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    • 71. 发明公开
    • 배터리 연결용 그리퍼장치
    • 用于连接电池的牵引装置
    • KR1020130052396A
    • 2013-05-22
    • KR1020110117806
    • 2011-11-11
    • 황동원하이콘 주식회사
    • 황동원
    • H01M2/10H01M2/30
    • PURPOSE: A gripper device for connecting batteries is provided to be cheap and stable and to be easily and directly mounted to a PCB. CONSTITUTION: A gripper device for connecting batteries comprises upper and lower contact plates(120,130) which are respectively fixed the upper and lower sides of a middle body(110) and have a inclined elastic parts(121,131), terminal contact parts, and power connection parts(123,133); upper and lower fixed bodies(140,150) which are respectively fixed to the upper and lower side of the upper and lower contact plates; at least one or more stopper protrusions(141,151) which are protruded outwards from the upper or lower fixed body; and a movable body(160) which has long guide holes(161,162) ,in which the stopper protrusions are inserted, to pressurize the inclined elastic part.
    • 目的:提供用于连接电池的夹持装置,便宜且稳定,易于直接安装在PCB上。 构成:用于连接电池的夹持装置包括上和下接触板(120,130),其分别固定在中间体(110)的上侧和下侧,并且具有倾斜的弹性部分(121,131),端子接触部分和电力连接 份(123133); 分别固定在上下接触板的上侧和下侧的上下固定体(140,150); 至少一个或多个止动突起(141,151),其从所述上固定体或下固定体向外突出; 以及具有长的引导孔(161,162)的移动体(160),其中插入有止动突起,以对倾斜的弹性部分加压。
    • 72. 发明授权
    • 아이씨 테스트용 소켓장치
    • 用于测试IC的插座装置
    • KR101217205B1
    • 2012-12-31
    • KR1020110096310
    • 2011-09-23
    • 황동원하이콘 주식회사
    • 황동원
    • G01R31/26H01L21/66
    • G01R31/2886G01R1/0466
    • PURPOSE: An integrated circuit test socket device is provided to prevent abnormally electrical contact by matching the position of an IC terminal with an upper pin of the socket as possible. CONSTITUTION: Spring contacts(301) are mounted in a socket body(199). An elastic member(330) is interposed in a pin guide plate(200). Flowing guide holes(202) are formed in the pin guide plate. The top end portion of the spring contacts passes through the flowing guide holes. An IC(Integrated Circuit)(1) is inserted to an IC insert. Spring contact guide holes(66) are formed in the IC insert. The top end portion of the spring contacts passes through the spring contact guide holes.
    • 目的:提供集成电路测试插座装置,以防止异常电气接触,使IC端子与插座的上销尽可能匹配。 构成:弹簧触点(301)安装在插座主体(199)中。 弹性构件(330)插入销引导板(200)中。 流动导向孔(202)形成在销引导板中。 弹簧触头的顶端部分穿过流动的导向孔。 IC(集成电路)(1)插入到IC插入件中。 弹簧接触引导孔(66)形成在IC插入件中。 弹簧触头的顶端部分穿过弹簧触头引导孔。
    • 73. 实用新型
    • 작업용 안전각반
    • 工作安全鞋
    • KR200456421Y1
    • 2011-10-31
    • KR2020100000572
    • 2010-01-19
    • 황동원
    • 황동원
    • A41D13/05A41D13/06A41D17/00A44B18/00
    • 본 고안은 안전용 각반에 관한 것으로, 양단의 외표면과 내표면에 한쌍의 탈부착부재(4)가 부착되고 섬유사로 제직된 각반본체(2)를 형성하고, 각반본체(2)의 내면측에는 각반본체(2)의 길이보다 상대적으로 짧으며 신축성을 갖는 탄성띠(6)를 부착하되 한쌍의 탈부착부재(4) 사이에 탄성띠(6)의 양단부가 부착되게 구성하여서, 작업자가 작업시 소매나 바짓부리로 인한 안전사고를 줄일 수 있도록 해주는 작업용 안전밴드의 제기능을 충분히 하면서도 착용 피로도는 적고 가격도 기존에 비해서 저렴해주는 이점을 제공한다.
