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61. 发明授权

EP1816466B1 METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF TRANSPARENT PLATE BODY 有权
标题翻译：方法和设备检查故障时的透明板体的
公开(公告)号：EP1816466B1
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：EP05805124.4
申请日：2005-10-21
申请人： Asahi Glass Company, Limited
发明人： SONDA, Yoshiyuki, Asahi Glass Company, Limited
IPC分类号： G01N21/896
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/8908 , G01N2021/8967

62. 发明公开

EP1797415A1 SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING A LIGHT-MANAGEMENT FILM AND THE METHOD OF MAKING THE LIGHT-MANAGEMENT FILM 审中-公开
标题翻译：系统和方法用于测试的光管理膜及其制造方法的光管理膜
公开(公告)号：EP1797415A1
公开(公告)日：2007-06-20
申请号：EP05798209.2
申请日：2005-09-19
申请人： The General Electric Company
发明人： CAPALDO, Kevin, Patrick , HU, Yu , YEUNG, Chunghei , ZHANG, Yan
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/88 , G01M11/00
CPC分类号： G01N21/958 , G01N21/8803 , G01N2021/8967
摘要： A method of inspecting a light-management film (22) comprises reflecting light from an overhead light source (28) off a first side of the light-management film (22) and examining the light-management film (22) for defects; directing transmission light from a backlight source (I8) through a second side of the light-management film (22) to the first side and examining the light-management film (22) for defects; reflecting light from the overhead light source (28) off the second side of the light-management film (22) and examining the light-management film (22) for defects; directing transmission light from the backlight source (18) through the first side of the light-management film (22) to the second side and examining the light-management film (22) for defects; and measuring a location of each of the examined defects in the light-management film (22).

63. 发明授权

EP0665951B1 PROCEDE ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE MATERIAU TRANSPARENT 失效
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR检查透明材料
公开(公告)号：EP0665951B1
公开(公告)日：1997-01-22
申请号：EP93922985.2
申请日：1993-10-13
申请人： THOMSON multimedia
发明人： JUTARD, Yann , SACRE, Jean-Jacques
IPC分类号： G01N21/89
CPC分类号： G01N33/386 , G01N21/896 , G01N2021/8832 , G01N2021/8887 , G01N2021/8962 , G01N2021/8967 , G01N2201/102
摘要： The process consists in detecting and locating flaws (5) in the thickness of a transparent material (2) to be inspected, in uniformly illuminating a light background (7) placed in relation to the camera (4) behind the material (2) to be transparently viewed through said material (2), covering the visual field of the camera (4) and serving as the contrast reference, in laterally illuminating the material's surface (2) to distinguish flaws (5) within the material (2) from parasitic elements deposited on the surface thereof, in transparently viewing by means of the camera (4), placed vertically in relation to the surface of the material (2), a sequence of contrasted images reproducing the thickness of the material (2), and in processing data captured by successive images corresponding to the complete thickness of the material (2) in order to detect and locate flaws (2) therein. Application in quality control of transparent materials.

