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61. 发明授权

KR101798853B1 테스트 소켓 有权
公开(公告)号：KR101798853B1
公开(公告)日：2017-11-20
申请号：KR1020160016400
申请日：2016-02-12
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이우열
IPC分类号： G01R1/04 , G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/28
摘要： 피검사체의피검사접점과검사회로의검사접점을전기적으로연결하기위한테스트소켓이개시된다. 테스트소켓은원통형배럴과; 상기배럴의삽입단부에삽입되어슬라이딩이동가능한슬라이딩부, 상기슬라이딩부보다큰 직경을가지고상기슬라이딩부와일체로연결되는플랜지부, 및상기플랜지부보다작은직경을갖고상기피검사접점과상기검사접점중 어느하나에접촉하는단자접촉부를포함하는원형단면의플런저와; 상기슬라이딩부의외경보다큰 내경과상기배럴의내경보다큰 외경을가진원형스프링과; 상기배럴, 상기스프링및 상기플런저의플랜지를수용하는대구경부, 및상기플런저의단자접촉부를수용하는소구경부를가진적어도하나의프로브공이검사방향으로형성된소켓유니트를포함한다. 본발명에의하면매우미세한피치의반도체를검사하는테스트소켓에포고타입의프로브핀을적용함으로써프로브핀의수명을향상시킬수 있을뿐만아니라스프링의탄성력을높일수 있다.

62. 发明授权

KR101715744B1 전자부품 검사용 소켓 有权
公开(公告)号：KR101715744B1
公开(公告)日：2017-03-27
申请号：KR1020120067157
申请日：2012-06-22
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/28
摘要： 상기목적은, 검사대상인전자부품의피접촉단자에접촉하는일측의검사단부와타측의연결단부를갖는복수의프로브를지지하는검사용소켓의검사단부들이상기피접촉단자를향하도록상기프로브들이배열지지되는프로브지지체와, 각프로브들의상기연결단부에접촉하는프로브접촉부와, 상기프로브접촉부로부터이격되어검사장치의검사접점에접촉하는연결접촉부와, 상기연결접촉부가상기프로브축선에평행한방향으로탄성적변위가가능하도록상기프로브접촉부와상기연결접촉부를연결하는탄성연결부를갖는프로브클립과, 프로브지지체에결합되어상기프로브클립들을지지하는클립지지체를포함하는검사용소켓에의해달성된다. 본발명에따른검사용소켓은, 외팔지지보형으로만곡연장되는자력탄성연결부를갖는연결접촉부로구성되기때문에가압스프링설치가필요없어제작및 조립이용이하고, 또한, 각각의연결접촉부가독립적인탄성으로검사장치기판의검사접점에높이(거리)에따라탄력적으로접촉하기때문에더욱검사신뢰성과안정성을갖는검사용소켓을제공할수 있다.

63. 发明公开

KR1020170030783A 프로브 소켓 有权
标题翻译：探头插座
公开(公告)号：KR1020170030783A
公开(公告)日：2017-03-20
申请号：KR1020150128114
申请日：2015-09-10
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 정재환 , 김근수 , 신정철
IPC分类号： G01R1/04 , G01R1/067
CPC分类号： G01R29/0835 , G01R1/04 , G01R1/045 , G01R1/0491 , G01R1/067 , G01R1/07328
摘要： 고주파(RF)용프로브소켓이개시된다. 개시된고주파(RF)용프로브소켓은상기복수의신호용프로브들을양단부가노출되도록서로평행하게수용하여노이즈를차폐하는도전성의노이즈차폐본체와; 상기노이즈차폐본체로부터상기복수의신호용프로브들의노출양단부사이의일부영역으로연장하는상부및 하부노이즈차단벽과; 상기노이즈차폐본체의상부및 하부에각각배치되고, 상기복수의신호용프로브들의노출양단부를각각지지하며, 상기노이즈차단벽을수용하는수용홈부를가진상부및 하부고정부재를포함한다.
摘要翻译：公开了一种用于高频（RF）的探针插座。它公开了一种射频（RF）探针座的屏蔽的导电体，以在平行于噪声屏蔽彼此成接收所述多个信号探针和的暴露的端部; 从噪声屏蔽体延伸到多个信号探针的暴露两端之间的区域的上部和下部噪声阻挡壁; 所述屏蔽被布置在所述主体的顶部和底部，且每个支承所述多个信号探针的暴露的端部，包括一个具有上部和下部固定构件，用于接收所述噪声阻挡壁的接收凹部。

