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51. 发明授权

US08194969B2 Method and apparatus for visual inspection 失效
标题翻译：目视检查方法和装置
公开(公告)号：US08194969B2
公开(公告)日：2012-06-05
申请号：US12751723
申请日：2010-03-31
申请人： Kei Shimura
发明人： Kei Shimura
IPC分类号： G06K9/00
CPC分类号： G01N21/8803 , G01N21/8851 , G01N21/9501 , G01N21/95607 , G01N2021/8893 , G06K9/036 , G06T7/001 , G06T2207/30148
摘要： A visual inspection apparatus includes an image-data acquisition unit for acquiring plural pieces of image data A to C on an inspection target, image comparison units for comparing the image data A to C with each other thereby to create plural pieces of sign-affixed difference-image data D and E, the image data A to C being acquired by the image-data acquisition unit, difference-image comparison units for determining the difference between the sign-affixed difference-image data D and E created by the image comparison units, and a judgment unit for subjecting, to a threshold-value processing, difference data F between the difference-image data D and E, the difference data F being acquired by the difference-image comparison units, obtaining a detection sensitivity by enlarging the difference between an abnormal signal level of an image of an area where an abnormality exists from the visual inspection.
摘要翻译：视觉检查装置包括：图像数据获取单元，用于在检查对象上采集多张图像数据A至C;图像比较单元，用于将图像数据A与C进行比较，从而产生多个符号附加差异 - 图像数据D和E，由图像数据获取单元获取的图像数据A至C，用于确定由图像比较单元创建的签署的差分图像数据D和E之间的差异的差分图像比较单元以及判断单元，用于对差分图像数据D和E之间的差值数据F进行阈值处理，差分数据F由差分图像比较单元获取，通过扩大差异来获得检测灵敏度在目视检查之间存在异常区域的图像的异常信号电平之间。

52. 发明授权

US4767924A Apparatus for optical monitoring with a high pressure lamp connected to a fiber optic cable 失效
标题翻译：用于连接到光纤电缆的高压灯进行光学监测的装置
公开(公告)号：US4767924A
公开(公告)日：1988-08-30
申请号：US87565
申请日：1987-08-19
申请人： Hayo Giebel , Viktor Baumgartner , Ralf-Dietrich Tilgner , Hans Heinold , Manfred Kuhne , Hartmut Federle , Rudiger Arnold , Werner Rech
发明人： Hayo Giebel , Viktor Baumgartner , Ralf-Dietrich Tilgner , Hans Heinold , Manfred Kuhne , Hartmut Federle , Rudiger Arnold , Werner Rech
IPC分类号： A24C5/34 , G01N21/952 , G01N9/04
CPC分类号： G01N21/952 , A24C5/3412 , G01N2021/8893
摘要： An apparatus for optical monitoring of the surface of rod-shaped smoking articles and/or filter rods for the tobacco industry comprises a conveying means transporting the rods perpendicularly to their longitudinal direction and a high-pressure lamp which serves as light source and which is connected via an optical fibre cable to a sensor block; the optical fibre cable is divided amongst at least two cross-section transformers with strip-shaped light exit regions whose light rays are directed via a further optical system from above and below respectively onto the line-shaped region of the surface of the rod. In addition the sensor block contains a row of photoelectric transducers which simultaneously the line-shaped surface region in the longitudinal direction of the rod and thereby pick up the light reflected at the surface of the rod.An arrangement controlled by the production cycle clock pulse determines by comparison surface faults from the output signals of the photoelectric transducers dependent on the reflectivity of the line-shaped region of the surface.
摘要翻译：用于光学监测用于烟草工业的棒状烟制品和/或过滤杆的表面的装置包括：传送装置，其垂直于其纵向方向传送杆;以及高压灯，其用作光源并且连接通过光缆到传感器块; 光纤电缆被分成至少两个横截面变压器，其带有带状光出射区域，其光线经由另外的光学系统从上方和下方分别引导到杆的表面的线状区域上。此外，传感器块包含一排光电换能器，其同时沿杆的纵向方向上的线状表面区域，从而拾取在杆表面反射的光。由生产周期时钟脉冲控制的布置通过比较来自光电传感器的输出信号的表面故障来确定，这取决于表面的线状区域的反射率。