64. 发明申请

WO2017112550A1 METHODS OF MAKING AND INSPECTING A WEB OF VITREOUS LITHIUM SULFIDE SEPARATOR SHEET AND LITHIUM ELECTRODE ASSEMBLIES 审中-公开
标题翻译：制造和检查硫酸锂分离器片和锂电极组件的方法
公开(公告)号：WO2017112550A1
公开(公告)日：2017-06-29
申请号：PCT/US2016/067338
申请日：2016-12-16
申请人： POLYPLUS BATTERY COMPANY, INC.
发明人： VISCO, Steven J., , NIMON, Yevgeniy S. , DE JONGHE, Lutgard C. , KATZ, Bruce D. , NIMON, Vitaliy
IPC分类号： H01M2/14 , H01M2/16 , H01M4/1397 , H01M10/0562 , G01N21/27 , G01N21/88
CPC分类号： H01M10/0562 , G01N21/31 , G01N21/896 , G01N2021/8967 , H01M2/145 , H01M2/1646 , H01M2/1673 , H01M4/0407 , H01M4/134 , H01M4/1395 , H01M10/0525 , H01M10/0566 , H01M2300/0068
摘要： A lithium ion-conductive solid electrolyte including a freestanding inorganic vitreous sheet of sulfide-based lithium ion conducting glass is capable of high performance in a lithium metal battery by providing a high degree of lithium ion conductivity while being highly resistant to the initiation and/or propagation of lithium dendrites. Such an electrolyte is also itself manufacturable, and readily adaptable for battery cell and cell component manufacture, in a cost-effective, scalable manner. An automated machine based system, apparatus and methods assessing and inspecting the quality of such vitreous solid electrolyte sheets, electrode sub-assemblies and lithium electrode assemblies can be based on spectrophotometry and can be performed inline with fabricating the sheet or web (e.g., inline with drawing of the vitreous Li ion conducting glass) and/or with the manufacturing of associated electrode subassemblies and lithium electrode assemblies and battery cells.
摘要翻译：包括硫化物基锂离子导电玻璃的独立无机玻璃质片的锂离子传导性固体电解质通过提供高度的锂离子传导性同时在锂金属电池中具有高性能，高度耐受锂枝晶的引发和/或传播。这种电解质本身也是可制造的，并且可以以成本有效的，可扩展的方式容易地适用于电池单元和电池部件的制造。评估和检查这种玻璃质固体电解质薄片，电极子组件和锂电极组件的质量的基于自动化机器的系统，设备和方法可以基于分光光度测量并且可以在制造薄片或薄片时在线执行（例如，与拉制玻璃质Li离子导电玻璃）和/或制造相关的电极子组件和锂电极组件以及电池组电池。

65. 发明申请

WO2013139055A1 玻璃基板的检测装置及检测方法审中-公开
公开(公告)号：WO2013139055A1
公开(公告)日：2013-09-26
申请号：PCT/CN2012/073506
申请日：2012-04-05
申请人：深圳市华星光电技术有限公司 , 朱二庆 , 吴俊豪 , 林昆贤 , 汪永强 , 杨卫兵 , 李贤德
发明人：朱二庆 , 吴俊豪 , 林昆贤 , 汪永强 , 杨卫兵 , 李贤德
IPC分类号： G01N21/896 , G01N21/958
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/8965 , G01N2021/8967
摘要：一种玻璃基板的检测装置及检测方法，用于检测承载于卡匣（50）中的玻璃基板（40）是否存在破损。该检测装置包括至少一传感器组和至少一处理单元（14）。传感器组包括位于玻璃基板一侧的一投光元件（11）和分别位于玻璃基板两侧的两个受光元件（12、13），处理单元（14）用于判断两个受光元件检测的亮度之间的亮度差是否处于预定范围，若该亮度差未处于预定范围，则被检测的玻璃基板存在破损。通过上述方式，本发明能够减少或避免破损玻璃基板进入显示面板制程线。

66. 发明申请

WO2012077542A1 ガラス基板审中-公开
标题翻译：玻璃基板
公开(公告)号：WO2012077542A1
公开(公告)日：2012-06-14
申请号：PCT/JP2011/077589
申请日：2011-11-29
申请人：旭硝子株式会社 , ▲樋▼口誠彦 , 楜澤信 , 藤井信治
发明人： ▲樋▼口　誠彦 , 楜澤　信 , 藤井　信治
IPC分类号： G01N21/896
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/8967
摘要：　少なくとも一方の表面が膨らんでいないガラス基板を提供する。　ガラス基板５１の板厚をＴ（μｍ）とする。また、そのガラス基板５１の表面５２からガラス基板５１内に存在する泡５７までの距離をＤ（μｍ）とする。その泡の球換算径をｅ（μｍ）としたときに、少なくとも一方の表面５２からＴ／２（μｍ）以内の層に存在する泡の球換算径ｅは、ｅ≦０．０１×Ｄ１．６＋１５を満足する。ガラス基板５１が、フロート法で製造されたガラスリボンから採板されたガラス基板である場合、ガラス基板におけるボトム面に該当する面を基準として泡５７までの距離Ｄを定める。
摘要翻译：提供一种玻璃基板，其具有至少一个不膨胀的表面。玻璃基板（51）的板厚表示为T（μm）。从玻璃基板（51）的表面（52）到存在于玻璃基板（51）内的气泡（57）的距离表示为D（μm）。存在于距离至少一个表面（52）等于或小于T / 2（μm）的距离的层中的气泡的球当量直径满足表达式e = 0.01×D1.6 + 15，其中e（ μm）是气泡的球当量直径。在玻璃基板（51）从使用浮法制造的玻璃带中拉出的情况下，使用作为基准的玻璃基板的表面来定义与气泡（57）的距离（D）对应于底面。

