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41. 实用新型

KR200260310Y1 국기함 失效
公开(公告)号：KR200260310Y1
公开(公告)日：2002-01-10
申请号：KR2020010031690
申请日：2001-10-17
申请人： 송원영
发明人： 송원영
IPC分类号： A47G35/00
摘要： 본 고안은 국기와 깃봉 및 깃대를 함께 보관하는 국기함에 관한 것으로, 수납본체와 뚜껑체로 분할된 상태에서 개폐가능하게 조립되는 국기함에 있어서, 상기 수납본체는 상단이, 상기 뚜껑체는 하단이 개구되며, 상기 수납본체 및 뚜껑체 각각의 힌지설치단에 길이방향을 향해 일정간격 이격된 채 서로 대칭상태 로 형성되는 힌지끼움부와; 핀축을 회전기점으로 하여 탄력적으로 회전가능하게 조립된 양측 힌지편이 상기 힌지끼움부 각각에 끼움되어 상기 수납본체와 뚜껑체를 탄력적으로 개폐작동시키는 탄성힌지와; 상기 수납본체 및 뚜껑체 각각의 내부에는 상기 힌지설치단에 근접하는 한편, 힌지끼움부와는 좁은 간격으로 이격된 채 길이방향으로 길게 형성되는 격벽과; 상기 수납본체 및 뚜껑체 각각의 내부에는 길이방향을 향해서는 일정간격으로 이격된 채 폭방향을 향해 서로 마주하도록 양측에 형성되며, 깃대를 안정되게 지지하기 위한 지지홈이 형성되어 있는 지지용 칸막이를 구성하여서 된 것을 특징으로 하는 고안이다.

42. 实用新型

KR200202473Y1 국기함 失效
标题翻译：标志盒
公开(公告)号：KR200202473Y1
公开(公告)日：2000-11-15
申请号：KR2020000010378
申请日：2000-04-12
申请人： 송원영
发明人： 송원영
IPC分类号： A47G35/00
CPC分类号： A47G35/00 , A47G29/122 , B65D11/1873
摘要： 본 고안은 국기함에 관한 것으로, 육면체의 상자형상으로 이루어져 수납공간이 형성된 국기함에 있어서,
절첩이 가능하게 형성된 직선의 절첩부를 경계로 하여 전면부, 바닥부, 배면부, 덮개부, 결속부의 순서로 전개되며, 상기한 각각의 면부를 서로 직각이 되게 순서적으로 절첩시 상기 결속부가 상기 전면부를 덮어 사각형의 단면을 이루는 제1부재와;
절첩이 가능하게 형성된 직선의 절첩부를 경계로 하여 좌측면부, 지지부, 우측면부의 순서로 전개되는 것으로, 조립시 3면이 'ㄷ'자 형상이 이루어지도록 상기한 좌ㆍ우측면부의 양끝단에 형성된 결합부를 상기 배면부의 양끝단에 각각 고정시켜, 전면부를 이중으로 지지토록 하는 제2부재와;
상기한 전면부의 내측면과 상기한 지지부의 외측면에 각각 형성되어 암수결합되는 제1결속수단과;
상기한 전면부의 외측면과 상기한 결속부의 내측면에 각각 형성되어 암수결합되는 제2결속수단으로 구성되어 전개 및 조립이 가능한 것을 특징으로 한다.

43. 发明授权

KR101158284B1 융합계측장치 有权
标题翻译：融合测量装置
公开(公告)号：KR101158284B1
公开(公告)日：2012-06-19
申请号：KR1020100019129
申请日：2010-03-03
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 이주엽 , 송운 , 최진호 , 안상정 , 유준 , 송원영 , 홍재완 , 백승헌
IPC分类号： G01Q60/02 , G01Q80/00 , H01J37/26 , G01B21/30
摘要： 본 발명은 계측의 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있는 융합계측장치를 개시한다. 그의 장치는 기판 표면을 원자레벨 수준으로 계측하는 원자현미경과, 상기 원자현미경 및 상기 기판을 계측하는 전자현미경과, 상기 전자현미경으로 상기 원자현미경 및 상기 기판을 모니터링 할 때, 원자현미경의 캔틸레버에 가려지는 기판 상의 이차전자의 경로를 왜곡하여 전자현미경의 전자 검출기로 진행시키는 적어도 하나의 전극을 포함한다.

