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31. 发明专利

JP2018185510A 顕微鏡のための液浸対物レンズ审中-公开
公开(公告)号：JP2018185510A
公开(公告)日：2018-11-22
申请号：JP2018081573
申请日：2018-04-20
申请人：ライカマイクロシステムズシーエムエスゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング , Leica Microsystems CMS GmbH
发明人：クリスティアンシュルツ , クリスティアンシューマン
IPC分类号： G02B21/00 , G02B13/00
CPC分类号： G02B21/025 , G02B7/10 , G02B9/34 , G02B21/02 , G02B27/0037
摘要：【課題】顕微鏡(100)のための液浸対物レンズ(10)が提示されている。【解決手段】この液浸対物レンズは、正の屈折力の第1のレンズグループ(12)と、正の屈折力の第2のレンズグループ(14)と、負の屈折力の第3のレンズグループ(16)と、正の屈折力の第4のレンズグループ(18)と、をこの順序で対象物側から配置されて含んでおり、第2のレンズグループ(14)は、球面収差に関する補正作用を得るために、第2のレンズグループ(14)と第1のレンズグループ(12)との間の間隔(V1)と、第2のレンズグループ(14)と第3のレンズグループ(16)との間の間隔(V2)と、の総計が一定であるように、光軸(O)に沿って動かされ、第2のレンズグループ(14)の補正作用は、零と液浸対物レンズ(10)の公称開口との間にある中間開口数に相当する光入射に対する球面収差が最小化されているように予め定められている。【選択図】図1

32. 发明专利

JP2018521309A 顕微鏡検査試料を検査および処理する方法ならびに検査システム审中-公开
公开(公告)号：JP2018521309A
公开(公告)日：2018-08-02
申请号：JP2017560264
申请日：2016-05-20
申请人：ライカマイクロシステムズシーエムエスゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング , Leica Microsystems CMS GmbH
发明人：ファルクシュラウドラフ , ブラゴヴェスタヴェーグナー
IPC分类号： G02B21/36 , G02B21/34 , G02B21/00 , G01N1/28
CPC分类号： G01N1/286 , G01N1/2813 , G01N2001/282 , G01N2001/2886 , G02B21/32 , G02B21/34 , G02B21/365 , G06T7/73 , G06T2207/10056 , G06T2207/30204
摘要：本発明は、対象物担体(50)上に配置された顕微鏡検査試料(52)をイメージング装置(20)によって検査し、レーザーマイクロディセクションシステム(10)によって処理する方法(100)に関する。少なくとも2つの基準マーク(51)がレーザーマイクロディセクションシステム(10)により対象物担体(50)上に形成され(101)、試料(52)が同じ対象物担体(50)上に塗布され(102)、イメージング装置(20)により、対象物担体(50)上の試料(52)のディジタル画像(40)が、基準マーク(51)をも含むように形成され(103)、画像(40)は、画像(40)の少なくとも1つの画像領域(41)が定められ、画像(40)内の少なくとも1つの画像領域(41)の位置を表す第1の位置情報データが形成される。さらに、画像(40)内の基準マーク(51)が識別され、画像(40)内の基準マーク(51)の位置を表す第2の位置情報データが形成される(105)。第1の位置情報データおよび第2の位置情報データがレーザーマイクロディセクションシステム(10)へ供給された(106)後、試料(52)および基準マーク(51)を有する対象物担体(50)がイメージングされ(107)、基準マーク(51)が識別され(108)、レーザーマイクロディセクションシステム(10)内の基準マーク(51)の位置を表す第3の位置情報データが形成され、第1の位置情報データおよび第2の位置情報データおよび第3の位置情報データが相関され、レーザーマイクロディセクションシステム(10)により、少なくとも1つの画像領域(41)に対応する少なくとも1つの試料領域(53)が処理される。本発明はさらに、この方法を実行する装置にも関する。

33. 发明专利

JP2018520388A 複数の対象面を同時にイメージングする光シート顕微鏡审中-公开
公开(公告)号：JP2018520388A
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：JP2018502110
申请日：2016-07-18
申请人：ライカマイクロシステムズシーエムエスゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング , Leica Microsystems CMS GmbH
发明人：ヴェアナークネーベル , フローリアンファールバッハ
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/36
CPC分类号： G02B21/006 , G02B21/0032 , G02B21/16 , G02B21/361 , G02B21/367
摘要：本発明は、光シート(10)によって照明される複数の対象面を同時にイメージングする手段(60)を有する、光シート顕微鏡に関する。手段(60)は検出光学系(30)とカメラ(50)とを含み、ここで、対象面は検出光学系の焦点面の周囲に配置されている。好ましくは、顕微鏡は、光シートによって照明される複数の対象面を同時にイメージングするために、検出光学系(30)からカメラ(50)までの光路に配置されたマイクロレンズアレイ(60)を含み、このマイクロレンズアレイ(60)は、好ましくはカメラ(50)に組み込まれる。

