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71. 发明专利

TW201000915A 測試裝置與驅動電路 TEST DEVICE AND DRIVE CIRCUIT 失效
简体标题：测试设备与驱动电路 TEST DEVICE AND DRIVE CIRCUIT
公开(公告)号：TW201000915A
公开(公告)日：2010-01-01
申请号：TW098119441
申请日：2009-06-10
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：小島昭二 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31924
摘要：一種測試裝置，包括：驅動電路，將對應於輸入信號之測試信號供應至被測試元件；及判定部，在由驅動電路將定電流或定電壓的測試信號供應至被測試元件時，依據施加至被測試元件的負載電壓或負載電流來判定被測試元件的良否。該驅動電路包括：驅動部，輸出測試信號；電源電流偵測部，偵測出供應至驅動部的電源電流；及輸出控制部，依據電源電流偵測部所偵測的電源電流，來控制驅動部所輸出的測試信號的電壓或電流使成為規定值。
简体摘要：一种测试设备，包括：驱动电路，将对应于输入信号之测试信号供应至被测试组件；及判定部，在由驱动电路将定电流或定电压的测试信号供应至被测试组件时，依据施加至被测试组件的负载电压或负载电流来判定被测试组件的良否。该驱动电路包括：驱动部，输出测试信号；电源电流侦测部，侦测出供应至驱动部的电源电流；及输出控制部，依据电源电流侦测部所侦测的电源电流，来控制驱动部所输出的测试信号的电压或电流使成为规定值。

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