44. 发明授权

KR100473791B1 주사형 탐침 현미경용 나노니들팁과 그 제조 장치 및 제조방법 有权
标题翻译：用于扫描探针显微镜的纳米级提示，装置及其制造方法
公开(公告)号：KR100473791B1
公开(公告)日：2005-03-08
申请号：KR1020020052591
申请日：2002-09-02
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 정기영 , 송원영 , 오범환 , 엄태봉
IPC分类号： G01Q70/12 , B82Y35/00 , B82Y40/00
摘要： 본 발명은 주사형 전자현미경 (scanning electron microscope; SEM) 나노니들 조작기 (nanoneedle manipulator)를 이용하여, 모체 팁의 형상에 상관없이, 상기 모체 팁에 고정되는 탄소나노튜브(canbon nanotube) 또는 나노와이어 (nanowire)와 같은 나노니들(nanoneedle) 의 방향 및 상기 모체 팁의 끝으로부터 도출되는 나노니들의 길이가 조절된, 주사형 탐침 현미경(scanning probe microscope; SPM)용 나노니들팁(nanoneedle tip)과 그 제조장치 및 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 주사형 탐침 현미경용 나노니들팁 제조장치는, 모체 팁을 고정하고 자유도가 상대적으로 큰 모체 팁 스테이지와, 그 모체 팁에 부착될 나노니들을 고정하고, 자유도가 상대적으로 큰 나노니들 스테이지를 포함하고, 상기 스테이지들 및 상기 스테이지들을 구성하는 복수개의 요소들이 수동적으로 수평, 수 직 및 회전되면서 주사형 탐침 현미경용 나노니들팁을 제조하는 데에 특징이 있다.

45. 发明授权

KR100679620B1 ＡＦＭ 나노튜브 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해제조되는 ＡＦＭ 나노튜브 탐침 有权
标题翻译：制备AFM纳米管探针和AFM纳米管探针的方法
公开(公告)号：KR100679620B1
公开(公告)日：2007-02-06
申请号：KR1020050006561
申请日：2005-01-25
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 정기영 , 송원영 , 홍재완 , 오범환 , 안상정
IPC分类号： G01Q70/16 , H01J37/28 , C01B31/02 , B82Y40/00
摘要： 본 발명은 AFM(Atomic Force Microscope)의 나노튜브 탐침(nanotube-probe)의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 나노튜브 탐침에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 나노튜브가 부착되는 탐침의 팁(tip)과 나노튜브 사이의 이종접합(heterojunction)에 의해 나노튜브가 탐침의 팁에 보다 견고하게 고착되고, 이종접합에 의해 탐침과 나노튜브 사이의 전도성을 개선 수 있으며, 기존의 나노튜브 탐침과는 달리 탐침의 팁에 부착되는 나노튜브에 불순물이 부착되는 것을 근원적으로 방지하여 기존의 나노튜브 탐침보다 우수한 스캐닝 영상을 얻을 수 있는, AFM의 나노튜브 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 나노튜브 탐침에 관한 것이다. 본 발명에 따른 AFM의 나노튜브 탐침의 제조 방법은, 상기 나노튜브를 상기 탐침의 팁(tip)에 부착시키는 단계와, 상기 나노튜브가 부착된 상기 탐침을 금속 기판 위에 올려 놓는 단계와, 상기 탐침이 올려져 있는 상기 금속 기판에 레이저(laser)를 조사하여 상기 금속 기판을 가열하는 단계를 포함한다.

46. 发明授权

KR100679619B1 이온빔을 이용한 ＳＰＭ 나노니들 탐침과 ＣＤ-ＳＰＭ나노니들 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해제조되는 ＳＰＭ 나노니들 탐침과 ＣＤ-ＳＰＭ 나노니들탐침 有权
标题翻译：用于制造SPM纳米级探针的方法和使用离子束和SPM NANNEEDLE探针和CD-SPM纳米级探针的关键尺寸SPM纳米级探针的方法
公开(公告)号：KR100679619B1
公开(公告)日：2007-02-06
申请号：KR1020050036631
申请日：2005-05-02
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 정기영 , 송원영 , 홍재완 , 오범환 , 안상정
IPC分类号： G01Q70/12 , B82Y35/00
CPC分类号： G01Q70/12 , G01Q60/38
摘要： 본 발명은 이온빔, 특히 집속된 이온빔(focused ion beam)을 이용하여 SPM(scanning probe microscope)의 나노니들 탐침(nanoneedle probe)을 제조하는 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 나노니들 탐침에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 SPM 탐침의 팁(tip)에 부착되는 나노니들의 지향 방향을 용이하게 조절할 수 있고 탐침의 팁에 부착되는 나노니들을 지향 방향으로 용이하게 펼(straightening) 수 있는 SPM 나노니들 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 SPM 나노니들 탐침에 관한 것이다.
본 발명은 또한 이온빔, 특히 집속된 이온빔을 이용하여 나노 스케일 수준의 측정물의 측면의 형상을 정확히 측정할 수 있는 CD-SPM 나노니들 탐침(critical dimension SPM nanoneedle probe)의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 CD-SPM 나노니들 탐침에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 SPM 탐침의 팁에 부착되는 나노니들 선단부의 일정 부분을 SPM 탐침의 팀에 부착되어 뻗어 나온 나노니들의 원래 방향과는 다른 임의의 방향으로 특정 각도만큼 휨으로써 나노 스케일 수준의 측정물의 측면의 형상을 정확히 측정할 수 있는 CD-SPM 나노니들 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 CD-SPM 나노니들 탐침에 관한 것이다.
본 발명에 따른 SPM 나노니들 탐침의 제조 방법은 상기 나노니들이 부착되는 상기 탐침의 팁을 이온빔이 조사되는 방향으로 향하도록 위치시키는 단계와, 상기 나노니들이 부착된 상기 탐침의 팁 방향으로 이온빔을 조사하여 상기 탐침의 팁에 부착된 상기 나노니들을 상기 이온빔과 평행하게 정렬시키는 단계를 포함한다.
또한, 본 발명에 따른 CD-SPM 나노니들 탐침의 제조 방법은 상기 탐침의 팁에 부착되는 상기 나노니들의 일정 부분을 마스크로 가리는 단계와, 상기 마스크 외부로 노출된 나노니들 부분에 이온빔을 조사하여 상기 마스크 외부로 노출된 나노니들 부분을 상기 조사된 이온빔의 방향으로 정렬시켜 휘도록 하는 단계를 포함한다.

