会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 31. 发明授权
    • 수동형을 지원하는 RFID 센서 태그 및 그 동작 방법
    • RFID被动型RFID标签及其操作方法
    • KR100932065B1
    • 2009-12-15
    • KR1020070113057
    • 2007-11-07
    • 한국전자통신연구원
    • 김현석최수나신동범이상연최원규조광수이형섭
    • G06K19/07G08C17/02
    • 수동형을 지원하는 RFID 센서 태그 및 그 동작 방법을 개시한다. 본 발명에 의한 수동형을 지원하는 RFID 센서 태그는, 리더로부터 활성화 마스크를 수신하고, 상기 수신된 활성화 마스크를 메모리 내의 활성화 코드와 비교하여, 상기 활성화 마스크 및 상기 활성화 코드 간의 동일성 여부를 분석하는 분석 수단, 및 상기 분석 결과, 상기 수신된 활성화 마스크와 상기 메모리 내의 활성화 코드가 동일한 경우, 내장된 제1 전원 또는 상기 리더로부터의 신호를 통해 생성된 제2 전원을 이용하여 활성화 모드로 동작하는 웨이크-업 수단을 포함한다.
      전지 지원, 수동형, 반수동형, 태그, 리더, 센서, 센서 태그, 웨이크업
    • 公开了一种支持无源类型的RFID传感器标签及其操作方法。 根据本发明的支持无源类型的RFID传感器标签包括分析装置,用于从读取器接收激活掩模并将接收到的激活掩模与存储器中的激活码进行比较以分析激活掩模和激活码是否相同 并且如果接收到的激活掩码和存储器中的激活码相同,则使用内置的第一电源或者根据来自读取器的信号产生的第二电源在激活模式下进行唤醒操作, 和手段。
    • 37. 发明公开
    • 무선통신 성능 평가 장치 및 방법
    • 无线通信性能评估的装置和方法
    • KR1020160100519A
    • 2016-08-24
    • KR1020150023031
    • 2015-02-16
    • 한국전자통신연구원
    • 전상봉권종화최수나
    • G01R31/317G01R33/00
    • G01R31/31723G01R33/0023
    • 간섭신호의파동임피던스변화에따른무선통신성능을평가하는장치가제공된다. 상기무선통신성능평가장치는, 복수개의포트를포함하는횡전자기셀과, 상기복수개의포트중 제1 포트및 제4 포트에는대상기기의입력신호를인가하고, 상기복수개의포트중 제2 포트및 제3 포트에는임피던스매칭부하를각각연결하고, 상기제 1 포트및 상기제4 포트에인가된입력신호의위상및 세기를조절하여간섭신호를생성하는간섭신호생성부, 및상기생성된간섭신호에연관되어발생하는비트오류율측정값을이용하여상기대상기기의성능을평가하는성능평가부를포함할수 있다.
    • 提供了一种用于根据干扰信号的波阻抗的变化来评估无线通信的性能的装置。 用于评估无线通信性能的装置包括:包括多个端口的横向电磁细胞; 干扰信号产生部分,用于将要评估的设备的输入信号施加到多个端口中的第一端口和第四端口,分别将多个端口中的阻抗匹配负载连接到第二端口和第三端口,并且调整相位 以及施加到第一端口和第四端口的输入信号的强度,从而产生干扰信号; 以及性能评估部分,用于通过使用与所生成的干扰信号相关联地产生的误码率的测量值来评估要评估的设备的性能。
    • 39. 发明公开
    • EM 존의 다중 잡음 환경을 고려한 확률적 간섭 평가 장치 및 방법
    • 用于评估电磁区多源噪声环境的统计干扰的装置和方法
    • KR1020140070723A
    • 2014-06-11
    • KR1020120134263
    • 2012-11-26
    • 한국전자통신연구원
    • 최수나박승근
    • H04W24/10
    • H04B1/1027
    • An apparatus and a method for evaluating statistical interference concerning a multi-source noise environment of an electromagnetic (EM) zone are disclosed. The apparatus for evaluating statistical interference may include a receiver to receive an EM wave in a preset frequency band, a spectrum analyzer to analyze the received EM wave and to measure interference in the preset frequency band, a frequency selector to select a frequency of interest in the frequency band based on a level of the measured interference, an amplitude probability distribution (APD) measurement unit to measure an APD of an interference signal with respect to the frequency of interest, and a comparator to compare the measured APD with a preset limit to draw the probability of the limit or higher of interference occurring.
    • 公开了一种用于评估关于电磁(EM)区域的多源噪声环境的统计干扰的装置和方法。 用于评估统计干扰的装置可以包括:接收器,用于接收预设频带中的EM波;频谱分析器,用于分析所接收的EM波并测量预置频带中的干扰;频率选择器,用于选择感兴趣的频率 基于所测量的干扰的电平的频带,用于测量相对于感兴趣频率的干扰信号的APD的振幅概率分布(APD)测量单元,以及将测量的APD与预设限制进行比较的比较器 画出干扰发生的极限或更高的概率。
    • 40. 发明公开
    • 위상잠금장치를 이용한 웨이퍼 수준의 집적회로 칩 자동 보정 방법 및 시스템
    • 使用PLL在水平位置自动校准集成电路卡的系统和方法
    • KR1020130119279A
    • 2013-10-31
    • KR1020120042305
    • 2012-04-23
    • 한국전자통신연구원
    • 김현석최수나이형섭표철식
    • H03L7/00G06K19/07
    • G06K19/0726G06K19/0722
    • PURPOSE: A method and a system for auto-calibration of integrated circuit (IC) chips using phase locked loop at a wafer level are provided to quickly calibrate the IC chip, thereby reducing costs. CONSTITUTION: An analog part (250) comprises a voltage multiplying part (251) and an operating frequency generator (252). A digital part (260) comprises a frequency control part (261). A memory part (270) p comprises a user memory (271). The voltage multiplying part supplies a direct current (DC) to a tag chip (200) and distributes a DC supplied through an external power line (232) to each component of the tag chip. The operating frequency generator generates an operating frequency necessary for the operation of the tag chip. The generated operating frequency is transmitted through a frequency measurement line (233) to a correction controller. The frequency control part is connected to a correction bus (234) to receive a control signal for the correction of the operating frequency from the correction controller. [Reference numerals] (210) Buffer; (250) Analog part; (251) Voltage multiplying part; (252) Operating frequency generator; (260) Digital part; (261) Frequency control part; (270) Memory part; (271) User memory
    • 目的:提供使用晶圆级锁相环的集成电路(IC)芯片自动校准的方法和系统,以快速校准IC芯片,从而降低成本。 构成:模拟部分(250)包括电压倍增部分(251)和工作频率发生器(252)。 数字部分(260)包括频率控制部分(261)。 存储器部分(270)p包括用户存储器(271)。 电压倍增部分向标签芯片(200)提供直流电(DC),并将通过外部电力线(232)提供的直流分配给标签芯片的每个部件。 操作频率发生器产生标签芯片的操作所需的工作频率。 产生的工作频率通过频率测量线(233)传输到校正控制器。 频率控制部分连接到校正总线(234),以从校正控制器接收用于校正工作频率的控制信号。 (附图标记)(210)缓冲器; (250)模拟部分; (251)电压倍增部; (252)工作频率发生器; (260)数字部分; (261)频率控制部分; (270)记忆部分; (271)用户记忆