专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

51. 发明公开

KR1020030007279A 리튬이온 전지의 테스트용 프로브 有权
标题翻译：锂离子电池的测试探针
公开(公告)号：KR1020030007279A
公开(公告)日：2003-01-23
申请号：KR1020020072483
申请日：2002-11-20
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067
摘要： PURPOSE: A testing probe of a lithium ion cell is provided to stably perform a testing operation by insulating a head of an internal plunger from a head of an external plunger. CONSTITUTION: An external plunger(110) has a hollow cylindrical shape. An internal plunger(100) protrudes from the external plunger(110). The internal plunger(100) rotates at an inside of the external plunger(110) by an elastic force. An extension contacting portion(101) is integrally formed on the internal plunger(100). The extension contacting portion(101) is connected to an internal plunger head(130). The extension contacting portion(100) performs the same function as that of the rotation contacting member(134). The elastic spring(150) is formed at the internal plunger(100) and provides an elastic force to the internal plunger(100). A contacting portion(124) is formed at an upper end of an external plunger head(120). An insulator(160) is formed between the external plunger(110) and the internal plunger(100), and disconnects the external plunger(110) and the internal plunger(100) from each other.
摘要翻译：目的：提供锂离子电池的测试探针，以通过将内部柱塞的头部与外部柱塞的头部绝缘来稳定地执行测试操作。构成：外部柱塞（110）具有中空圆柱形状。内部柱塞（100）从外部柱塞（110）突出。内部柱塞（100）通过弹性力在外部柱塞（110）的内部旋转。延伸接触部分（101）一体地形成在内部柱塞（100）上。延伸接触部分（101）连接到内部柱塞头（130）。延伸接触部分（100）执行与旋转接触部件（134）相同的功能。弹性弹簧（150）形成在内部柱塞（100）处并向内部柱塞（100）提供弹性力。接触部分（124）形成在外部柱塞头（120）的上端。绝缘体（160）形成在外部柱塞（110）和内部柱塞（100）之间，并且使外部柱塞（110）和内部柱塞（100）彼此断开。

52. 外观设计

KR3003098330000S 有权
公开(公告)号：KR3003098330000S
公开(公告)日：2002-10-31
申请号：KR3020010029128
申请日：2001-10-18
申请人： 리노공업주식회사
设计人： 이채윤

53. 外观设计

KR3003098320000S 有权
公开(公告)号：KR3003098320000S
公开(公告)日：2002-10-31
申请号：KR3020010029127
申请日：2001-10-18
申请人： 리노공업주식회사
设计人： 이채윤

54. 发明公开

KR1020020023319A 리튬이온 전지의 테스트용 프로브 无效
标题翻译：锂离子电池测试探针
公开(公告)号：KR1020020023319A
公开(公告)日：2002-03-28
申请号：KR1020020002543
申请日：2002-01-16
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067
摘要： PURPOSE: A test probe of a lithium ion battery is provided to reduce a contact resistance and a contact pressure by increasing a contact force of a contacting part. CONSTITUTION: A receiving body(100) is formed with a main body(110) and an auxiliary body(120). An upper plunger(200) and a lower plunger(400) are located in a receiving part of the receiving body(100). The upper plunger(200) and the lower plunger(400) are combined with a barrel(300). The barrel(300) is inserted into a guide hole. An auxiliary guide hole is formed at both sides of the guide hole. A guide pin(500) is inserted into an inside of the auxiliary guide hole. The guide pin(500) is combined with the upper plunger(200). A projection is formed to a lower side direction of the auxiliary guide hole. An elastic member(600) is installed on an outer circumference of the guide pin(500). A circular space(124) is formed on a center portion of the auxiliary body(120). A contact head portion of a lower contact portion(700) is inserted into the circular space(124).
摘要翻译：目的：提供锂离子电池的测试探针，通过增加接触部分的接触力来降低接触电阻和接触压力。构成：接收体（100）形成有主体（110）和辅助体（120）。上柱塞（200）和下柱塞（400）位于接收体（100）的接收部分中。上柱塞（200）和下柱塞（400）与筒（300）组合。筒（300）插入导孔中。辅助导向孔形成在导向孔的两侧。引导销（500）插入到辅助引导孔的内部。引导销（500）与上柱塞（200）组合。突起形成在辅助导孔的下侧方向。弹性构件（600）安装在引导销（500）的外周上。在辅助体（120）的中心部分上形成圆形空间（124）。下接触部分（700）的接触头部分插入圆形空间（124）中。