53. 发明授权

EP2812656B1 VISUALISIERUNG VON HINWEISEN BEI DER INDUKTIONSTHERMOGRAFIE 有权
标题翻译：可视化表示。在诱导热成像技术
公开(公告)号：EP2812656B1
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：EP13730512.4
申请日：2013-06-12
申请人： Siemens Aktiengesellschaft
发明人： BIENKOWSKI, Lukasz Adam , HOMMA, Christian , ROTHENFUSSER, Max
IPC分类号： G01D7/00 , G01N25/72
CPC分类号： G01N25/72 , G01N21/8806 , G01N21/8851 , G01N2021/8877 , G01N2021/8893 , G01N2201/12

54. 发明公开

EP2776896A2 METHOD AND SYSTEM FOR POSITION CONTROL BASED ON AUTOMATED DEFECT DETECTION FEEDBACK 有权转让
标题翻译：根据反馈的自动故障检测方法和系统进行位置控制
公开(公告)号：EP2776896A2
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：EP12814017.5
申请日：2012-10-31
申请人： United Technologies Corporation
发明人： SCHEID, Paul, Raymond , GRANT, Richard , FLINN, Alan, Matthew , WANG, Hongcheng , XIONG, Ziyou
IPC分类号： G05B19/418 , F01D25/28 , F01D25/36 , G01N21/00 , G06T7/00 , H04N7/18
CPC分类号： G05B19/41875 , F01D17/02 , F01D21/003 , G01N21/8851 , G01N2021/8867 , G01N2021/8893 , G05B2219/37206 , G05B2219/37208 , Y02P90/22
摘要： A computer program product and method for performing position control on device members that have been identified as defective. The method may include providing a storage medium that stores data and programs used in processing images and a processing unit that processes the images, receiving, by the processing unit from an image capture device coupled to the processing unit, a set of images of a plurality of members inside of a device, detecting, by the processing unit, a defect in a first member of the plurality of members, and providing instructions to move the first member to an inspection position in the device. The device may be an engine and the members may be blades within the engine.
摘要翻译：用于对设备部件的位置控制的计算机程序产品和方法thathave被识别为有缺陷。该方法可以包括：提供一个存储介质做存储数据和在处理图像所使用的程序和处理单元所做处理的图像，从耦合到所述处理单元，一组的多个图像的图像捕获装置接收，由处理单元的装置的内部构件，检测，由所述处理单元，在部件的多个第一构件中的缺陷，并提供指令到所述第一构件移动到在所述装置的检查位置。该装置可以是发动机和所述构件可以是在发动机内叶片。

