示すかどうかを決定することを含み得る。【選択図】図1

72. 发明专利

JP2016161578A 定量X線分析方法及びマルチ光路機器审中-公开
标题翻译：量化X射线分析方法和多光路径仪
公开(公告)号：JP2016161578A
公开(公告)日：2016-09-05
申请号：JP2016039692
申请日：2016-03-02
申请人：パナリティカルビーヴィ
发明人：ペトロネラエメレンティアナハーヘマン , フスターフクリスティアンブロンズ , アレクサンデルコメルコフェ , ブルノアー.エル. フレボス , ヴェルザラスファンデンホーヘンホフ , チャラランポスザーカダス
IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/22 , G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/616 , G01N2223/624
摘要：【課題】蛍光X線分析において、必要な精度と正確度を維持しつつ、測定時間を短くする。【解決手段】本装置は、X線源10と,X線を検出する波長分散型蛍光X線分析(XRF)用の検出器12とエネルギ−分散型蛍光X線分析用検出器を備える。前記2つの蛍光X線分析の検出器のうちの1つを使用して測定するのに比較して、或いは、波長分散型蛍光X線分析で小さい原子数の元素を測定し、エネルギ−分散型蛍光X線光分析で原子番号の大きい元素を測定するのに比較して、全体の測定時間が短くなるように、波長分散型蛍光X線分析を使用して選択された元素について測定する。上記の選択は、特にエネルギ−分散型蛍光X線分析の結果に基づいて、動的に行うことができる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：为了减少X射线荧光分析所需的测量时间，同时保持所需的精度和准确度。本发明的装置包括X射线源10，检测器X，用于检测波长的X射线分散X射线荧光（XRF）分析和能量色散X射线荧光分析检测器。与仅使用两个用于X射线荧光分析的检测器之一的情况相比，使用（检测器）波长色散X射线荧光分析来测量所选择的元件，以减少总体测量时间，或者（检测器用于）波长色散X射线荧光分析用于测量低原子数元素，（检测器）能量色散X射线荧光分析用于测量高原子数元素。选择可以动态进行，特别是基于能量色散X射线荧光分析的结果。选择图：图1

73. 发明专利

JP5954703B2 圧力容器有权
公开(公告)号：JP5954703B2
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：JP2012081782
申请日：2012-03-30
申请人：国立研究開発法人海洋研究開発機構 , 東レ株式会社 , サカイ・コンポジット株式会社 , 株式会社大和工業
发明人：伊藤久男 , 加藤和政 , 越智寛 , 細川直史 , 萩田裕久 , 河内重和
IPC分类号： F16J13/12 , F16J12/00
CPC分类号： F16J12/00 , F16J13/12 , G01N23/04 , G01N23/20041 , G01N3/12 , G01N33/24 , G01N2223/616

74. 发明专利

JP2013156172A X-ray inspection apparatus 审中-公开
标题翻译： X射线检查装置
公开(公告)号：JP2013156172A
公开(公告)日：2013-08-15
申请号：JP2012017452
申请日：2012-01-31
申请人： X-Ray Precision Inc , 株式会社エックスレイプレシジョン
发明人： HOSOKAWA YOSHINORI
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04 , G01N23/087 , G01N2223/6113 , G01N2223/616
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray inspection apparatus capable of quickly, highly accurately and non-destructively measuring a shape and a content of gold (Au) contained in an inspection target.SOLUTION: An X-ray inspection apparatus 1 includes: an X-ray generator 4 for applying an X-ray of 90 keV or more to an inspection target W; X-ray detectors 6, 7 for detecting the X-ray passed through the inspection target W; and an operation part 8 for measuring a shape and a content of Au contained in the inspection target W on the basis of X-ray signals detected by the X-ray detectors 6, 7. An Au filter 6 and a Pt filter 7 are respectively arranged between the X-ray detectors 6, 7 and the inspection target W, the X-ray detectors 6, 7 respective detect an X-ray irradiated from the X-ray generator 4 and transmitted through the inspection target W and the Au filter 6 and an X-ray irradiated from the X-ray generator 4 and transmitted through the inspection target W and the Pt filter 7, and the operation part 8 measures a shape and a content of Au contained in the inspection target W on the basis of respective X-ray signals.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够快速，高精度和非破坏性地测量检查对象物中所含的金（Au）的形状和含量的X射线检查装置。解决方案：X射线检查装置1包括：用于将90keV以上的X射线施加到检查对象W的X射线发生器4; 用于检测通过检查对象W的X射线的X射线检测器6,7; 以及用于基于由X射线检测器6,7所检测的X射线信号测量检查对象W中包含的Au的形状和含量的操作部8，Au滤波器6和Pt滤波器7分别配置在X射线检测器6,7之间和检查对象物W之间，X射线检测器6,7分别检测从X射线发生器4照射的X射线，透过检查对象物W和Au滤光片6 以及从X射线发生器4照射并透过检查对象物W和Pt滤光片7的X射线，操作部8基于各自的测量对测定对象物W的形状和含量进行测定 X射线信号。

