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    • 56. 发明授权
    • Solid-state thin-film capacitor
    • 固态薄膜电容器
    • US08786049B2
    • 2014-07-22
    • US13260078
    • 2010-07-23
    • Hooman Hafezi
    • Hooman Hafezi
    • H01L21/02
    • H01G4/33
    • Solid-state thin-film capacitors are provided. Aspects of the solid-state thin-film capacitors include a first electrode layer of a transition metal, a dielectric layer of an oxide of the transition metal, and a second electrode layer of a metal oxide. Also provided are methods of making the solid-state thin-film capacitors, as well as devices that include the same. The capacitor may have one or more cathodic arc produced structures, i.e., structures produced using a cathodic arc deposition process. The structures may be stress-free metallic structures, porous layers and layers displaying crenulations. Aspects of the invention further include methods of producing capacitive structures using chemical vapor deposition and/or by sputter deposition.
    • 提供固态薄膜电容器。 固体薄膜电容器的方面包括过渡金属的第一电极层,过渡金属的氧化物的电介质层和金属氧化物的第二电极层。 还提供了制造固态薄膜电容器的方法以及包括它们的装置。 电容器可以具有一个或多个阴极电弧产生结构,即使用阴极电弧沉积工艺制造的结构。 这些结构可以是无应力的金属结构,多孔层和显示出齿的层。 本发明的方面还包括使用化学气相沉积和/或通过溅射沉积制造电容结构的方法。