64. 发明授权

KR101715750B1 반도체 디바이스를 검사하기 위한 프로브 및 그를 사용하는 테스트 소켓 有权
标题翻译：用于测试半导体器件的探针和使用其的测试插座
公开(公告)号：KR101715750B1
公开(公告)日：2017-03-14
申请号：KR1020120015505
申请日：2012-02-15
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
摘要： 본발명은피검사체의전기적특성을검사하기위한테스트소켓에있어서, 상기피검사체의피검사접점에상기접촉하는상부플런저, 띠상판재를나선형으로감아형성되며일단이상기상부플런저에접촉하는스프링, 및상기스프링사이에끼워져일단이상기상부플런저에접촉되는탄성체를포함하는프로브와; 상기프로브를삽입하여지지하는하우징과; 일측이테스트보드의접점에접촉하고타측이상기스프링과탄성체의타단에접촉하는복수의접속부를갖는패드연결부를포함하는것을특징으로한다.
摘要翻译：目的：提供用于测试半导体器件的探针和使用其的测试插座，以降低电阻偏差和接触电阻并增加导电性，通过使上部柱塞的压缩变形的弹性体将水平的弹簧重叠线圈加压。构成：测试插座包括探针（120），壳体（100）和垫连接部分（200）。探头包括上柱塞，弹簧和弹性体。上柱塞与测试材料的测试接触点接触。弹簧形成为螺旋地卷起板，弹簧的一端与上柱塞接触。弹性体插入弹簧，与上柱塞接触。外壳支撑探头。垫连接部具有多个连接部，其一侧与测试板的接触点接触，另一侧与弹簧的另一端接触。

65. 发明公开

KR1020160107045A 테스트 소켓 有权
标题翻译：测试插座
公开(公告)号：KR1020160107045A
公开(公告)日：2016-09-13
申请号：KR1020150029980
申请日：2015-03-03
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/04 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/0408
摘要： 본발명은보다미세한피치를제공하는테스트소켓이제공된다. 본발명의테스트소켓은, 관상의배럴과, 상기배럴의단부에삽입되어슬라이딩이동가능한슬라이딩부와상기슬라이딩부보다작은직경을가지고상기슬라이딩부와일체로연결되어상기배럴의단부로부터노출되는전극부를갖는적어도하나의플런저, 및상기배럴내에수용되어상기플런저를노출방향으로탄성적으로미는스프링을가지는다수의프로브유니트와; 상기배럴이삽입되는상호평행하게관통형성된다수의배럴장착공을갖는판상의소켓본체와, 상기소켓본체의적어도일측표면에적층되며상기전극부는통과하고상기슬라이딩부의통과를저지하는직경을갖는전극통과공이형성된멈춤플레이트를갖는소켓유니트를포함하는것을특징으로한다.
摘要翻译：提供了一个用于提供分钟间距的测试插座。根据本发明，测试插座包括：多个探针单元，其包括管状的筒体，至少一个柱塞，其具有插入滑动部分并可滑动地移动到筒体的端部，并且具有较短的电极部分直径大于滑动部分的直径，整体地连接到滑动部分并且从筒的端部露出;以及容纳在筒体中的弹簧，用于沿暴露的方向弹性推动柱塞; 以及插座单元，包括具有板形的插座主体，并且具有贯穿其中的多个筒安装孔并插入其中并具有筒体;以及在该插座主体的至少一个侧表面上层叠有具有电极通孔的停止板用于使电极部分通过并阻塞滑动部件。

66. 发明公开

KR1020160092712A 프로브 카드 有权
标题翻译：一个探针卡
公开(公告)号：KR1020160092712A
公开(公告)日：2016-08-05
申请号：KR1020150013435
申请日：2015-01-28
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 박웅기
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07307
摘要： 본발명은피치가서로다른제1그룹의피검사접점과제2그룹의피검사접점을가진피검사체의전기적특성을효과적으로검사하기위한프로브카드에관한것이다. 프로브카드는검사신호를전송하는메인회로기판과; 상기제1그룹의피검사접점에접촉하는팁을가지며, 상기팁의반대측단부를직접상기메인회로기판의검사접점에고정되는캔틸레버프로브와; 상기제2그룹의피검사접점에접촉하는하부플런저, 상기하부플런저를검사방향으로탄성적으로신축가능하게스프링, 및상기하부플런저의반대측에배치되는상부플런저를각각포함하는포고핀과; 상기포고핀을지지하는포고핀지지부와; 상기포고핀에검사신호를전송하는서브회로기판과; 상기메인회로기판과서브회로기판사이에상호결합을위해개재되는메인보강부와; 상기서브회로기판을사이에두고상기포고핀지지부를상기서브회로기판에고정하는서브보강부를포함한다.
摘要翻译：本发明涉及一种可以有效地检测具有不同节距的具有第一组和第二组的检查对象接触点的检查对象的电气特性的探针卡。探针卡包括：发送检查信号的主电路基板; 悬臂探针，其具有与第一组的检查对象接触点接触的尖端，并且固定到主电路基板的检查接触点的尖端的相对端; Pogo销，其包括与所述第二组的检查对象接触点接触的下柱塞，沿所述下柱塞的检查方向弹性拉伸的弹簧和布置在所述下柱塞的相对侧上的上柱塞; 支持Pogo引脚的Pogo引脚支持; 将检查信号发送到Pogo引脚的子电路基板; 主加强单元，其布置在主电路基板和子电路基板之间，以将主电路基板和子电路基板彼此耦合; 以及子加强单元，其将Pogo销支撑件固定到子电路基板上，同时在其间具有副电路基板。