67. 发明申请

WO2006039143A1 SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING A LIGHT-MANAGEMENT FILM AND THE METHOD OF MAKING THE LIGHT-MANAGEMENT FILM 审中-公开
标题翻译：检查光管理电影的系统和方法及制作光管理电影的方法
公开(公告)号：WO2006039143A1
公开(公告)日：2006-04-13
申请号：PCT/US2005/033561
申请日：2005-09-19
申请人： GENERAL ELECTRIC COMPANY , CAPALDO, Kevin, Patrick , HU, Yu , YEUNG, Chunghei , ZHANG, Yan
发明人： CAPALDO, Kevin, Patrick , HU, Yu , YEUNG, Chunghei , ZHANG, Yan
IPC分类号： G01N21/958
CPC分类号： G01N21/958 , G01N21/8803 , G01N2021/8967
摘要： A method of inspecting a light-management film (22) comprises reflecting light from an overhead light source (28) off a first side of the light-management film (22) and examining the light-management film (22) for defects; directing transmission light from a backlight source (I8) through a second side of the light-management film (22) to the first side and examining the light-management film (22) for defects; reflecting light from the overhead light source (28) off the second side of the light-management film (22) and examining the light-management film (22) for defects; directing transmission light from the backlight source (18) through the first side of the light-management film (22) to the second side and examining the light-management film (22) for defects; and measuring a location of each of the examined defects in the light-management film (22).
摘要翻译：检查光管理膜（22）的方法包括从顶灯光源（28）离开光管（10）的第一侧反射光并检查光管膜（22）的缺陷; 将来自背光源（I8）的透射光通过光管理膜（22）的第二侧引导到第一侧，并检查光管膜（22）的缺陷; 将来自所述顶棚光源（28）的光从所述光管理膜（22）的第二侧反射，并检查所述光管理膜（22）的缺陷; 将来自背光源（18）的透射光通过光管理膜（22）的第一侧引导到第二侧，并检查光管膜（22）的缺陷; 以及测量光管理膜（22）中每个检查缺陷的位置。

68. 发明申请

WO2015184086A1 METHOD FOR PARTICLE DETECTION ON FLEXIBLE SUBSTRATES 审中-公开
标题翻译：用于在柔性基板上检测颗粒的方法
公开(公告)号：WO2015184086A1
公开(公告)日：2015-12-03
申请号：PCT/US2015/032868
申请日：2015-05-28
申请人： CORNING INCORPORATED
发明人： FONTAINE, Norman Henry , WHITTIER, Alana Marie
IPC分类号： G01N21/89 , G01N21/896 , G01N21/94 , G01N21/958 , G01N21/47
CPC分类号： G01N21/8914 , G01N21/89 , G01N21/8901 , G01N21/896 , G01N21/94 , G01N21/958 , G01N2021/4707 , G01N2021/845 , G01N2021/8965 , G01N2021/8967 , G01N2021/945 , G01N2201/06113
摘要： Methods for detection of particulate on thin, flexible substrates wherein the substrate is positioned in a bend comprising an apex line. The apex line is illuminated by grazing angle illumination, and light from the illumination scattered by the particulate is captured by a detection apparatus.
摘要翻译：用于在薄的柔性基底上检测颗粒的方法，其中所述基底定位在包括顶线的弯曲部中。顶线由掠角照明照射，由微粒散射的照明的光被检测装置捕获。

