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31. 发明授权

CN114966119B 经由原子力显微镜进行纳米级动态力学分析(AFM-NDMA) 有权
公开(公告)号：CN114966119B
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202210389607.8
申请日：2019-08-02
申请人：布鲁克纳米公司
发明人：谢尔盖·奥斯钦斯基 , 安东尼奥斯·鲁伊特 , B·皮腾杰 , 赛义德-阿西夫·赛义德-阿玛努拉
IPC分类号： G01Q10/06 , G01N3/08 , G01N3/32 , G01Q60/36
摘要：本申请涉及经由原子力显微镜进行纳米级动态力学分析(AFM‑NDMA)。一种基于原子力显微镜的设备和方法包括硬件和软件，其被配置为以动态方式收集并分析表示软材料在纳米级上的力学性质的数据，以绘制软材料样品的粘弹性性质。使用该设备作为现有原子力显微镜装置的补充。

32. 发明公开

CN115407086A 扫描探针显微镜以及控制方法审中-实审
公开(公告)号：CN115407086A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210517615.6
申请日：2022-05-12
申请人：株式会社岛津制作所
发明人：平出雅人
IPC分类号： G01Q10/06
摘要：本发明提供一种扫描探针显微镜以及控制方法。SPM(100)用于测定试样(S)。SPM(100)具备：试样台(14)，其用于配置试样(S)；探针(3)，其以与试样(S)相向的方式配置；微动机构(12)，其通过以使作用于探针(3)与试样(S)之间的原子力成为固定的方式执行反馈控制，来使探针(3)沿着试样(S)的表面相对地移动；以及信息处理装置(20)，在尽管执行了反馈控制但原子力未成为固定的情况下，信息处理装置(20)停止试样(S)的测定。

33. 发明公开

CN114787636A 使用扫描探针显微镜的表面成像方法及使用该方法的相应系统审中-实审
公开(公告)号：CN114787636A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202080074923.5
申请日：2020-10-23
申请人：英菲尼特斯马有限公司
发明人：安德鲁·汉弗里斯
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q10/06 , G01Q20/02 , G01Q30/06 , G01Q40/00
摘要：一种使用扫描探针显微镜的表面成像方法，该扫描探针显微镜包括具有从基部支持物(2)延伸到自由端的悬臂的探针、由悬臂的自由端承载的探针尖端以及转向镜(13)；所述方法包括：跨表面横向扫描探针，使得探针进行跨表面的扫描运动；经转向镜将检测光束转向到探针上，检测光束以返回光束的形式从探针反射；移动转向镜，使检测光束进行与扫描运动同步的跟踪运动，并且通过转向镜保持检测光束转向到探针上；使用返回光束获得图像测量值，每个图像测量值表示表面上相应点的测量高度；通过将转向镜位置的目标值与转向镜位置的实际位置进行比较来获得表面上每个点的相关高度误差测量值，每个高度误差测量值表示测量高度的相应误差；以及，使用高度误差测量值校正图像测量值，以生成校正图像测量值。

34. 发明授权

CN105319396B 使用峰值力轻敲模式来测量样本的物理特性的方法和设备有权
公开(公告)号：CN105319396B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201510603771.4
申请日：2011-11-29
申请人：布鲁克纳米公司
发明人：史建 , 胡焰 , 胡水清 , 马骥 , 苏全民
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q60/32 , B82Y35/00
摘要：改进的AFM成像模式(峰值力轻敲(PFT)模式)使用力作为反馈变量来减小尖端‑样本相互作用力，同时维持可通过所有现有的AFM操作模式实现的扫描速度。以改进的分辨率和高样本吞吐量实现了样本成像和机械特性映射，其中该模式可在各种环境中工作，包括气体、流体和真空。通过消除对专业用户监测成像的需要，有利于易用性。

35. 发明公开

CN106255890A 扫描离子电导显微术无效
公开(公告)号：CN106255890A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201580022722.X
申请日：2015-03-10
申请人：欧朋艾欧拉普斯有限公司
发明人：安德鲁·詹姆斯·理查森
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q60/44
CPC分类号： G01Q60/44 , G01Q10/02 , G01Q10/06 , G01Q60/02 , G01Q60/60
摘要：一种用于使用SICM而检查浸在电解质溶液中的样本的表面的方法，包括：控制浸在电解质溶液中的第一电极与第二电极之间的电位以在电解质溶液中诱发离子电流，第一电极的浸没部分包含在微量移液管中，并且第二电极处于微量移液管外部；在控制微量移液管相对于支撑样本的平台移动的同时记录离子电流；以及从离子电流和校准数据确定样本的表面高度轮廓。所述电位可以根据扩频调制信号来控制。所述微量移液管移动可以是根据AC模式式样，其中AC模式式样具有大于微量移液管、第一电极以及被配置成控制所述微量移液管的z轴移动的第一压电致动器的组装件的谐振频率的调制频率。