47. 发明公开

KR1020060085743A ＡＦＭ 나노튜브 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해제조되는 ＡＦＭ 나노튜브 탐침 有权
标题翻译：制备AFM纳米管探针和AFM纳米管探针的方法
公开(公告)号：KR1020060085743A
公开(公告)日：2006-07-28
申请号：KR1020050006561
申请日：2005-01-25
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 정기영 , 송원영 , 홍재완 , 오범환 , 안상정
IPC分类号： G01Q70/16 , H01J37/28 , C01B31/02 , B82Y40/00
CPC分类号： G01Q70/16 , B82Y40/00 , C01B32/158 , G01Q60/24 , G01Q70/12 , H01J37/28
摘要： 본 발명은 AFM(Atomic Force Microscope)의 나노튜브 탐침(nanotube-probe)의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 나노튜브 탐침에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 나노튜브가 부착되는 탐침의 팁(tip)과 나노튜브 사이의 이종접합(heterojunction)에 의해 나노튜브가 탐침의 팁에 보다 견고하게 고착되고, 이종접합에 의해 탐침과 나노튜브 사이의 전도성을 개선 수 있으며, 기존의 나노튜브 탐침과는 달리 탐침의 팁에 부착되는 나노튜브에 불순물이 부착되는 것을 근원적으로 방지하여 기존의 나노튜브 탐침보다 우수한 스캐닝 영상을 얻을 수 있는, AFM의 나노튜브 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 나노튜브 탐침에 관한 것이다. 본 발명에 따른 AFM의 나노튜브 탐침의 제조 방법은, 상기 나노튜브를 상기 탐침의 팁(tip)에 부착시키는 단계와, 상기 나노튜브가 부착된 상기 탐침을 금속 기판 위에 올려 놓는 단계와, 상기 탐침이 올려져 있는 상기 금속 기판에 레이저(laser)를 조사하여 상기 금속 기판을 가열하는 단계를 포함한다.

48. 发明公开

KR1020110100052A 융합계측장치 有权
标题翻译：熔断测量装置
公开(公告)号：KR1020110100052A
公开(公告)日：2011-09-09
申请号：KR1020100019129
申请日：2010-03-03
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 이주엽 , 송운 , 최진호 , 안상정 , 유준 , 송원영 , 홍재완 , 백승헌
IPC分类号： G01Q60/02 , G01Q80/00 , H01J37/26 , G01B21/30
CPC分类号： G01Q60/08 , G01B21/30 , G01Q80/00 , G01R1/06727 , H01J37/285
摘要： 본 발명은 계측의 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있는 융합계측장치를 개시한다. 그의 장치는 기판 표면을 원자레벨 수준으로 계측하는 원자현미경과, 상기 원자현미경 및 상기 기판을 계측하는 전자현미경과, 상기 전자현미경으로 상기 원자현미경 및 상기 기판을 모니터링 할 때, 원자현미경의 캔틸레버에 가려지는 기판 상의 이차전자의 경로를 왜곡하여 전자현미경의 전자 검출기로 진행시키는 적어도 하나의 전극을 포함한다.