69. 发明申请

WO2013117282A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM ERKENNEN VON FEHLSTELLEN INNERHALB DES VOLUMENS EINER TRANSPARENTEN SCHEIBE UND VERWENDUNG DER VORRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：装置和一种用于识别缺陷在卷中的设备的透明窗口并使用
公开(公告)号：WO2013117282A1
公开(公告)日：2013-08-15
申请号：PCT/EP2012/076976
申请日：2012-12-27
申请人： SCHOTT AG
发明人： SCHRADER, Bruno , MACHEREY, Frank , WEGENER, Holger , STELZL, Michael
IPC分类号： G01N21/958
CPC分类号： G01N21/958 , G01B9/02 , G01N21/45 , G01N21/49 , G01N21/896 , G01N21/94 , G01N2021/4709 , G01N2021/8967
摘要： Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (11) zum Erkennen von Fehlstellen innerhalb des Volumens einer transparenten Scheibe (10), vorzugsweise einer Glas-Scheibe. Die Vorrichtung (11) umfasst eine Beleuchtungseinrichtung (12), mit welcher einfallendes Licht (20) auf zumindest einen Teil einer Oberfläche der Scheibe (10) gerichtet wird zum Ausleuchten der Scheibe (10), und eine Bilderfassungseinrichtung (14, 16), auf welche das von der Scheibe (10) rückgestreute Licht (22) gerichtet wird zum bildtechnischen Erfassen der Scheibe (10). Die Vorrichtung (11) ist zum Erzeugen von mindestens zwei Interferenzbildern unter unterschiedlichen Aufnahmebedingungen ausgebildet, um das Erkennen der Fehlstellen, mittels Auswerten der mindestens zwei Interferenzbilder, zu ermöglichen oder durchzuführen.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检测一个透明的圆盘（10）的体积内的缺陷的装置（11），优选的玻璃面板。该装置（11）包括通过在盘（10）的表面的至少一部分入射的光（20）引导到照射盘（10）的照明装置（12），并且在图像捕获设备（14，16）该反向散射从所述盘（10）的光（22）被引导至图像技术检测盘（10）。所述装置（11）适合于产生不同的图像感测条件下的至少两个干涉图像，以允许或进行缺陷的检测，通过评估至少两个干涉图像的装置。

70. 发明申请

WO2011011988A1 METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING AND CLASSIFYING DEFECTS OF SUBSTRATE 审中-公开
标题翻译：用于检测和分类基板缺陷的方法和系统
公开(公告)号：WO2011011988A1
公开(公告)日：2011-02-03
申请号：PCT/CN2010/070791
申请日：2010-02-26
申请人： SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE , SCHWEITZER, Jean-Philippe , LI, Huifen , LIN, Xiaofeng , GUO, Xiaofeng , GUO, Feng , SUN, Xiaowei
发明人： SCHWEITZER, Jean-Philippe , LI, Huifen , LIN, Xiaofeng , GUO, Xiaofeng , GUO, Feng , SUN, Xiaowei
IPC分类号： G01N21/896
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/8967
摘要： A method and a system for detecting and classifying defects of a substrate are provided. The system includes: a first channel, including a first illuminating unit (210) adapted to irradiate light to a transparent or semi-transparent substrate (260) and a first imaging unit (220) adapted to take images by sensing light from the substrate (260) when the first illuminating unit (210) irradiates the light to the substrate (260); a second channel, including a second illuminating unit (210) adapted to irradiate light to the substrate (260) and a second imaging unit (230) adapted to take images by sensing light from the substrate (260) when the second illuminating unit (210) irradiates the light to the substrate (260); an image construction module (240), adapted to construct two images of the substrate (260) by using the image taken by the first imaging unit (220) and the image taken by the second imaging unit (230) respectively; and an image processing module (250), adapted to detect, when the substrate (260) has a defect, whether the defect is on the substrate (260) or in the substrate (260), based on the relationship of positions where the defect of the substrate (260) appears in the two images of the substrate (260). By using the method and the system, whether the transparent or semi-transparent substrate (260) has a defect can be detected and classified.
摘要翻译：提供了用于检测和分类衬底的缺陷的方法和系统。该系统包括：第一通道，包括适于将光照射到透明或半透明基板（260）的第一照明单元（210）和适于通过感测来自基板的光来拍摄图像的第一成像单元（220） 260）当所述第一照明单元（210）将光照射到所述基板（260）时; 第二通道，包括适于将光照射到衬底（260）的第二照明单元（210）和适于通过在第二照明单元（210）处感测来自衬底（260）的光来拍摄图像的第二成像单元（230））将光照射到基板（260）上; 图像构造模块（240），其适于通过使用由第一成像单元（220）拍摄的图像和由第二成像单元（230）拍摄的图像来构造基底（260）的两个图像; 以及图像处理模块（250），其适于基于所述缺陷的位置关系来检测所述基板（260）是否存在缺陷，所述缺陷是否在所述基板（260）上或所述基板（260）中的衬底（260）的两个图像中出现。通过使用该方法和系统，可以检测和分类透明或半透明基板（260）是否具有缺陷。

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