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    • 73. 发明公开
    • X-선 감소 시스템
    • X射线减少系统
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    • 본 발명은 X-선 방출원, 본질적으로 라운드진 시준기, 검출기와 모티터, 상기 시준기의 평면에 일반적으로 평행한 평면에서 상기 시준기를 이동시키기 위한 수단을 포함하는 X-선 시스템에 있어서, 상기 시준기는 모든 방사선이 통과하도록 허용하는 구멍 및, 재료와 그 재료의 두께 그리고 상기 구멍과 외측 환형부 사이의 내측 환형부에 의존하고, 두께가 상기 구멍으로부터의 거리의 함수로 변하되, 상기 구멍 측에서 두께 제로로부터 시작해서 상기 외측 환형부 측에서 외측 환형부의 두께로 끝나, 통과하는 방사선량을 감소시키는 외측 환형부를 포함하는 것임을 특징으로 하는 X-선 시스템을 제공한다.
    • 包括x射线源,单个基本圆形准直器,照相机,检测器和监视器的X射线系统,用于在大致平行于准直仪平面的平面中移动准直仪的装置; 并且所述准直器包括允许所有辐射通过的中心孔,外环,其以取决于所述材料的材料和所述材料的厚度的量和所述中心孔与所述外环之间的内环,减少穿过的辐射 其厚度随中心距离的变化而变化,从中心孔侧面的厚度为零开始,并以外环的一侧的外环的厚​​度为止。