    • 本主题创新是绑腿的是,形成防护罩主体(2)安装有一对可移动部件4的和在所述外表面和两个端部的内表面捕获的纤维织造的内表面,和绑腿体2上的绑腿的安全 具有比主体2的长度短并具有弹性的长度的松紧带6被附接,使得松紧带6的两端被附接在一对拆装构件4之间, 可以减少由巴吉特喙引起的安全事故的安全带是足够的,但是磨损疲劳小且价格低于传统安全带。
    • 75. 发明公开
    • 반도체용 테스트 및 번인을 위한 비지에이형 소켓
    • BGA型插座,用于半导体测试和老化
    • KR1020060083060A
    • 2006-07-20
    • KR1020050003966
    • 2005-01-15
    • 황동원
    • 황동원
    • H01L21/66
    • G01R1/0483G01R1/0458G01R1/0466G01R31/2863
    • 본 발명은 반도체용 테스트 및 번인을 위한 비지에이형 소켓에 관한 것으로서, 다수개의 콘택트;콘택트를 수용하여 고정하는 콘택트 수용 공 및 PCB의 정위치에 조립 고정하기 위한 위치결정 핀을 구비하며, 하측 방향으로 상기 콘택트의 몸통을 수용 고정하는 스토퍼 및 콘택트리드를 가이드하며 소켓의 하측 방향으로 유동 가능한 리드가이드가 형성되어 있고, 상측 방향으로 슬라이드 및 커버를 구비하는 몸체;몸체와의 사이에서 커버스프링을 통해 탄지되며, 하측 방향으로 운동하고, 슬라이드를 이동시키기 위한 열림캠 및 닫힘캠을 구비하며, 홀더 회동핀을 구비하는 커버;커버가 하측 방향으로 눌릴 경우 커버의 열림캠에 접촉하여 작동되는 열림캠 접촉부 및 커버가 상측 방향으로 복귀할 경우 커버의 닫힘캠에 접촉하여 작동되는 닫힘캠 접촉부가 형성되어 있고, IC홀더를 상하 방향으로 회동 가능하도록 하기 위한 홀더 스프링을 통해 탄지되어 있으며, 콘택트가 관통하여 유동 가능하도록 하기 위한 콘택트 관통유동 공 및 볼가이드가 형성되어 있고, 몸체와의 사이에 슬라이드 스프링을 통해 탄지되어 있는 슬라이드;및 커버의 홀더 회동핀의 눌림에 의해 하측 방향으로 이동하여 IC를 눌러주는 IC홀더; 를 포함한다.
      BGA, IC, 번인 소켓, 테스트 소켓, 콘택트, 볼가이드, 압축 장착 소켓
    • 本发明涉及一种繁忙eyihyeong测试和老化插座用于半导体,多个触点;包括一定位销用于代替接触壳体孔,并确保印刷电路板的固定组件接受的接触,沿向下的方向 引导止动件和接触引线,用于固定接收接触的主体,并在向下方向在所述插座可流动芯引导件形成,所述主体具有一个滑动件和在向上方向上的盖子;通过本身和所述主体之间的罩弹簧丹吉尔 并且,移动在向下的方向,并且包括一个开放的凸轮和闭合凸轮以移动滑板,具有一夹持器旋转销的盖;由盖凸轮的开口凸轮接触时被按压在盖向下接触开口被操作,并 当盖子返回到上方时,关闭的凸轮接触 并设置有由保持器弹簧弹性偏置的接触通孔和球导向件,以允许IC保持器在上下方向上枢转并允许接触穿透和流动, IC座通过按压盖的座转动销向下移动并按压IC; 它包括。
    • 76. 发明公开
    • 반도체용 테스트 및 번인 소켓
    • 用于测试和烧录的集成电路插座
    • KR1020060069947A
    • 2006-06-23
    • KR1020040108545
    • 2004-12-20
    • 황동원
    • 황동원
    • G01R31/26H01L21/66
    • G01R1/0466
    • 본 발명은 반도체용 테스트 및 번인 소켓에 관한 것으로서, 콘택트를 수용하여 고정하는 다수개의 콘택트 수용 공 및 PCB에 조립 고정하기 위한 다수개의 위치 결정 핀을 구비하는 몸체;몸체의 하부에 구비되며, 다수개의 리드가이드 공이 형성된 리드가이드;몸체에 조립 결합되어 좌우 방향으로 움직임이 가능하며, 슬라이드캠과 접촉하여 원활히 미끄럼 운동을 하도록 하는 다수개의 접촉부 및 콘택트의 콘택트 상부접촉단자가 관통되도록 하는 다수개의 콘택트 관통 공을 구비하는 슬라이드;슬라이드의 복귀 운동이 원활히 이루어지도록 하기 위해 슬라이드와 몸체 사이에 탄지되어 있는 슬라이드스프링;콘택트 상부접촉단자들이 배열되도록 하는 다수개의 콘택트단자 관통 공을 포함하고 콘택트 상부접촉단자의 위치를 가이드하는 콘택트가이드;IC의 위치를 가이드하는 IC가이드;몸체 사이에 탄지된 다수개의 커버스프링, 다수개의 슬라이드캠 및 래치 캠 슬롯을 형성하고 있는 다수개의 슬롯 판을 포함하여, 몸체에서 상하 운동이 가능하도록 형성되어 있는 커버;몸체에 래치 가동 축을 통해 조립되는 고정 공 및 래치 캠 슬롯의 내부에 형성된 슬롯의 경사면을 따라 움직이는 이동 공을 구비하며 IC를 눌러주는 래치; 및 콘택트;를 포함한다.
      BGA, LGA, IC, 소켓, POGO, 콘택트