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    • 52. 发明申请
    • MESSEINHEIT, MESSSYSTEM UND VERFAHREN ZUM ERMITTELN EINER RELATIVPOSITION UND RELATIVORIENTIERUNG
    • 测量单元测量系统和一种用于确定位置和相对取向的相对
    • WO2012028388A1
    • 2012-03-08
    • PCT/EP2011/062787
    • 2011-07-26
    • CARL ZEISS AGSCHMIDT, OliverKOOS, ChristianSPRUCK, BerndHÖLLER, Frank
    • SCHMIDT, OliverKOOS, ChristianSPRUCK, BerndHÖLLER, Frank
    • G01B11/00G01S17/06
    • G01B11/14G01B11/005G01B11/26G01S17/875
    • Eine Messeinheit (1) ist zum Ermitteln einer relativen Position und relativen Orientierung zwischen der Messeinheit (1) und einer Anordnung (20) von mindestens drei optischen Elementen (21-23) eingerichtet. Die Messeinheit umfasst eine Längenmesseinrichtung, die Messstrahlen (16, 17) an mindestens drei voneinander beabstandeten Stellen (3-5) aussendet, und mindestens eine Strahllenkeinrichtung, die eingerichtet ist, um die Messstrahlen auf optische Elemente (21-23) der Anordnung (20) zu lenken. Die mindestens eine Strahllenkeinrichtung ist steuerbar, um wenigstens einen der Messstrahlen (16, 17) zeitsequentiell auf mehrere optische Elemente (21-23) der Anordnung (20) zu lenken, um zeitsequentiell mehrere Längenmessvorgänge derart durchzuführen, dass bei den mehreren Längenmessvorgängen jeder Messstrahl (16, 17) des wenigstens einen Messstrahls (16, 17) auf genau eines der optischen Elemente (21-23) trifft. Insgesamt werden so sechs Längen gemessen.
    • 测量单元(1),用于确定所述测量单元(1)和至少三个光学元件(21-23)的组件(20)之间的相对位置和相对方位布置。 所述测量单元包括一个长度测量装置,在至少三个测量光束(16,17)间隔开的位置(3-5)发射和至少一个波束转向装置,其适于测量光束到光学元件(21-23)(组件20 )指导。 所述至少一个波束转向装置是可控的,以测量光束中的至少一个(16,17)上的多个光学元件(21-23)时间顺序以引导组件(20)顺序地执行多个时间长度测量操作,使得(在所述多个长度测量过程中,每个测量光束的 所述至少一个测量光束(16,17),以恰好之一的16,17),所述光学元件(21-23)适用。 总共六个长度被测量。
    • 59. 发明申请
    • GETARNTE GITTERSTRUKTUREN
    • WO2021063910A1
    • 2021-04-08
    • PCT/EP2020/077167
    • 2020-09-29
    • CARL ZEISS JENA GMBH
    • THOMAE, Daniel
    • H04N7/14F21V8/00
    • Vorgeschlagen wird ein Wellenleiter (1) mit einem teiltransparenten Einkoppelabschnitt (1E), mit einem vom Einkoppelabschnitt (1E) in seitlicher Richtung räumlich beabstandeten Auskoppelabschnitt (1A), mit einem außerhalb des Einkoppelabschnitts (1E) und außerhalb des Auskoppelabschnitts (1A) im Wesentlichen transparenten Basiskörper (2), wobei der transparente Basiskörper (2) eine Vorderseite (2V) und eine Rückseite (2R) aufweist, wobei der Wellenleiter (1) im Einkoppelabschnitt (1E) eine diffraktive Einkoppelstruktur (3) aufweist, wobei der Wellenleiter (1) im Auskoppelabschnitt (1A) eine Auskoppelstruktur (4) aufweist, wobei die diffraktive Einkoppelstruktur (3) dazu eingerichtet ist, von einem zu detektierenden Objekt (6) kommende und im Einkoppelabschnitt (1E) auf eine Vorderseite (1V) des Wellenleiters (1) treffende Strahlung nur zu einem Teil so zu beugen, dass der gebeugte Teil als eingekoppelte Strahlung (SE) im Basiskörper (2) durch Reflexionen bis zum Auskoppelabschnitt (1A) propagiert, wobei die Auskoppelstruktur (4) von der auf sie treffenden eingekoppelten Strahlung (SE) wenigstens einen Teil so umlenkt, dass der umgelenkte Teil als ausgekoppelte Strahlung (SA) aus dem Basiskörper (2) im Auskoppelabschnitt (1A) über die Vorderseite (2V) oder die Rückseite (2R) des Basiskörpers (2) austritt, und wobei die diffraktive Einkoppelstruktur (3) eine wenigstens zu einem Rand des Einkoppelabschnitts (1E) hin stetig abnehmende Beugungseffizienz aufweist.
    • 60. 发明申请
    • VORRICHTUNGEN UND VERFAHREN ZUR MIKROSKOPIE FÜR DREIDIMENSIONALE SUPERAUFLÖSUNG
    • WO2021008898A1
    • 2021-01-21
    • PCT/EP2020/068785
    • 2020-07-03
    • CARL ZEISS AG
    • TRAUTMANN, NilsVOGL, UlrichSIYUSHEV, Petr
    • G02B21/00G01N24/10G02B21/16G02B27/58
    • Eine Aufgabe der Erfindung ist es, Vorrichtungen und Verfahren zur Mikroskopie zu verbessern und deren Handhabung zu erleichtern. Hierfür wird in einem Verfahren ein Abbild eines Testobjekts superauflösend basierend auf einer Fluoreszenz von einer Vielzahl ein NV-Zentren, die das Testobjekt aufweist, rekonstruiert. Dabei wird ein Raumbereich mit dem Testobjekt mit einem Anregungslicht für die NV-Zentren und mit einer Mikrowellenstrahlung bestrahlt, deren Frequenz jener Frequenz entspricht, bei welcher eine resonante Mikrowellenabsorption auftritt. Raumabschnitte des Raumbereichs werden mit einer Auflösung jenseits eines Abbe-Limits abgerastert, wobei je Raumabschnitt der Raumabschnitte die Mikrowellenstrahlung zum Bestrahlen so erzeugt, dass diese einen Mikrowellenfeldverlauf aufweist, lokal im jeweiligen Raumabschnitt verschwindet und eine jeweilige Raumausdehnung des Verschwindens der Mikrowellenstrahlung bei dem jeweiligen Raumabschnitt zumindest in einer Dimension begrenzt ist auf eine Ausdehnung, welche kleiner als das Abbe-Limit ist. Außerdem wird beim Abrastern je Raumabschnitt der Raumabschnitte ein Licht im jeweiligen Raumabschnitt zumindest in einem Spektralbereich optisch erfasst, welcher dem Emissionslicht der NV-Zentren entspricht. Schließlich wird das Abbild des Testobjekts basierend auf dem in den jeweiligen Raumabschnitten erfassten Licht rekonstruiert.