49. 发明公开

KR1020060122377A 탄소나노튜브 에미터를 구비하는 전계 방출 디스플레이 및그 제조 방법 有权
标题翻译：碳纳米管发射体场发射显示及其制备方法
公开(公告)号：KR1020060122377A
公开(公告)日：2006-11-30
申请号：KR1020050044794
申请日：2005-05-27
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 정기영 , 송원영 , 홍재완 , 안상정
IPC分类号： H01J1/304 , H01J9/02 , C01B31/02 , B82Y40/00
CPC分类号： H01J1/304 , B82Y40/00 , C01B2202/02 , C01B2202/04 , C01B2202/06 , H01J9/025 , H01J2201/30469 , H01J2329/00 , H01J2329/0455
摘要： A field emission display having a carbon nano tube emitter and a manufacturing method thereof are provided to improve uniformity of luminance by maximizing electron emission efficiency of a carbon nano tube. A lower substrate(101) is prepared. A cathode electrode(102) is formed on the lower substrate. A carbon nano tube emitter(103) is provided on the cathode electrode. A gate dielectric(104) is formed to surround the carbon nano tube emitter. A gate electrode(105) is formed on the gate dielectric. A whole surface plate(107) is provided to cover the gate electrode from an upper portion thereof at a certain space by the gate electrode and a spacer(106). An anode electrode(108) is formed under the whole surface plate to be faced to the gate electrode. A phosphor layer(109), which emits a light by electrons irradiated from the carbon nano tube, is formed on the anode electrode.
摘要翻译：提供具有碳纳米管发射体的场发射显示器及其制造方法，以通过使碳纳米管的电子发射效率最大化来提高亮度的均匀性。制备下基板（101）。阴极电极（102）形成在下基板上。碳纳米管发射体（103）设置在阴极上。形成栅电介质（104）以围绕碳纳米管发射体。栅极电极（105）形成在栅极电介质上。提供整个表面板（107）以通过栅电极和间隔件（106）在一定空间从其上部覆盖栅电极。阳极电极（108）形成在整个表面板下面以面对栅电极。在阳极上形成由碳纳米管照射的电子发射光的荧光体层（109）。

50. 发明公开

KR1020060045876A 이온빔을 이용한 ＳＰＭ 나노니들 탐침과 ＣＤ-ＳＰＭ나노니들 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해제조되는 ＳＰＭ 나노니들 탐침과 ＣＤ-ＳＰＭ 나노니들탐침 有权
标题翻译：用于制造SPM纳米级探针的方法和使用离子束和SPM NANNEEDLE探针和CD-SPM纳米级探针的关键尺寸SPM纳米级探针的方法
公开(公告)号：KR1020060045876A
公开(公告)日：2006-05-17
申请号：KR1020050036631
申请日：2005-05-02
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 박병천 , 정기영 , 송원영 , 홍재완 , 오범환 , 안상정
IPC分类号： G01Q70/12 , B82Y35/00
CPC分类号： G01Q70/12 , G01Q60/38
摘要： 본 발명은 이온빔, 특히 집속된 이온빔(focused ion beam)을 이용하여 SPM(scanning probe microscope)의 나노니들 탐침(nanoneedle probe)을 제조하는 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 나노니들 탐침에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 SPM 탐침의 팁(tip)에 부착되는 나노니들의 지향 방향을 용이하게 조절할 수 있고 탐침의 팁에 부착되는 나노니들을 지향 방향으로 용이하게 펼(straightening) 수 있는 SPM 나노니들 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 SPM 나노니들 탐침에 관한 것이다.
본 발명은 또한 이온빔, 특히 집속된 이온빔을 이용하여 나노 스케일 수준의 측정물의 측면의 형상을 정확히 측정할 수 있는 CD-SPM 나노니들 탐침(critical dimension SPM nanoneedle probe)의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 CD-SPM 나노니들 탐침에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 SPM 탐침의 팁에 부착되는 나노니들 선단부의 일정 부분을 SPM 탐침의 팀에 부착되어 뻗어 나온 나노니들의 원래 방향과는 다른 임의의 방향으로 특정 각도만큼 휨으로써 나노 스케일 수준의 측정물의 측면의 형상을 정확히 측정할 수 있는 CD-SPM 나노니들 탐침의 제조 방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 CD-SPM 나노니들 탐침에 관한 것이다.
본 발명에 따른 SPM 나노니들 탐침의 제조 방법은 상기 나노니들이 부착되는 상기 탐침의 팁을 이온빔이 조사되는 방향으로 향하도록 위치시키는 단계와, 상기 나노니들이 부착된 상기 탐침의 팁 방향으로 이온빔을 조사하여 상기 탐침의 팁에 부착된 상기 나노니들을 상기 이온빔과 평행하게 정렬시키는 단계를 포함한다.
또한, 본 발명에 따른 CD-SPM 나노니들 탐침의 제조 방법은 상기 탐침의 팁에 부착되는 상기 나노니들의 일정 부분을 마스크로 가리는 단계와, 상기 마스크 외부로 노출된 나노니들 부분에 이온빔을 조사하여 상기 마스크 외부로 노출된 나노니들 부분을 상기 조사된 이온빔의 방향으로 정렬시켜 휘도록 하는 단계를 포함한다.

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