75. 发明公开

EP3365100A1 METHODS OF DETERMINING THE MINERALOGY OF CALCINED AND FLUX-CALCINED DIATOMITE PRODUCTS 审中-公开
公开(公告)号：EP3365100A1
公开(公告)日：2018-08-29
申请号：EP16857919.1
申请日：2016-06-16
申请人： EP Minerals, LLC
发明人： LENZ, Peter E. , PALM, Scott K. , NYAMEKYE, George A. , HUMPHREYS, Bradley S. , WANG, Qun
IPC分类号： B01J6/00 , B01J20/14 , C04B14/08 , G01N23/20
CPC分类号： B01J20/14 , G01N23/207 , G01N2223/605 , G01N2223/616
摘要： A method of determining opal-C and cristobalite contents of a product that comprises diatomite is disclosed. The method may comprise performing thermal processing to determine a loss on ignition for a representative first portion of a sample of the product; identifying and quantifying primary and secondary peaks present in a first diffraction pattern that results from bulk powder X-ray Diffraction on a representative second portion of the sample; and using a known standard sample of cristobalite to determine whether the primary and secondary peaks present in the first diffraction pattern indicate the presence of opal-C or cristobalite in the product.

76. 发明公开

EP3111201A1 ALIGNMENT MARKING FOR ROCK SAMPLE ANALYSIS 审中-公开
标题翻译： AUSRICHTUNGSMARKIERUNG ZUR GESTEINSPROBENANALYSE
公开(公告)号：EP3111201A1
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：EP15708958.2
申请日：2015-02-17
申请人： Weatherford Technology Holdings, LLC
发明人： HOOGHAN, Kultaransingh
IPC分类号： G01N23/225 , G01N1/32
CPC分类号： H01J37/20 , G01N1/32 , G01N23/2251 , G01N23/2255 , G01N2223/616 , H01J37/28 , H01J2237/08 , H01J2237/202 , H01J2237/3174 , H01J2237/31749
摘要： A method for using a Focused Ion Beam and/or Scanning Electron Microscope (FIB/SEM) for etching one or more alignment markers (210, 230) on a rock sample (200), the one or more alignment markers (210, 230) being etched on the rock sample (200) using the FIB/SEM. The one or more alignment markers (210, 230) may further be filled with a platinum alloy or other suitable compositions for increasing alignment marker contrast.
摘要翻译：使用聚焦离子束和/或扫描电子显微镜（FIB / SEM）蚀刻岩石样品上的一个或多个对准标记的方法，使用FIB / SEM在岩石样品上蚀刻一个或多个对准标记。一个或多个对准标记可以进一步用铂合金或其它合适的组合物沉积，以增加对准标记的可视性。

77. 发明公开

EP3047260A2 FRONT-LOADING SAMPLE PREPARATION APPARATUS AND METHODS THEREOF 有权
标题翻译：前装样品制备装置及方法
公开(公告)号：EP3047260A2
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：EP14786810.3
申请日：2014-09-18
申请人： FLSmidth A/S
发明人： BRUZENAK, Lukas , MELEG, Vladimir
IPC分类号： G01N23/20 , G01N1/28
CPC分类号： G01N23/2005 , G01N1/286 , G01N2223/056 , G01N2223/307 , G01N2223/312 , G01N2223/616
摘要： Disclosed, is a sample preparation apparatus which is configured to prepare a material sample suitable for X-ray diffraction. The apparatus comprises a dished sample holder bottom configured to fit within an annular sample holder. The dished sample holder bottom has a concave dished surface which is adapted to distribute sample material under pressing forces. A method of preparing a material sample suitable for X-ray diffraction is also disclosed. The method comprises dosing a dished sample holder bottom which is configured to fit within an annular sample holder with sample material, wherein the dished sample holder bottom preferably has a concave dished surface which is adapted to distribute sample material under pressing forces.