55. 发明公开

EP0595261A1 Method of inspecting solid body for foreign matter 失效
标题翻译： Methode zumPrüfeneinesFestkörpersauf Fremdstoffe。
公开(公告)号：EP0595261A1
公开(公告)日：1994-05-04
申请号：EP93117335.5
申请日：1993-10-26
申请人： KIRIN TECHNO-SYSTEM CORPORATION
发明人： Sumita, Masahiko, c/o Kirin Techno-Sys. Co.
IPC分类号： G01N21/90
CPC分类号： G01N21/9027 , G01N21/94 , G01N2021/8893 , G01N2033/0081
摘要： Small pieces of foreign matter on the surface of a cake such as freeze-dried preparations in a vial are detected as distinguished from cake surface irregularities including cake collapses and cracks that should be passed as being acceptable. The cake is imaged by a CCD camera or the like to produce an image signal representing an image of the cake. The level of an image signal which is higher than a predetermined upper limit is set to the upper limit and the level of an image signal which is lower than a predetermined lower limit is set to the lower limit. At least three pixel points, which include a point of interest and surrounding points one on each side of the point of interest, in an inspected region of the image are compared, and the point of interest is judged as being an abnormal point if the point of interest is brighter or darker than the surrounding points. An area in the inspected region is determined as containing foreign matter if the count of abnormal points in the area is larger than a predetermined lower limit and smaller than a predetermined upper limit.
摘要翻译：检测小饼表面上的小块异物如小瓶中的冷冻干燥制剂，与蛋糕表面不规则性不同，包括饼状物塌陷和应该通过的裂纹是可以接受的。通过CCD照相机等对蛋糕进行成像，以产生表示蛋糕图像的图像信号。将高于预定上限的图像信号的电平设置为上限，并将低于预定下限的图像信号的电平设置为下限。比较在图像的检测区域中至少包括感兴趣点和感兴趣点的每一侧上的周围点的三个像素点，并且将感兴趣点判断为异常点，如果该点感兴趣的是比周围的点更亮或更暗。如果区域中的异常点的数量大于预定的下限并且小于预定的上限，则被检查区域中的区域被确定为含有异物。

56. 发明申请

WO2018024957A1 PROCEDE D'INSPECTION OPTIQUE D'UN OBJET 审中-公开
标题翻译：光学检查对象的方法
公开(公告)号：WO2018024957A1
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：PCT/FR2017/051923
申请日：2017-07-12
申请人： VIT
发明人： ROUX, Romain
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/24 , G01N21/956
CPC分类号： G01N21/95684 , G01B11/22 , G01B11/25 , G01N21/8851 , G01N2021/8893
摘要： L'invention concerne un Procédé d'assistance à l'inspection optique d'un objet (46) comprenant les étapes suivantes : détermination d'une première image tridimensionnelle de l'objet; détermination d'une première image bidimensionnelle en couleur ou en niveaux de gris de l'objet; détermination d'au moins une première fenêtre (Fl) sur la première image bidimensionnelle entourant un défaut potentiel (44, 48) de l'objet à partir de la première image tridimensionnelle et/ou de la première image bidimensionnelle; détermination d'une deuxième image bidimensionnelle correspondant à la première image bidimensionnelle en dehors de la première fenêtre et correspondant à une première carte de profondeur de l'objet dans la première fenêtre; et détermination d'une deuxième image tridimensionnelle (I3D') correspondant à la première image tridimensionnelle sur laquelle est appliquée la deuxième image bidimensionnelle.
摘要翻译：
本发明涉及一种方法援助＆agrave; 对象（46）的光学检查包括以下步骤：确定所述对象的第一三维图像; 确定物体的颜色或灰度的第一二维图像; 至少确定围绕所述对象的潜在故障（44,48）的所述第一二维图像上的第一窗口（F1）从第一三维图像和/或第一二维图像中选择第一三维图像; 确定对应于第二个二维图像所述第一二维图像在所述第一窗口之外并且对应于所述第一二维图像在第一窗口中的对象的第一深度图; 和确定彼此对应的第二三维图像（I3D'）; 在其上应用第二个二维图像的第一个三维图像。

