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21. 发明申请

WO99030203A1 ELECTRO-OPTIC VOLTAGE SENSOR HEAD 审中-公开
标题翻译：电光电传感器头
公开(公告)号：WO99030203A1
公开(公告)日：1999-06-17
申请号：PCT/US1998/026188
申请日：1998-12-09
IPC分类号： G01R1/07 , G01R15/24 , G02F1/03 , G02F1/01
CPC分类号： G01R15/242 , G01R1/071 , G02F1/03 , G02F1/0305
摘要： An electro-optic voltage sensor head (4) contains a transducer (26) comprising a transducing material in which the Pockels electro-optic effect is observed. At least one beam (12) of electromagnetic radiation is routed into the transducing material and, when the transducing material is subjected to an E-field, undergoes an electro-optic effect, which is observed as a differential phase shift, also called differential phase modulation, of the beam components in orthogonal planes of the electromagnetic radiation. The beam is routed through the transducer along an initial axis and reflected by a retro-reflector (27) back substantially parallel to the initial axis, making a double pass through the transducer, increasing measurement sensitivity. A polarization state rotator (44) and a beam splitter (46) orients the beam along major and minor axes and splits the beam components into two independent converse amplitude-modulated signals carrying E-field magnitude and hence voltage information.
摘要翻译：电光电压传感器头（4）包含换能器（26），其包括其中观察到Pockels电光效应的换能材料。电磁辐射的至少一个光束（12）被传送到传感材料中，并且当传感材料经受电场时，经历电光效应，其被观察为差分相移，也称为差分相位调制电磁辐射的正交平面中的光束分量。光束沿着初始轴线被引导通过传感器，并由基本上平行于初始轴线的后向反射器（27）反射，使得双重通过换能器，从而提高了测量灵敏度。偏振状态旋转器（44）和分束器（46）使光束沿着主轴和短轴定向，并将光束分量分离成两个独立的相反的幅度调制信号，该信号承载电场幅度，因此承载电压信息。

22. 发明申请

WO2015034941A1 METHOD AND APPARATUS FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF FORWARD VOLTAGE, SATURATION CURRENT DENSITY, IDEALITY FACTOR AND I-V CURVES IN P-N JUNCTIONS 审中-公开
标题翻译：用于非接触式测量前馈电压，饱和电流密度，理想因子和I-V曲线在P-N结中的方法和装置
公开(公告)号：WO2015034941A1
公开(公告)日：2015-03-12
申请号：PCT/US2014/053923
申请日：2014-09-03
申请人： KLA-TENCOR CORPORATION
发明人： FAIFER, Vladimir N. , KELLY-MORGAN, Ian Sierra Gabriel
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/071 , G01R31/2632 , G01R31/2635 , G01R31/2656 , H01L22/14
摘要： Non-contact measurement of one or more electrical response characteristics of a p-n junction includes illuminating a surface of the p-n junction with light of a first intensity having a modulation or pulsed characteristic sufficient to establish a steady-state condition in a junction photovoltage (JPV) of the p-n junction, measuring a first JPV from the p-n junction within the illumination area, illuminating the surface of the p-n junction with light of an additional intensity, measuring an additional photovoltage from the portion of the p-n junction within the illumination area, determining a photocurrent density of the p-n junction at the first intensity. The non-contact measurement further includes determining the forward voltage, the saturation current density, the ideality factor or one or more I-V curves with the measured first photovoltage, the measured additional photovoltage and/or the determined photocurrent density of the p-n junction.
摘要翻译： pn结的一个或多个电响应特性的非接触测量包括用具有足以在结光电压（JPV）中建立稳态条件的调制或脉冲特性的第一强度的光照射pn结的表面，的pn结中，从照明区域内的pn结测量第一JPV，用附加强度的光照射pn结的表面，从照明区域内的pn结的部分测量附加的光电压，确定第一强度下pn结的光电流密度。非接触测量还包括利用所测量的第一光电压，测量的附加光电压和/或确定的p-n结的光电流密度来确定正向电压，饱和电流密度，理想因子或一个或多个I-V曲线。

23. 发明申请

WO2014059287A1 DUAL-PHASE INTERFEROMETRY FOR CHARGE MODULATION MAPPING IN ICS 审中-公开
标题翻译： ICS中电荷调制映射的双相干涉
公开(公告)号：WO2014059287A1
公开(公告)日：2014-04-17
申请号：PCT/US2013/064561
申请日：2013-10-11
申请人： TRUSTEES OF BOSTON UNIVERSITY
发明人： YURT, Abdulkadir , UNLU, M., Selim , GOLDBERG, Bennett, B. , RAMSAY, Euan
IPC分类号： G01B9/02 , G01N21/35 , G01R31/302
CPC分类号： G01R31/311 , G01B9/02001 , G01N21/1717 , G01N21/41 , G01N2021/1719 , G01R1/071 , G01R31/26 , G01R31/2601 , G01R31/2851
摘要： A dual-phase interferometric method and device for charge modulation mapping in integrated circuits provides significant improvement in signal to noise ratio over conventional detection configurations. The method and device can be used for failure analysis and testing of advanced technology IC chips for which high sensitivity in modulation mapping is required.
摘要翻译：集成电路中用于电荷调制映射的双相干涉测量方法和装置与常规检测配置相比，提供了信噪比的显着提高。该方法和装置可用于需要高灵敏度调制映射的先进技术IC芯片的故障分析和测试。