55. 实用新型

KR200264548Y1 칩 검사용 소켓장치 失效
公开(公告)号：KR200264548Y1
公开(公告)日：2002-02-19
申请号：KR2020010031810
申请日：2001-10-18
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： H01R33/76
摘要： 본 고안은 소켓장치에 관한 것으로, 베이스 회로기판에 설치되며, 길이방향으로 등간격의 탐침결합공(101)이 형성되며 하측방향으로 유동방지턱(150)이 형성된 하부베이스판(100)과; 상기 하부베이스판(100)의 상면에 형성된 맞춤핀(110)과; 하측에서 상측으로 결합공(미도시)이 형성되어 상기 맞춤핀(110)에 삽입결합되어 상기 하부베이스판(100)의 상면에 결합되고, 상기 하부베이스판(100)의 탐침결합공(101)과 연통되는 탐침결합공(101)이 등간격으로 형성되며, 탐침결합공(101)에 상측방향으로 유동방지턱(150)이 형성된 상부베이스판(120)과; 상기 하부베이스판(100)과 상기 상부베이스판(120)의 연통 탐침결합공(101)에 삽입되며 양단부에 탄성적으로 상하유동되는 유동핀(131)이 형성된 탐침(130)과; 상기 상부베이스판(120)의 상면에 돌출되게 상기 상부베이스판(120)과 일체로 형성되며 상기 탐침결합공(101)과 연통되는 관통공이 형성되어 상기 탐침(130)의 단부 인접부를 지지하는 하우징(140);을 포함하여 구성되는 칩 검사용 소켓장치를 기술적 요지로 한다. 이에 따라, 칩 검사시 탐침의 유동핀이 소정유동되어 균등한 접촉이 이루어짐에 의해 검사의 신뢰성이 향상되고 소켓에 수용되는 탐침의 좌우유동이 방지되어 안정된 검사가 이루어지는 이점이 있다.

56. 实用新型

KR200260961Y1 에프피시비 검사장치 失效
标题翻译： FPC检测设备
公开(公告)号：KR200260961Y1
公开(公告)日：2002-01-17
申请号：KR2020010031811
申请日：2001-10-18
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/06
摘要： 본 고안은 FPCB 검사장치에 관한 것으로, 상부면에 다수개의 격벽(101)이 형성되어 격벽(101)과 격벽(101)사이에 검사대상물인 FPCB의 일단이 삽입되는 슬롯이 형성된 베이스판(100)과; 상기 슬롯에 설치되고, 회동핀(102)을 중심으로 회동되며, 전면부에 상하로 관통된 삽입공(111)이 형성된 회동검사판(110)과; 상기 베이스판(100)과 상기 회동검사판(110)을 연결하여 형성되며 회동검사판(110)에 탄성복원력을 제공하는 탄성스프링(120)과; 상기 삽입공(111)에 삽입수용되며 상측이 개구되고, 일측단부에 상기 FPCB와 접촉되는 탐침첨부(131)가 형성된 리셉터클(130); 그리고, 상기 리셉터클(130)의 개부부에 삽입되어 리셉터클(130)과 전기적으로 접속되며, 상단부에 접촉력에 의해 상하로 유동되는 유동부(141)가 형성된 핀(140);을 포함하여 구성되는 FPCB 검사장치를 기술적 요지로 한다. 이에 따라, 여러개의 에프피시비(flexible printed circuit board)의 검사가 동시에 가능하며, 전기적 접속이 우수하다는 이점이 있다.

57. 实用新型

KR200260960Y1 칩 검사용 탐침장치 失效
标题翻译：芯片检测探针
公开(公告)号：KR200260960Y1
公开(公告)日：2002-01-17
申请号：KR2020010031809
申请日：2001-10-18
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067
摘要： 본 고안은 탐침장치에 관한 것으로, 상하가 개구되고 양단부에 내측으로 절곡된 절곡부(101)가 형성된 외통(100)과; 상기 외통(100) 내부의 양단부 인접부에 각각 수용되며, 단부에 접촉부(111)가 형성되어 외통(100)내벽면과 접촉되어 상하로 유동되는 한쌍의 접촉핀(110)과; 상기 접촉핀(110)의 접촉부(111) 단부에 각각 형성되며, 상호간에 접촉되어 접촉핀(110) 유동시 슬라이딩 이동 접촉되어 접촉핀(110)과 접촉핀(110)을 전기적으로 연결시키는 판스프링(120); 그리고, 상기 외통(100)내부에 형성되며, 상기 한쌍의 접촉부(111) 단부에 각각 접촉되어 접촉핀(110)에 탄성력을 제공하는 압축코일스프링(130);을 포함하여 구성되는 칩 검사용 탐침장치를 기술적 요지로 한다. 이에 따라, 상,하 한쌍의 접촉핀이 상호간에 직접접촉됨에 의해 접촉핀 접촉시 발생되는 접촉저항을 최소화하며, 압축코일스프링에 의해 상하로 유동됨에 의해 검사하고자 하는 칩과의 접촉을 양호하게 하여 건사신뢰성을 향상시키는 이점이 있다.