57. 发明申请

WO2015056790A1 亀裂検出システム及び亀裂検出方法审中-公开
标题翻译：破碎检测系统和破裂检测方法
公开(公告)号：WO2015056790A1
公开(公告)日：2015-04-23
申请号：PCT/JP2014/077718
申请日：2014-10-17
申请人：国立大学法人佐賀大学 , 国立大学法人長崎大学
发明人：伊藤　幸広 , 志岐　和久 , 松田　浩 , 出水　亨
IPC分类号： G01B11/16 , G01B11/30 , G01N25/72
CPC分类号： G01N21/956 , G01L5/00 , G01N21/8851 , G01N25/72 , G01N2021/8893 , H05B6/02 , H05B6/36
摘要：　検出対象物の検出対象部位を加熱すると共に、検出対象部位の被膜面の加熱前後における撮像画像を画像解析して、検出対象部位の被膜面を損なうことなく得られる検出対象部位のひずみ分布から、亀裂を検出できる亀裂検出システムである。検出対象物５０の検出対象部位５１を撮像手段１０で撮像した後、加熱手段２０で加熱し、この加熱による検出対象部位の変化は、検出対象部位と共に動く外側の被膜を通じて表面にも現れるため、再度検出対象部位を被膜ごと撮像し、加熱前後の撮像画像を画像解析手段３０で解析して、検出対象部位のひずみ分布を取得し、亀裂部分とそれ以外の部分とのひずみ状態の差異から亀裂を検出可能とする。これにより、被膜ごと検出対象部位を撮像すれば問題なく解析を進めて亀裂を検出でき、被膜を除去する必要が無く、検出作業の作業効率を向上させられる。
摘要翻译：一种裂纹检测系统，其能够加热检测对象的检测对象区域，分析在检测对象区域的被覆表面加热之前和之后拍摄的图像，以及从所获得的检测对象区域的应变分布检测裂纹，检测对象区域的表面。检测对象（50）的检测对象区域（51）的图像由摄像单元（10）取出，之后，利用加热单元（20）对检测对象区域（51）进行加热，由加热引起的检测对象区域也出现在与检测对象区域一起移动的外部涂层的表面上。因此，对于每个涂层重新检测目标区域的图像，通过图像分析装置（30）分析加热之前和之后拍摄的图像，获取检测对象区域的应变分布，并且可以从裂纹部分和非裂纹部分之间的应变状态差。通过该结构，能够不间断地进行分析，能够通过拍摄各涂膜的检测对象区域的图像来检测破裂，不需要去除涂膜，提高检测的工作效率。

58. 发明申请

WO2013128705A1 外観検査装置及び外観検査方法审中-公开
标题翻译：视觉检测设备和视觉检测方法
公开(公告)号：WO2013128705A1
公开(公告)日：2013-09-06
申请号：PCT/JP2012/077246
申请日：2012-10-22
申请人： WIT株式会社 , 内海正人
发明人：内海　正人
IPC分类号： G01N21/956 , G01B11/00 , G01B11/24 , H05K3/34 , H05K13/08
CPC分类号： G01B11/00 , G01B11/25 , G01N21/8851 , G01N21/95684 , G01N2021/8893 , G01N2021/95646 , H05K13/08
摘要：　プリント配線板に反りが生じた場合にも、検査ポイントを不良箇所に合わせて表示する。電子部品が実装された配線基板（５）を支持する支持部（６）と、検査対象となる電子部品を斜め上方から撮像する第１の撮像装置（７）と、配線基板（５）の法線方向に拡散し、対象電子部品について設定された要検査部位を通過する扇状光を上方から照射する照射装置（８）と、第１の撮像装置（７）が撮像した映像を表示するモニタ４とを備え、照射装置（８）の扇状光と、第１の撮像装置（７）の光軸α１とは９０°をなし、モニタ４には、第１の撮像装置（７）の映像において、照射装置（８）の扇状光と直交する上下方向のラインＬが表示され、扇状光とラインＬとの交点Ｐを電子部品の実装状態を検査する検査ポイントとする。
摘要翻译：该目视检查装置即使在印刷电路板中产生翘曲，也显示与故障区域对应的检查点。该装置设有：支撑单元（6），其支撑安装有电子部件的布线板（5）; 第一图像拾取装置（7），从对角上方拾取要检查的电子部件的图像; 照射装置（8），其从沿着布线基板（5）的法线方向扩散的扇形光的上方散射，并且穿过需要检查的区域，所述区域被设定为到要检查的电子元件; 以及显示器（4），其显示借助于第一图像拾取装置（7）拾取的图像。在从照射装置（8）辐射的扇形光与第一摄像装置（7）的光轴（α1）之间形成90°的角度，监视器（4）以第一图像拾取装置（7），与从照射装置（8）辐射的扇形光正交的垂直方向上的线（L）和扇形光与线的交点（P） L）被设定为要检查电子部件的安装状态的检查点。