67. 发明授权

KR101641923B1 콘택트 프로브 有权
标题翻译：联系方式
公开(公告)号：KR101641923B1
公开(公告)日：2016-07-25
申请号：KR1020140167591
申请日：2014-11-27
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 조성현
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/26
摘要： 본발명은피검사접점과검사접점사이를전기적으로연결하는콘택트프로브에관한것이다. 컨택트프로브는상기피검사접점및 검사접점중 하나에접촉하며, 개공이형성되어있는단부를가진제1플런저와; 상기피검사접점및 검사접점중 다른하나에접촉하는제2플런저와; 상기제1플런저와제2플런저사이에배치되는스프링과; 일측이상기제2플런저의단부에접촉하고타측이상기스프링에접촉하는플랜지부와상기플랜지부의타측으로부터스프링내를통과하여상기제1플런저의개공에삽입되는스템부를가진내부도전부를포함하여구성한다. 본발명에의하면, 검사시에내부도전체의스템부축(L)이항상컨택트프로브중심축에어긋나도록하여개공에삽입되는스템부가항상개공내벽에접촉하는것을보장함으로써접촉저항을일정하게유지할수 있다.

68. 发明授权

KR101611354B1 검사장치 有权
标题翻译：一个测试设备
公开(公告)号：KR101611354B1
公开(公告)日：2016-04-14
申请号：KR1020140175940
申请日：2014-12-09
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 김희철
IPC分类号： G01R1/02 , G01R31/34
CPC分类号： G01R1/02 , G01R1/025 , G01R1/0466 , G01R31/34
摘要： 본발명은복수의경사면접점을가진피검사체의전기적특성을검사하기위한검사장치에관한것이다. 검사장치는검사를위해상기피검사체를수용하는피검사체수용부를가진피검사체캐리어; 및상기피검사체가상기피검사체수용부에수용되면서상기경사면접점에접촉하도록상기피검사체수용부내에노출되는헤드를가진복수의컨택트를지지하는컨택트지지부를포함하여구성한다. 본발명에의하면, 검사프로브가피검사체의경사면접점에정확하게접촉할수 있어검사의신뢰성을향상시킬수 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试具有多个倾斜面接触件的物体的电气特性的测试装置。测试装置包括：具有容纳物体的物体容纳部分的对象载体进行测试; 以及接触支撑部，其支撑多个触点，所述多个触点具有在所述物体容纳在所述物体容纳部中的情况下暴露在所述物体容纳部中的头部以接触所述倾斜面接触。根据本发明，测试探针可以准确地接触物体的斜面接触。从而可以提高测试的可靠性。

69. 发明授权

KR101328581B1 검사용 프로브 및 그 제조방법 有权
标题翻译：测试探头及其加工方法
公开(公告)号：KR101328581B1
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：KR1020120062975
申请日：2012-06-13
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R1/06738 , G01R3/00 , G01R31/2607 , Y10T29/49996
摘要： The present invention relates to a test probe having a plunger end part elastically in contact with a test contact point. The plunger end part has multiple tip parts protruding to the test contact point. At least one of the tip parts is a high tip part, and at least one of the tip parts is a low tip part lower than the high tip part. The present invention improves the reliability of measurement and increase the lifetime of the test probe by having low tip parts with different height at the plunger end part and facilitating stable contact for a long time because the relatively high tip point is worn out first and then the relatively low tip point is newly in contact.
摘要翻译：本发明涉及一种具有与测试接触点弹性接触的柱塞端部的测试探针。柱塞端部具有突出到测试接触点的多个尖端部分。尖端部分中的至少一个是高尖端部分，并且尖端部分中的至少一个是比高尖端部分低的尖端部分。本发明通过在柱塞端部具有不同高度的低尖端部分来提高测量的可靠性并且延长了测试探针的使用寿命，并且由于相对较高的尖端首先被磨损，并且长时间地稳定地接触相对较低的尖点是新接触的。

70. 发明授权

KR101318351B1 이방 도전성 커넥터, 그의 제조 방법 및 장치 失效
标题翻译：各向异性导电连接器，其生产方法和生产设备
公开(公告)号：KR101318351B1
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：KR1020130101607
申请日：2013-08-27
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 양외석
IPC分类号： G01R1/067
摘要： PURPOSE: An anisotropic conductive connector and a manufacturing method and apparatus thereof are provided to improve test reliability by maintaining contact resistance without increase for a long time. CONSTITUTION: A plate-shaped elastic unit includes multiple conducting parts (120) and an elastic insulating part (140) formed around the multiple conducting parts. A first insulating film (160) is arranged at one side of the plate-shaped elastic unit. A second insulating film (180) is arranged at the other side of the plate-shaped elastic unit. The conducting part includes an end part having a concavo-convex part in order to partially contact with the test contact surface of a test object.
摘要翻译：目的：提供各向异性导电连接器及其制造方法和装置，以通过长时间保持接触电阻而不增加来提高测试可靠性。构成：板状弹性单元包括形成在多个导电部件周围的多个导电部件（120）和弹性绝缘部件（140）。第一绝缘膜（160）布置在板状弹性单元的一侧。第二绝缘膜（180）布置在板状弹性单元的另一侧。导电部分包括具有凹凸部分的端部，以便与测试对象的测试接触表面部分接触。

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