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    • 79. 发明专利
    • 半導體積體電路
    • 半导体集成电路
    • TW201308901A
    • 2013-02-16
    • TW101117216
    • 2012-05-15
    • 半導體能源研究所股份有限公司SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
    • 長塚修平NAGATSUKA, SHUHEI八窪裕人YAKUBO, YUTO
    • H03K3/037H03K19/185G11C11/22
    • H01L27/06G11C11/412G11C14/0063H01L27/1052H01L27/1225
    • 降低記憶體裝置的耗電。降低記憶體裝置的面積。降低包含在記憶體裝置中的電晶體的數目。記憶體裝置包含比較第一輸出訊號與第二輸出訊號的比較器、第一記憶體部、第二記憶體部、及輸出電位決定器,第一記憶體部包含第一氧化物半導體電晶體、以及第一矽電晶體,第二記憶體部包含第二氧化物半導體電晶體以及第二矽電晶體,輸出電位決定器決定第一輸出訊號的電位及第二輸出訊號的電位。第一氧化物半導體電晶體的源極和汲極的其中之一係電連接至第一矽電晶體的閘極。第二氧化物半導體電晶體的源極和汲極的其中之一係電連接至第二矽電晶體的閘極。
    • 降低内存设备的耗电。降低内存设备的面积。降低包含在内存设备中的晶体管的数目。内存设备包含比较第一输出信号与第二输出信号的比较器、第一内存部、第二内存部、及输出电位决定器,第一内存部包含第一氧化物半导体晶体管、以及第一硅晶体管,第二内存部包含第二氧化物半导体晶体管以及第二硅晶体管,输出电位决定器决定第一输出信号的电位及第二输出信号的电位。第一氧化物半导体晶体管的源极和汲极的其中之一系电连接至第一硅晶体管的闸极。第二氧化物半导体晶体管的源极和汲极的其中之一系电连接至第二硅晶体管的闸极。