59. 发明公开

KR1020130126370A 비아홀을 검사하는 방법 및 장치 有权
标题翻译：检查通孔的方法和装置
公开(公告)号：KR1020130126370A
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：KR1020120050462
申请日：2012-05-11
申请人： 한화테크윈 주식회사
发明人： 이활석
IPC分类号： H05K13/08 , H01L21/66 , G06T7/00 , G01B11/12 , G01N21/88
CPC分类号： H05K13/08 , G01B11/12 , G01N2021/8893 , G06T7/168 , H01L22/12
摘要： The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting a via hole using a camera. Regarding a method for inspecting a via hole formed in a material, the method for inspecting a via hole of the present invention comprises the following steps: (a) an image is generated by photographing a via hole area; (b) an edge is extracted in the image; (c) a maximum value is detected by performing Hough Transform of the edge; (d) a circle area centering a position having the maximum value is calculated; and (e) the state of the via hole is determined by comparing the maximum value, the position and the circle area with a reference value. [Reference numerals] (411) Image is generated by photographing a via hole area;(421) Edge is extracted in the image;(431) Maximum value is detected by performing Hough Transform of the edge;(441) Circle area centering a position having the maximum value is calculated;(451) Maximum value and circle area are compared to reference values;(461) Fair treatment;(462) Fail treatment;(AA) Start;(BB) Maximum value and circle area > Reference values ?;(CC) End
摘要翻译：本发明涉及一种使用相机检查通孔的方法和装置。关于形成在材料中的通孔的检查方法，本发明的通孔检查方法包括以下步骤：（a）通过拍摄通孔区域产生图像; （b）在图像中提取边缘; （c）通过执行边缘的霍夫变换来检测最大值; （d）计算以具有最大值的位置为中心的圆形区域; 和（e）通孔的状态通过将最大值，位置和圆面积与参考值进行比较来确定。（411）通过拍摄通孔区域来生成图像;（421）在图像中提取边缘;（431）通过执行边缘的霍夫变换来检测最大值;（441）以位置为中心的圆形区域计算最大值;（451）将最大值和圆面积与参考值进行比较;（461）公平处理;（462）失效处理;（AA）起始;（BB）最大值和圆面积>参考值？ ;（CC）结束

60. 发明专利

KR102228802B1 KR102228802B1 - Bonding defect inspection method using interference fringe during display panel PCB bonding process 有权
公开(公告)号：KR102228802B1
公开(公告)日：2021-03-17
申请号：KR1020190151225A
申请日：2019-11-22
申请人： (주)제이스텍
发明人： 백남석 , 정재완 , 최우범 , 김종희
IPC分类号： G01N21/956 , G01N21/88
CPC分类号： G01N21/956 , G01N21/8851 , G01N2021/8893 , G01N2021/95638
摘要： 본 발명은 디스플레이 패널 PCB 본딩 공정 시 간섭무늬를 이용한 본딩불량 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 FPC와 PCB 상호간을 전기적으로 연결하기 위해 사용하는 ACF를 파우더 형태로 사용하여 비용을 절감하고, ACF 파우더를 통해 압착본딩 후 본딩불량을 검사시에는, 본딩부위를 촬상장치로 촬상하여 해당부위의 등고선 형태 간섭무늬를 확인할 수 있도록 함으로써, 간섭무늬의 등고선을 통한 높이가 사전설정범위 높이차에 해당되는지를 확인함으로서, 본딩불량을 손쉽고 용이하게 검사할 수 있도록 한 디스플레이 패널 PCB 본딩 공정 시 간섭무늬를 이용한 본딩불량 검사 방법에 관한 것이다.

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