34. 实用新型

JP3206246U 遠隔操作可能なカメラを備えている顕微鏡有权
标题翻译：显微镜和远程操作相机
公开(公告)号：JP3206246U
公开(公告)日：2016-09-08
申请号：JP2016003018
申请日：2016-06-24
申请人：ライカマイクロシステムズシーエムエスゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング , Leica Microsystems CMS GmbH
发明人：マンフレートギルベアト , カーリンシュヴァープ , ヨヘンズィーパー
IPC分类号： G02B21/36
CPC分类号： G08C17/02 , G02B21/0088 , G02B21/24 , G02B21/36
摘要：【課題】ユーザビリティを向上させることができる遠隔操作可能なカメラを備えている顕微鏡を提供する。【解決手段】カメラ30は、カメラの機能を制御するための遠隔操作信号を受信するカメラ遠隔操作信号受信器31を有している。顕微鏡10には、カメラの機能を制御するための外部の遠隔操作ユニットの遠隔操作信号を受信する、少なくとも1つの顕微鏡遠隔操作信号受信器11,12が配置されている。少なくとも1つの顕微鏡遠隔操作信号受信器は、導電体又は光電導体を介して、顕微鏡遠隔操作信号送信器13と接続されており、導電体又は光電導体は、顕微鏡遠隔操作信号受信器のうちの1つによって受信された遠隔操作信号を顕微鏡内部で顕微鏡遠隔操作信号送信器に転送し、顕微鏡遠隔操作信号送信器は遠隔操作信号を送出して、カメラ遠隔操作信号受信器に供給する。【選択図】図2
摘要翻译：本发明提供一种显微镜和能够改善可用性的可远程操作的相机。照相机30包括用于接收远程控制信号来控制相机功能的相机遥控信号接收器31。显微镜10接收用于控制摄像机功能的外部远程控制单元的远程控制信号，至少一个显微镜遥控信号接收器11和12布置。至少一个显微镜遥控信号接收器，经由导体或光电导体，其被连接到显微镜遥控信号发射器13，导体或光导体是显微镜遥控信号接收器的一个一个遥控器信号被转移到显微镜遥控信号发射器，具有由显微镜遥控信号发射器接收到内部的显微镜发出的遥控信号，和到相机遥控信号接收器供应。 .The

35. 发明专利

JP2013117529A Method and apparatus for inspecting sample 有权
标题翻译：检测样品的方法和装置
公开(公告)号：JP2013117529A
公开(公告)日：2013-06-13
申请号：JP2012252081
申请日：2012-11-16
申请人： Leica Microsystems Cms Gmbh , ライカマイクロシステムスツェーエムエスゲーエムベーハー
发明人： WIDZGOWSKI BERND
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00
CPC分类号： G01J1/44 , G01N21/6408 , G01N21/6458 , G02B21/0076 , G02B21/0084
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for inspecting a sample.SOLUTION: Disclosed is a method and an apparatus for inspecting a sample. The apparatus includes: a light source for generating excitation rays of light with a pulse to be continuously generated with an excitation pulse frequency for illuminating a sample area with the excitation pulse; and a detector for detecting detection rays of light to be emitted from the sample area. In the apparatus, the detector generates an electric pulse and an electric pulse sequence based on the electric pulse for each of the detection photons of the detection rays of light. The apparatus includes an analog/digital converter for generating a digital data sequence by sampling the electric pulse sequence at a sampling speed.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于检查样品的方法和装置。解决方案：公开了一种用于检查样品的方法和装置。该装置包括：用于产生具有用激发脉冲频率连续产生的脉冲的激发光线的光源，用于用激发脉冲照射样本区域; 以及用于检测从样品区域发射的光的检测光的检测器。在该装置中，检测器基于用于检测光线的每个检测光子的电脉冲产生电脉冲和电脉冲序列。该装置包括用于通过以采样速度采样电脉冲序列来产生数字数据序列的模拟/数字转换器。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

