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41. 发明专利

TW201005310A 測試晶圓、測試系統以及半導體晶圓 TESTING WAFER, TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR WAFER 审中-公开
简体标题：测试晶圆、测试系统以及半导体晶圆 TESTING WAFER, TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR WAFER
公开(公告)号：TW201005310A
公开(公告)日：2010-02-01
申请号：TW098118197
申请日：2009-06-02
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：渡邊大輔 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R , H01L
CPC分类号： G01R31/2889
摘要：一種測試用晶圓，對形成於半導體晶圓上、且分別具有動作電路及嵌入式記憶體的多個半導體晶片進行測試，該測試用晶圓包括：多個測試電路，對應於多個半導體晶片而設置，且向各自所對應的半導體晶片的動作電路供給測定用信號，對動作電路對應於測定用信號而輸出的信號的電氣特性進行測定；以及多個寫入電路，對應於多個半導體晶片而設置，且將與各自所對應的測試電路的測定結果相對應的資料寫入至對應的嵌入式記憶體。
简体摘要：一种测试用晶圆，对形成于半导体晶圆上、且分别具有动作电路及嵌入式内存的多个半导体芯片进行测试，该测试用晶圆包括：多个测试电路，对应于多个半导体芯片而设置，且向各自所对应的半导体芯片的动作电路供给测定用信号，对动作电路对应于测定用信号而输出的信号的电气特性进行测定；以及多个写入电路，对应于多个半导体芯片而设置，且将与各自所对应的测试电路的测定结果相对应的数据写入至对应的嵌入式内存。

42. 发明专利

TW200946935A 測試裝置、解調裝置、測試方法、解調方法以及電子元件 TEST DEVICE, DEMODULATION DEVICE, TEST METHOD, DEMODULATION METHOD AND ELECTRONIC DEVICE 失效
简体标题：测试设备、解调设备、测试方法、解调方法以及电子组件 TEST DEVICE, DEMODULATION DEVICE, TEST METHOD, DEMODULATION METHOD AND ELECTRONIC DEVICE
公开(公告)号：TW200946935A
公开(公告)日：2009-11-16
申请号：TW098108772
申请日：2009-03-18
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：山本和弘 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31703 , G01R31/31932 , H04L27/38
摘要：本發明提供一種測試裝置，為一種對將振幅相位調製信號作為輸出信號而輸出的被測試元件進行測試之測試裝置，其中，該振幅相位調製信號具有依據傳送數據而從多個位準及多個相位所選擇的位準及變化點的相位；該測試裝置包括：比較部，其在期待相位之前，將較期待位準小的第1比較位準來和輸出信號進行比較，在期待相位之後，將較期待位準大的第2比較位準及較期待位準小的第3比較位準來和輸出信號進行比較；以及判定部，其以輸出信號在期待相位前小於等於第1比較位準，在期待相位後小於等於第2比較位準且大於等於第3比較位準作為條件，而判定該輸出信號與期待值相一致。
简体摘要：本发明提供一种测试设备，为一种对将振幅相位调制信号作为输出信号而输出的被测试组件进行测试之测试设备，其中，该振幅相位调制信号具有依据发送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该测试设备包括：比较部，其在期待相位之前，将较期待位准小的第1比较位准来和输出信号进行比较，在期待相位之后，将较期待位准大的第2比较位准及较期待位准小的第3比较位准来和输出信号进行比较；以及判定部，其以输出信号在期待相位前小于等于第1比较位准，在期待相位后小于等于第2比较位准且大于等于第3比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。

43. 发明专利

TW200943724A 延遲電路、多段延遲電路及使用該些電路的時間數位轉換器、半導體測試裝置、環形振盪器以及延遲鎖相回路電路 DELAY CIRCUIT MULTI DELAY CIRCUIT AND TIME TO DIGITAL COMVERTOR APPLIED THE DELAY CIRCUIT, SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS, RING OSCILLATOR AND DELAY PHASE LOCK LOOP CIRCUIT 失效
简体标题：延迟电路、多段延迟电路及使用该些电路的时间数码转换器、半导体测试设备、环形振荡器以及延迟锁相回路电路 DELAY CIRCUIT MULTI DELAY CIRCUIT AND TIME TO DIGITAL COMVERTOR APPLIED THE DELAY CIRCUIT, SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS, RING OSCILLATOR AND DELAY PHASE LOCK LOOP CIRCUIT
公开(公告)号：TW200943724A
公开(公告)日：2009-10-16
申请号：TW097147157
申请日：2008-12-04
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：山本和弘 , 岡安俊幸
IPC分类号： H03K , H03L
CPC分类号： H03K5/14 , G01R19/2506 , G04F10/005 , H01L2924/0002 , H03K3/0315 , H03K5/15046 , H03K5/1508 , H03L7/0812 , H03M1/207 , H03M1/502 , H01L2924/00
摘要：延遲電路100具備MOSFET1及偏壓電壓源12a、12b。偏壓電壓源12a、12b將電壓施加至MOSFET1的汲極源極之間。偏壓電壓源12a將源極電壓Vss供給至MOSFET1的源電極106a，偏壓電壓源12b將汲極電壓Vdd供給至MOSFET1的汲電極106b。在MOSFET1的閘極中，使作為延遲對象的輸入信號IN沿著閘極寬度方向（y軸方向）傳輸。
简体摘要：延迟电路100具备MOSFET1及偏压电压源12a、12b。偏压电压源12a、12b将电压施加至MOSFET1的汲极源极之间。偏压电压源12a将源极电压Vss供给至MOSFET1的源电极106a，偏压电压源12b将汲极电压Vdd供给至MOSFET1的汲电极106b。在MOSFET1的闸极中，使作为延迟对象的输入信号IN沿着闸极宽度方向（y轴方向）传输。