78. 发明公开

EP2990783A1 Method and system for performing EDS analysis 有权
标题翻译： Verfahren und System zurDurchführungeiner EDS-Analyze
公开(公告)号：EP2990783A1
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：EP14002994.3
申请日：2014-08-29
申请人： Carl Zeiss Microscopy Ltd.
发明人： Hill, Edward
IPC分类号： G01N23/225
CPC分类号： G01N23/2252 , G01N2223/402 , G01N2223/616 , G01N2223/66
摘要： A method of X-ray Energy Dispersive Spectroscopic (EDS) analysis comprises: providing (101) a first set of materials and associated material data, wherein each material data represent properties of the associated material; directing (103) an electron beam to a plurality of locations on a sample and recording an energy dispersive x-ray spectrum associated with each of the plurality of locations; processing (105) each location of the plurality of locations by: assigning a material of the first set of materials to the processed location, if a first similarity criterion determined based on the energy dispersive x-ray spectrum associated with the processed location and the first set of material data is fulfilled (133); and then determining (109) a first group of locations which do not have the material of the first set of materials assigned; and processing (113) locations of the first group of locations by determining a second group of locations which have the material of the first set of materials assigned and which fulfil a first proximity criterion relative to the processed location; and assigning at least one material of the first set of materials to the processed location based on the materials assigned to the locations of the second group of locations. In other words, it is provided a method for X-ray material identification using energy dispersive spectroscopy and a library of reference X-ray spectra of known materials. Data points which cannot be identified from the library, thereby declared "unassigned", are identified based on identified data points which are in close proximity with them.
摘要翻译： X射线能量分散光谱（EDS）分析的方法包括：提供（101）第一组材料和相关材料数据，其中每个材料数据表示相关材料的性质; 将电子束引导（103）到样品上的多个位置并记录与所述多个位置中的每一个相关联的能量色散X射线谱; 通过以下方式来处理（105）多个位置的每个位置：如果基于与处理的位置相关联的能量色散x射线谱确定的第一相似性标准和第一个一套材料数据被满足（133）; 然后确定（109）不具有分配的第一组材料的材料的第一组位置; 以及通过确定第二组位置来处理（113）所述第一组位置的位置，所述第二组位置具有被分配的第一组材料的材料，并且相对于处理的位置实现第一接近标准; 以及基于分配给所述第二组位置的位置的材料，将所述第一组材料的至少一种材料分配给所述经处理的位置。换句话说，提供了使用能量色散光谱的X射线材料识别方法和已知材料的参考X射线光谱库。根据与它们非常接近的所识别的数据点，识别从库中无法识别的数据点，从而声明为“未分配”。

79. 发明公开

EP2739408A4 PROCESSING MINED MATERIAL 审中-公开
标题翻译：加工除去的材料
公开(公告)号：EP2739408A4
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：EP12820629
申请日：2012-08-06
申请人： TECH RESOURCES PTY LTD
发明人： KINGMAN SAMUEL , DIMITRAKIS GEORGIOS , DODDS CHRISTOPHER , WELLWOOD GRANT ASHLEY
IPC分类号： B07C5/34 , G01N21/00 , G01N22/00 , G01N25/00 , G01N33/24
CPC分类号： B07B13/003 , B07B13/16 , B07B13/18 , B07C5/3425 , B07C5/367 , G01N21/359 , G01N21/85 , G01N22/00 , G01N33/24 , G01N2021/8592 , G01N2223/616 , G21K5/08

80. 发明公开

EP2289046A1 IMAGE DATA PROCESSING 审中-公开
标题翻译：图像数据处理
公开(公告)号：EP2289046A1
公开(公告)日：2011-03-02
申请号：EP09749346.4
申请日：2009-05-22
申请人： The Australian National University
发明人： VARSLOT, Trond, Karsten , KINGSTON, Andrew, Maurice , SHEPPARD, Adrian, Paul , KNACKSTEDT, Mark, Alexander , SOK, Robert, Martin , LATHAM, Shane, Jamie
IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/00 , G06T17/00
CPC分类号： G06T7/0026 , E21B47/0002 , G01N15/088 , G01N23/046 , G01N23/2251 , G01N33/241 , G01N2015/0846 , G01N2223/071 , G01N2223/401 , G01N2223/616 , G06T7/30 , G06T17/30 , G06T2207/10081 , G06T2207/20016 , G06T2207/30108 , G06T2207/30181
摘要： A method for processing image data of a sample is disclosed. The method comprises registering a first and a second images of at least partially overlapping spatial regions of the sample and processing data from the registered images to obtain integrated image data comprising information about the sample, said information being additional to that available from said first and second images.

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