36. 发明专利

JP2013057931A Device for distributing illumination light and detection light in microscope and its method 审中-公开
标题翻译：用于分布照明灯的设备和微光检测灯及其方法
公开(公告)号：JP2013057931A
公开(公告)日：2013-03-28
申请号：JP2012178023
申请日：2012-08-10
申请人： Leica Microsystems Cms Gmbh , ライカマイクロシステムスツェーエムエスゲーエムベーハー
发明人： SCHREIBER FRANK
IPC分类号： G02B21/00 , G01N21/64
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0068 , G02B21/0076 , G02B21/16 , G02B27/283
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for distributing illumination light and detection light in a microscope, and its method.SOLUTION: The device has a light distribution optical system 12 that guides illumination light 14 to a sample 18 and guides detection light 20 from the sample 18 to at least one of detectors. The light distribution optical system 12 comprises: polarization units 28, 30, and 32 arranged in a first optical path and configured to convert the illumination light 14 directed to the sample 18 into a first polarization state; a beam splitter 34 having such polarization dependability that while the illumination light 14 converted into the first polarization state is guided to the sample 18, a first portion 20a of detection light from the sample 18, which exhibits a first polarization state, is guided so as to return to the first optical path, a second portion 20b of the detection light, which has a second polarization state different from the first polarization state, is guided to a second optical path; and a beam combiner 38 configured to combine the first portion 20a and the second portion 20b of the detection light together and to guide the combined portions to the detector.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于在显微镜中分配照明光和检测光的装置及其方法。解决方案：该装置具有将照明光14引导到样品18并将检测光20从样品18引导到至少一个检测器的配光系统12。光分配光学系统12包括：布置在第一光路中并被配置为将指向样本18的照明光14转换成第一偏振状态的偏振单元28,30和32。具有这种极化依赖性的分束器34，当将转换成第一偏振态的照明光14引导到样品18时，来自样品18的具有第一偏振态的检测光的第一部分20a被引导为为了返回到第一光路，具有与第一偏振态不同的第二偏振状态的检测光的第二部分20b被引导到第二光路; 以及组合器38，被配置为将检测光的第一部分20a和第二部分20b组合在一起，并将组合部分引导到检测器。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

37. 发明专利

JP2013003585A Scanning microscope and method for imaging object with optical microscope 有权
标题翻译：扫描显微镜和用光学显微镜成像对象的方法
公开(公告)号：JP2013003585A
公开(公告)日：2013-01-07
申请号：JP2012133714
申请日：2012-06-13
申请人： Leica Microsystems Cms Gmbh , ライカマイクロシステムスツェーエムエスゲーエムベーハー
发明人： KNEBEL WERNER , ULRICH HEINRICH
IPC分类号： G02B21/06
CPC分类号： G02B21/367 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/10 , G02B21/16
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To improve a scanning microscope so that an optical microscope is able to perform imaging free from collision even in a difficult geometric condition.SOLUTION: In order to incline each illuminating focus (16, 84) with respect to the optical axis (O) of an illuminating optical system (10), a scanner (33) directs an illuminating light beam (12) to a partial area away from the pupil center of the incident pupil (14) of the illuminating optical system (10). Also, in order to move the illuminating focus (16, 84) over an illuminating target area, the scanner changes the direction of incidence of the illuminating light beam (12) within the partial area. An observation objective lens (38) spatially separated from the illuminating optical system (10) is provided. The observation objective lens (38) is arranged so that its optical axis (O) is located substantially perpendicular to the illuminating target area and so that this axis forms an acute angle (α) with respect to the optical axis (O) of the illuminating optical system (10).
摘要翻译：要解决的问题：为了改善扫描显微镜，使得光学显微镜即使在困难的几何条件下也能够进行没有碰撞的成像。解决方案：为了相对于照明光学系统（10）的光轴（O 1 ）倾斜每个照明聚焦（16,84），扫描仪（33）将照明光束（12）引导到远离照明光学系统（10）的入射光瞳（14）的光瞳中心的部分区域。此外，为了将照明聚焦（16,84）移动到照明目标区域上，扫描器改变部分区域内的照明光束（12）的入射方向。提供了与照明光学系统（10）在空间上分离的观察物镜（38）。观察物镜38设置为使其光轴（O 3 ）基本上垂直于照明目标区域，并且使得该轴形成锐角（α ）相对于照明光学系统（10）的光轴（O 1 ）。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