36. 发明公开

CN103429526A 自适应模式扫描探针显微镜有权
公开(公告)号：CN103429526A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201280007027.2
申请日：2012-01-31
申请人：英菲尼特斯马有限公司
发明人： A·霍姆菲瑞斯
IPC分类号： B82Y35/00 , G01Q10/06
CPC分类号： G01Q10/04 , B82Y35/00 , G01Q10/065
摘要：一种包括机械响应于驱动力的探针的扫描探针显微镜。信号产生器向产生驱动力的致动器提供驱动信号，该驱动信号例如用于促使致动器重复地朝向和远离样品移动探针。检测系统布置为输出指示从探针反射的光和高度参考束之间的路径差异的高度信号。图像处理装置布置为使用高度信号来形成样品的图像。信号处理装置布置为在探针接近样品时监控探针且检测探针与样品相互作用的表面位置。响应于表面位置的检测，信号处理装置提示信号产生器修改驱动信号。

37. 实用新型

CN201773112U 一种AFM的重定位系统失效
公开(公告)号：CN201773112U
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：CN201020272000.4
申请日：2010-07-27
申请人：苏州海兹思纳米科技有限公司
发明人：唐沈健 , 孙鑫 , 陈前春 , 李立强
IPC分类号： G01Q10/06
摘要：本实用新型涉及一种AFM的重定位系统，包括PC机、微控制器、光信号处理电路模块、高压驱动器和操作平台，PC机通过线路连接微控制器，微控制器与PC机的连接线路上并联针尖偏移前馈补偿电路模块，微控制器通过线路分别连接第一A/D转换模块、第二A/D转换模块、D/A转换模块和鲁棒控制器，第一A/D转换模块通过线路连接光信号处理电路模块，D/A转换模块通过线路连接高压驱动器，第二A/D转换模块通过线路连接位移信号处理电路模块。本实用新型有益效果：采用鲁棒控制器、探针针尖偏移量前馈补偿和压电陶瓷扫描器组合控制方式，使系统仍能保持预期的性能，重复定位精确度高，速度快，具有良好的跟踪能力和重定位效果。

38. 实用新型

CN207301107U 用于液体环境的原子力显微镜有权
公开(公告)号：CN207301107U
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201720645302.3
申请日：2017-06-06
申请人：苏州飞时曼精密仪器有限公司
发明人：韩雄 , 王矛宏 , 钱锋 , 都有为 , 王辰成
IPC分类号： G01Q60/24 , G01Q10/00 , G01Q10/06
摘要：本实用新型公开了一种用于液体环境的原子力显微镜，包括：AFM主机、控制系统和计算机处理模块，所述AFM主机包括XY向扫描台、设置在所述XY向扫描台上的Z向扫描台、设置在所述Z向扫描台上的液体盒、设置在所述液体盒上的透明玻璃、设置在所述透明玻璃底部的探针定位块、设置在所述探针定位块上的探针及设置在所述透明玻璃上方的激光器、半透镜、反光镜和四象限探测器。本实用新型的用于液体环境检测的原子力显微镜，实现了在全液相环境下样品的扫描检测，本实用新型结构设计巧妙，消除了气体和液体的界面，避免了液体表面张力和液面抖动对微探针以及激光光路的影响，使激光在液体下对准更加简单，操作更加方便，检测结果更加准确。

39. 发明专利

ES2887205T3 Procedimiento y dispositivo para controlar un microscopio de sonda de barrido 未知
公开(公告)号：ES2887205T3
公开(公告)日：2021-12-22
申请号：ES12812908
申请日：2012-12-12
申请人： UNIV BASEL
发明人： PLODINEC MARIJA , LOPARIC MARKO , LIM RODERICK YH
IPC分类号： G01Q10/06
摘要： Un procedimiento para controlar un microscopio de sonda de barrido que tiene una sonda (2) con una punta (21) para interactuar con una muestra (4), y un nanoescáner (1) para retener dicha muestra (4) o dicha sonda (2), que comprende los pasos de: supervisar la extensión de dicho nanoescáner (1) a lo largo de una primera dirección (R), a lo largo de la cual dicha punta (21) se mueve hacia dicha muestra (4), y ajustar un nivel de dicha sonda (2) a lo largo de dicha primera dirección (R) mediante un actuador adicional (3), cuando dicho nanoescáner (1) presenta una extensión por debajo o por encima de un valor umbral, con el procedimiento caracterizado por que además comprende los pasos de supervisar un ángulo de corriente (α) entre una segunda dirección (R2) y la normal (N) de una superficie de dicha muestra (4) en un punto (53) de dicha superficie, en el que dicha sonda (2) se mueve a lo largo de dicha segunda dirección (R2) hacia dicho punto (53) en una aproximación vertical, y controlar dicho actuador adicional (3) y al menos un segundo actuador adicional (32) de manera que dicho ángulo de corriente (α) se aproxime a un ángulo deseado predefinido, en el que dicho ángulo deseado es cero; y en el que dicha muestra es una muestra de tejido.

40. 发明专利

DK2791688T3 METODE OG ANORDNING TIL STYRING AF SCANNINGSSONDE MIKROSKOP 未知
公开(公告)号：DK2791688T3
公开(公告)日：2021-09-20
申请号：DK12812908
申请日：2012-12-12
申请人： UNIV BASEL
发明人： LOPARIC MARKO , LIM RODERICK YH , PLODINEC MARIJA
IPC分类号： G01Q10/06

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