44. 发明专利

TW432234B 光學訊號傳輸裝置及方法失效
简体标题：光学信号传输设备及方法
公开(公告)号：TW432234B
公开(公告)日：2001-05-01
申请号：TW087113317
申请日：1998-08-13
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：岡安俊幸
IPC分类号： G02B
CPC分类号： H04B10/564 , H04B10/506
摘要：一種可以抑止因溫度變化導致電源產生雜訊和電壓漂移、以及時序變動(Timing Jitter)與時序漂移等影響之光學訊號平行傳輸裝置。此種光學訊號平行傳輸裝置在光學訊號輸出端，配置有用以輸出直流參考電流之參考電流源，其電流值對應於雷射驅動器驅動電流之特定比例。此外，在光學訊號輸出端還配置有由直流參考電流驅動以產生標準參考光之參考雷射二極體。標準參考光經參考電流光電二極體轉換成對應之直流參考電流後，再由電流-電壓轉換電路將其轉換成參考電壓，並將參考電壓傳輸至訊號比較器。
简体摘要：一种可以抑止因温度变化导致电源产生噪声和电压漂移、以及时序变动(Timing Jitter)与时序漂移等影响之光学信号平行传输设备。此种光学信号平行传输设备在光学信号输出端，配置有用以输出直流参考电流之参考电流源，其电流值对应于激光驱动器驱动电流之特定比例。此外，在光学信号输出端还配置有由直流参考电流驱动以产生标准参考光之参考激光二极管。标准参考光经参考电流光电二极管转换成对应之直流参考电流后，再由电流-电压转换电路将其转换成参考电压，并将参考电压传输至信号比较器。

45. 发明专利

TWI378248B 傳送電路、傳送器、接收器以及測試裝置 TRANSMITTING CIRCUIT, TRANSMITTER, RECEIVER AND TESTING DEVICE 失效
简体标题：发送电路、发送器、接收器以及测试设备 TRANSMITTING CIRCUIT, TRANSMITTER, RECEIVER AND TESTING DEVICE
公开(公告)号：TWI378248B
公开(公告)日：2012-12-01
申请号：TW097133627
申请日：2008-09-02
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：渡邊大輔 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R , H04B
CPC分类号： H03F3/45085 , G01R31/31715 , H03F3/245 , H03F3/45659 , H03F2200/423 , H03F2200/543 , H03F2203/45521
摘要：一種傳送電路，具備輸出傳送信號的傳送器以及接收傳送信號的接收器，接收器對傳送器供給反饋信號，該反饋信號用於對傳送器輸出的傳送信號的共用位準進行控制，傳送器根據自接收器所接收的反饋信號，對所輸出的傳送信號的共用位準進行控制。接收器具有：對應於傳送信號而動作的接收部；生成基準位準的基準位準生成部，該基準位準是輸入至接收部的傳送信號作為共用位準而應具有的基準位準；以及比較部，對輸入至接收部的傳送信號的共用位準與基準位準進行比較，並生成與比較結果相應的反饋信號。
简体摘要：一种发送电路，具备输出发送信号的发送器以及接收发送信号的接收器，接收器对发送器供给反馈信号，该反馈信号用于对发送器输出的发送信号的共享位准进行控制，发送器根据自接收器所接收的反馈信号，对所输出的发送信号的共享位准进行控制。接收器具有：对应于发送信号而动作的接收部；生成基准位准的基准位准生成部，该基准位准是输入至接收部的发送信号作为共享位准而应具有的基准位准；以及比较部，对输入至接收部的发送信号的共享位准与基准位准进行比较，并生成与比较结果相应的反馈信号。