58. 实用新型

KR200260959Y1 웨이퍼 검사용 프로브 장치 失效
标题翻译：用于晶片检测的探测装置
公开(公告)号：KR200260959Y1
公开(公告)日：2002-01-17
申请号：KR2020010031808
申请日：2001-10-18
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/06
摘要： 본 고안은 프로브장치에 관한 것으로, 전기적테스트 장비와 전기적으로 연결되며 중앙부에 접속단자가 형성된 PCB기판(100)과; 상기 PCB기판(100)의 하면에 나사결합되며 하측에 내측으로 돌출되는 결합턱(111)이 구비된 소켓가이드(110)와; 상기 소켓가이드(110)에 안내되어 일측은 상기 PCB기판(100)에 접촉되고 타측은 상기 소켓가이드(110)에 접촉되고, 다단으로 형성되어 분리되며, 상하로 관통된 탐침결합공(121)이 형성되어 탐침결합공(121)내에 분리방지턱(126)이 형성된 소켓(120); 그리고, 상기 소켓(120)의 탐침결합공(121)에 결합되고 양단부에 유동핀(132)이 형성되어 일측단부는 상기 PCB기판(100)에 접촉되고 타측단부는 검사용 웨이퍼에 접촉되어 웨이퍼에서 전달되는 접촉압력에 의해 유동핀(132)이 탄성적으로 유동되어 웨이퍼단자와 PCB기판(100) 단자를 전기적으로 접속시키는 탐침(130);을 포함하여 구성되는 웨이퍼검사용 프로브 장치를 기술적 요지로 한다. 이에 따라, 웨이퍼와 전기적 접속장치간을 전기적으로 연결시켜 웨이퍼의 손상없이 웨이퍼 테스트가 수행되는 이점이 있다.

59. 实用新型

KR200205730Y1 전기적 접속장치 失效
标题翻译：用于互连电气联系的装置
公开(公告)号：KR200205730Y1
公开(公告)日：2000-12-01
申请号：KR2020000017170
申请日：2000-06-16
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： H01R13/514
摘要： 본 고안은 접속장치에 관한 것으로, 중앙부에 가로방향으로 슬롯(101)이 형성되고, 양측에 분리부재(160)가 형성된 하우징(100)과; 상기 하우징(100)의 하면에 형성된 공간부(102)와; 상기 하우징(100)의 공간부(102)에 결합되고, 상기 하우징(100)과 연통되는 결합공간부(111)가 형성된 결합부재(110)와; 상기 결합부재(110)의 상면에 소정 이격되어 한쌍이 평행하게 형성되어 외부압력에 의해 수축되는 탄성체(120); 그리고 일측 접촉부(131)가 상기 결합부재(110)의 하부면에 등간격으로 소정이격되게 평행하게 형성된 관통공(113)에 삽입 고정되고, 상기 결합부재(110)의 상측으로 소정돌출 되도록 형성되며, 상기 탄성체(120)에 밀착 접촉되어, 상기 하우징(100)의 슬롯(101)을 통하여 상기 결합부재(110)의 결합공간부(111) 내부로 삽입되는 기판(140)의 가압력에 의해 상기 일측접촉부(131)를 중심으로 상기 탄성체(120)측으로 소정유동됨과 동시에 상기 기판(140)에 형성된 도전성 물질에 타측접촉부(132)가 접촉되어 일측접촉부(131)측과 타측접촉부(132)측을 전기적으로 연결시키는 접촉편(130);을 포함하여 구성되는 전기적 접속장치를 기술적 요지로 한다. 이에 따라, 직접회로 기판등과 PCB 기판등을 접촉편(130)을 이용하여 상호간에 전기적으로 연결시키되, 탄성체(120)를 이용하여 상기 기판(140)에 상기 탄성체(120)를 밀착 접촉시킴에 의해 접점간의 연결이 양호해지며, 기판과 기판이 상호 연결되는 과정에서 상기 접촉편(130)의 일측접촉부(131)는 접점을 중심으로 아주 미세하게 회동만 하므로, 접점의 좌,우이동에 의해 발생되는 PCB 기판등의 도전성 접점의 훼손이 방지되는 이점이 있다.

60. 实用新型

KR2019990022531U 칩 검사장치 失效
标题翻译：探针芯片设备
公开(公告)号：KR2019990022531U
公开(公告)日：1999-07-05
申请号：KR2019990004084
申请日：1999-03-11
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본고안은칩 검사장치에관한것으로, 칩검사장치는, 테스트부의상부에설치되는베이스회로기판(51); 베이스회로기판(51)의상부에설치되고중앙영역에형성된중공부에검사될칩이장착되는베이스지지대(53); 및베이스지지대(53)의중공부에설치되어칩의성능을검사하는다수개의검사용탐침부(71)를포함하고있고, 각탐침부(71)는, 일단이베이스회로기판(51)과접속하여고정되고타단이칩의검사단자(60)에인접하도록수직방향으로상향연장되는검사용탐침(72); 탐침(72)의상부영역에서탐침(72)의길이방향으로삽입되어끼워지는탄성지지스프링(73); 검사용탐침(72)의상단부에끼워져탄성지지스프링(73)에의해탄성적으로지지되고, 그상단의내주부분이완만하게라운딩되어형성되는안착부(74a)에칩의검사단자(60)가검사를위해안착되는통모양을갖는슬리브(74)를포함하여, 검사대상칩이검사도중손상되지않도록한 것이다.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式