38. 发明专利

JP2012145939A Method and apparatus for imaging sample with scanning microscopy 有权
标题翻译：用扫描显微镜成像样品的方法和装置
公开(公告)号：JP2012145939A
公开(公告)日：2012-08-02
申请号：JP2012001076
申请日：2012-01-06
申请人： Leica Microsystems Cms Gmbh , ライカマイクロシステムスツェーエムエスゲーエムベーハー
发明人： BIRK HOLGER , WIDZGOWSKI BERND , HOLGER NISSLE
IPC分类号： G02B21/00 , G01N21/64 , G01N21/88
CPC分类号： G02B21/008 , G01N21/6458 , G02B21/0076
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus which image a sample with a scanning microscopy.SOLUTION: Disclosed are a method and an apparatus for imaging a sample (28) with a scanning microscopy. Multiple sample points are scanned with a scanning beam (14) in consecutive scanning time sections. An intensity of light emitted from each of the scanned sample points is sensed repeatedly within each of the related scanning time sections. Based on intensities sensed at each of the scanned sample points, an intensity average value is found as an average value image point signal. Then, by synthesizing such average value image point signals, an average value raster image signal is generated. Further, in addition, based on intensities sensed at each of the scanned sample points, an intensity variance value is found as a variance image point signal. Then, by synthesizing such variance image point signals, a variance raster image signal is generated.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用扫描显微镜对样品进行成像的方法和装置。解决方案：公开了一种用扫描显微镜对样品（28）进行成像的方法和装置。在连续扫描时间段内用扫描光束（14）扫描多个采样点。在每个相关的扫描时间段内重复地感测从每个扫描的采样点发射的光的强度。基于在每个扫描采样点处感测到的强度，发现强度平均值作为平均值图像点信号。然后，通过合成这样的平均值图像点信号，生成平均值光栅图像信号。此外，另外，基于在每个扫描采样点处感测到的强度，发现强度方差值作为方差图像点信号。然后，通过合成这样的方差图像点信号，生成方差光栅图像信号。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

39. 发明专利

JP2012113308A Device for focusing microscope objective on sample 审中-公开
标题翻译：用于聚焦样品的显微镜目标的装置
公开(公告)号：JP2012113308A
公开(公告)日：2012-06-14
申请号：JP2011256034
申请日：2011-11-24
申请人： Leica Microsystems Cms Gmbh , ライカマイクロシステムスツェーエムエスゲーエムベーハー
发明人： MICHAEL GANZER
IPC分类号： G02B21/24 , G02B7/04
CPC分类号： G02B21/26 , G02B21/241
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for focusing a microscope objective on a sample.SOLUTION: A device for focusing a microscope objective (26) on a sample (18) is disclosed. The device has a positioning unit (20) having: a main body (22); an objective holder (24) movably supported on the main body and adapted to hold the microscope objective (26); and an actuator (27) for moving the objective holder (24) along the optical axis (O) of the microscope objective. The objective holder holds the microscope objective (26) only at a front portion of the microscope objective facing the sample (18).
摘要翻译：要解决的问题：提供用于将显微镜物镜聚焦在样品上的装置。公开了一种用于将显微镜物镜（26）聚焦在样品（18）上的装置。该装置具有定位单元（20），该定位单元具有：主体（22）; 可移动地支撑在主体上并适于保持显微镜物镜（26）的物镜支架（24）; 以及用于沿着显微镜物镜的光轴（O）移动物镜保持器（24）的致动器（27）。目标支架仅在面向样品（18）的显微镜物镜的前部保持显微镜物镜（26）。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

40. 发明专利

JP2012093757A Spim microscope with sted light sheet 有权
标题翻译：带有光滑片的SPIM显微镜
公开(公告)号：JP2012093757A
公开(公告)日：2012-05-17
申请号：JP2011231661
申请日：2011-10-21
申请人： Leica Microsystems Cms Gmbh , ライカマイクロシステムスツェーエムエスゲーエムベーハー
发明人： KNEBEL WERNER , OESTREICHER WOLFGANG
IPC分类号： G02B21/06 , H04N5/225
CPC分类号： G02B21/0084 , G01N21/6402 , G01N21/6458 , G01N2021/6463 , G01N2201/06113 , G02B21/002 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/06 , G02B21/16
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a SPIM microscope with a STED light sheet.SOLUTION: A SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) having a y-direction illumination light source and a z-direction detection light camera is disclosed. An x-scanner generates a sequential light sheet by scanning the illumination light beam in the x-direction. By optionally turning on a STED deactivation light beam, the light sheet can optionally be made thinner and therefore the optical resolution can be increased.

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