46. 发明专利

TWI373620B 測試裝置以及測試方法 TEST APPARATUS AND TESTING METHOD 失效
简体标题：测试设备以及测试方法 TEST APPARATUS AND TESTING METHOD
公开(公告)号：TWI373620B
公开(公告)日：2012-10-01
申请号：TW097114882
申请日：2008-04-23
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：渡邊大輔 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31917 , G01R29/26 , G01R31/31709 , G01R31/31937 , H03K3/84 , H03K5/156
摘要：本發明提供一種對被測試器件進行測試的測試裝置，該測試裝置包括：圖案產生部，產生用以規定應供給至被測試器件的測試信號的測試圖案；時序信號產生部，產生表示將測試信號供給至被測試器件的時序的時序信號；數位濾波器，對測試圖案進行濾波，輸出表示與測試圖案相對應的抖動的抖動控制信號；抖動施加部，根據抖動控制信號而使時序信號延遲，藉此將抖動施加至時序信號；以及波形成形部，以施加了抖動的時序信號為基準，生成已形成了測試圖案的測試信號。
简体摘要：本发明提供一种对被测试器件进行测试的测试设备，该测试设备包括：图案产生部，产生用以规定应供给至被测试器件的测试信号的测试图案；时序信号产生部，产生表示将测试信号供给至被测试器件的时序的时序信号；数码滤波器，对测试图案进行滤波，输出表示与测试图案相对应的抖动的抖动控制信号；抖动施加部，根据抖动控制信号而使时序信号延迟，借此将抖动施加至时序信号；以及波形成形部，以施加了抖动的时序信号为基准，生成已形成了测试图案的测试信号。

47. 发明专利

TWI364544B 解調裝置、測試裝置以及電子元件 DEMODULATING APPARATUS, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE 有权
简体标题：解调设备、测试设备以及电子组件 DEMODULATING APPARATUS, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE
公开(公告)号：TWI364544B
公开(公告)日：2012-05-21
申请号：TW097111754
申请日：2008-03-31
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：山本和弘 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31922 , G01R31/31727 , H03D5/00 , H03L7/087 , H04L7/033
摘要：自振幅相位調變信號對時脈信號進行再生。提供一種測試裝置，用於對被測試元件進行測試，被測試元件將振幅相位調變信號作為輸出信號而輸出，此測試裝置包括：時脈再生部，具有振盪部、相位差檢測部以及濾波部；振幅相位檢測部，將時脈信號作為基準，對輸出信號的位準以及變化點的相位進行檢測；判定部，判定由振幅相位檢測部所檢測出的位準以及變化點的相位是否與期望位準以及期望相位相一致；以及相位差修正部，根據由振幅相位檢測部所檢測出的變化點的相位，對自相位差檢測部給予至濾波部的相位差進行修正。
简体摘要：自振幅相位调制信号对时脉信号进行再生。提供一种测试设备，用于对被测试组件进行测试，被测试组件将振幅相位调制信号作为输出信号而输出，此测试设备包括：时脉再生部，具有振荡部、相位差检测部以及滤波部；振幅相位检测部，将时脉信号作为基准，对输出信号的位准以及变化点的相位进行检测；判定部，判定由振幅相位检测部所检测出的位准以及变化点的相位是否与期望位准以及期望相位相一致；以及相位差修正部，根据由振幅相位检测部所检测出的变化点的相位，对自相位差检测部给予至滤波部的相位差进行修正。

48. 发明专利

TWI348830B ＤＡ轉換器以及ＤＡ轉換方法 DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER AND DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTING METHOD 失效
简体标题：ＤＡ转换器以及ＤＡ转换方法 DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER AND DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTING METHOD
公开(公告)号：TWI348830B
公开(公告)日：2011-09-11
申请号：TW097113939
申请日：2008-04-17
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：山本和弘 , 岡安俊幸
IPC分类号： H03M
CPC分类号： H03M3/51 , H03M3/502 , H03M7/3024 , H03M7/3031
摘要：一種DA轉換器，將輸入的數位信號轉換成類比信號，包括：積分器，對於固定週期的每一循環，輸出數位信號的積分值；位準比較部，比較積分器輸出的積分值是否已成為大於規定的參照值的超出狀態；反饋部，根據位準比較部的比較結果，將積分值減去預定的值；時序資訊生成部，根據積分器輸出的每一循環的積分值、以及各個循環的前一個循環的積分值，以小於固定週期的時間解析度而生成已轉變為超出狀態的變化點的時序資訊；時序產生部，根據時序資訊，以小於固定週期的時間解析度而生成時序信號；以及信號處理部，根據時序信號而生成類比信號。
简体摘要：一种DA转换器，将输入的数码信号转换成模拟信号，包括：积分器，对于固定周期的每一循环，输出数码信号的积分值；位准比较部，比较积分器输出的积分值是否已成为大于规定的参照值的超出状态；反馈部，根据位准比较部的比较结果，将积分值减去预定的值；时序信息生成部，根据积分器输出的每一循环的积分值、以及各个循环的前一个循环的积分值，以小于固定周期的时间分辨率而生成已转变为超出状态的变化点的时序信息；时序产生部，根据时序信息，以小于固定周期的时间分辨率而生成时序信号；以及信号处理部，根据时序信号而生成模拟信号。

49. 发明专利

TWI333333B 傳送系統、接收裝置、測試裝置及測試頭 TRANSMISSION SYSTEM, RECEIVING DEVICE, DETECTION DEVICE AND TESTER HEAD 有权
简体标题：发送系统、接收设备、测试设备及测试头 TRANSMISSION SYSTEM, RECEIVING DEVICE, DETECTION DEVICE AND TESTER HEAD
公开(公告)号：TWI333333B
公开(公告)日：2010-11-11
申请号：TW093116505
申请日：2004-06-09
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：渡邊大輔 , 岡安俊幸
IPC分类号： H03L
CPC分类号： H04L7/0012 , G01R31/31922 , H03L7/07 , H03L7/0812 , H03L7/087 , H04L7/0037 , H04L7/0337
摘要：一種傳送系統，包括輸出預定周期之周期時脈的周期時脈輸出部、將傳送信號與周期時脈同步傳送之傳送部、及接收傳送信號之接收部。此接收部具有資料同步時脈產生部，根據來自傳送信號的取樣資料，以產生與取樣資料值的變化同步之資料同步時脈；周期相位差檢測部，對周期時脈和資料同步時脈之周期相位差進行檢測；相位變化時脈產生部，根據周期相位差產生使周期時脈的周期改變的相位變化時脈，使相位變化時脈和資料同步時脈的相位差，即相位變化差，變成預定大小；以及藉由與相位變化時脈同步接收傳送信號，從而從傳送信號中取出取樣資料，並供給到資料同步時脈產生部之資料取出部。
简体摘要：一种发送系统，包括输出预定周期之周期时脉的周期时脉输出部、将发送信号与周期时脉同步发送之发送部、及接收发送信号之接收部。此接收部具有数据同步时脉产生部，根据来自发送信号的采样数据，以产生与采样数据值的变化同步之数据同步时脉；周期相位差检测部，对周期时脉和数据同步时脉之周期相位差进行检测；相位变化时脉产生部，根据周期相位差产生使周期时脉的周期改变的相位变化时脉，使相位变化时脉和数据同步时脉的相位差，即相位变化差，变成预定大小；以及借由与相位变化时脉同步接收发送信号，从而从发送信号中取出采样数据，并供给到数据同步时脉产生部之数据取出部。

50. 发明专利

TW201028704A 時序產生器與測試裝置以及測試率的控制方法 TIMING GENERATOR, TEST DEVICE AND CONTROL METHOD OF TEST RATE 失效
简体标题：时序产生器与测试设备以及测试率的控制方法 TIMING GENERATOR, TEST DEVICE AND CONTROL METHOD OF TEST RATE
公开(公告)号：TW201028704A
公开(公告)日：2010-08-01
申请号：TW098139799
申请日：2009-11-23
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：渡邊大輔 , 岡安俊幸
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/3016
摘要：延遲設定資料產生部10基於比率資料DRATE來產生延遲設定資料DDS。可變延遲電路30以規定的單位延遲量τu為基準，使測試圖案資料DPAT延遲了與延遲設定資料DDS相對應的延遲時間τ。第1比率資料DRATE1以單位延遲量τu的精度來指定測試圖案資料的週期τ。第2比率資料DRATE2以比單位延遲量τu更高的精度來指定測試圖案資料的週期。延遲設定資料產生部10以對應於第2比率資料DRATE2的比例，將對應於第1比率資料DRATE1的第1值X1與第2值X2分時地予以輸出。
简体摘要：延迟设置数据产生部10基于比率数据DRATE来产生延迟设置数据DDS。可变延迟电路30以规定的单位延迟量τu为基准，使测试图案数据DPAT延迟了与延迟设置数据DDS相对应的延迟时间τ。第1比率数据DRATE1以单位延迟量τu的精度来指定测试图案数据的周期τ。第2比率数据DRATE2以比单位延迟量τu更高的精度来指定测试图案数据的周期。延迟设置数据产生部10以对应于第2比率数据DRATE2的比例，将对应于第1比率数据DRATE1的第1值X1与第2值X2分时地予以输出。

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