24. 发明申请

WO2010040161A2 SCHALTVORRICHTUNG ZUR ELEKTRISCHEN KONTAKTPRÜFUNG 审中-公开
标题翻译：开关装置用于电接触试验
公开(公告)号：WO2010040161A2
公开(公告)日：2010-04-15
申请号：PCT/AT2009/000387
申请日：2009-10-07
申请人： NANOLDENT TECHNOLOGIES AG , SCHRÖTER, Klaus
发明人： SCHRÖTER, Klaus
CPC分类号： G01R1/071 , G01R31/2808
摘要： Die Erfindung betrifft eine Schaltvorrichtung (1) zur elektrischen Kontaktprüfung von bestückten und unbestückten Leiterplatten (12), umfassend zumindest eine flächenhafte Trägerläge (2), eine erste Elektrodenanordnung (3) und eine funktionale Lage (4), wobei die Trägerlage (2) elastisch rückstellbar verformbar ist und wobei die funktionale Lage (4) auf der ersten Elektrodenanordnung (3) angeordnet ist. Die funktionale Lage (4) ist aus zumindest einem aus der Gruppe umfassend eine Schicht eines fotosensitiven Materials (7), einen Quantendetektor, einen Fotowiderstand, gebildet und ferner ist über der funktionalen Lage (7) zumindest eine Quelle für elektromagnetische Strahlung (8) angeordnet, wobei die abgegebene elektromagnetische Strahlung überwiegend in Richtung der funktionalen Lage (4) wirkt. Die funktionale Lage (4) kann auch als Transistoranordnung (9), gebildet aus einer Mehrzahl von Transistoren, ausgebildet sein. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Herstellung einer Schaltvorrichtung (1).
摘要翻译：本发明涉及一种用于最佳和不常见印刷电路板（12）的电接触测试的开关装置（1），其包括至少一个有翼门（2），一个第一电极装置（3）和功能层（4），其中所述支撑物（2）是可弹性变形的，并且其中所述功能层（4）设置在所述第一电极装置（3）上。功能层（4）由包含感光材料（7）的层的组中的至少一个的，量子检测器，光敏电阻，形成并进一步，＆是功能层的OVER（7）至少一个用于导航用途ř电磁辐射源（8）中，所发射的电磁辐射主要在功能层（4）的方向上起作用。功能层（4）也可以被设计为由多个晶体管形成的晶体管装置（9）。本发明还涉及一种用于制造开关装置（1）的方法。

25. 发明申请

WO99030172A2 WIDEBAND ISOLATION SYSTEM 审中-公开
标题翻译：宽带隔离系统
公开(公告)号：WO99030172A2
公开(公告)日：1999-06-17
申请号：PCT/US1998/025612
申请日：1998-12-03
IPC分类号： G01R1/07 , G01R31/00 , G01R
CPC分类号： G01R31/002 , G01R1/071
摘要： The present invention provides an electro-optical isolation system (10) for coupling an electronic measuring device to a device under test (12) for making accurate measurements of signals within a wide frequency range while the device under test (12) is being subject to high power electrical disturbances (14, 16). The invention provides an increased rejection of high common mode signals and reduction of undesired self-capacitance by implementing a shielded handheld transmitter unit (18) having an integrated measurement probe (24). The transmitter unit (18) converts the sensed signal to an optical signal which is transmitted through an optical medium to a receiver unit (22). Under control of a microprocessor (116), the level of the output signal from the transmitter unit (18) is modulated by the signal received from the sensing probe (24). The microprocessor (116) within the transmitter unit (18) automatically controls the level of optical signal (126) emitted by the optical converter (124), and further calibrates a driver circuit (134) to maintain measurement accuracy. The modulated optical signal (126) emitted by the electro-optical converter (124) is communicated to the receiver unit (22) by an optical fiber medium (20a or 20b).
摘要翻译：本发明提供了一种用于将电子测量装置耦合到被测器件（12）的电光隔离系统（10），用于在被测器件（12）受制于高功率电气干扰（14,16）。本发明通过实现具有集成测量探针（24）的屏蔽手持式发射器单元（18）来提供对高共模信号的增加的抑制和减少不期望的自身电容。发射机单元（18）将感测到的信号转换成通过光学介质传输到接收机单元（22）的光信号。在微处理器（116）的控制下，来自发射器单元（18）的输出信号的电平由从感测探头（24）接收的信号调制。发射机单元（18）内的微处理器（116）自动控制由光转换器（124）发射的光信号（126）的电平，并进一步校准驱动电路（134）以保持测量精度。由电光转换器（124）发射的调制光信号（126）通过光纤介质（20a或20b）传送到接收器单元（22）。

26. 发明申请

WO1989009413A1 ELECTRO-OPTIC PROBE 审中-公开
标题翻译：电光探头
公开(公告)号：WO1989009413A1
公开(公告)日：1989-10-05
申请号：PCT/US1989001230
申请日：1989-03-23
申请人： PRINCETON APPLIED RESEARCH CORPORATION
发明人： PRINCETON APPLIED RESEARCH CORPORATION , JONES, Roger, S.
IPC分类号： G01R29/12
CPC分类号： G01R1/071
摘要： An electro-optic probe (10) for measuring an externally-applied field, e.g., an electric or magnetic field, is provided comprising a housing (12a); a beamsplitter (22b) mounted in the housing (12a) and optically coupled to a light source (16) and to an optical detector (20) via flexible fiber optic cables for conditioning an optical beam received from the light source (16) by extracting a portion of the optical beam having a first polarization, and for analyzing the portion of the optical beam by extracting a subportion of the optical beam having a second polarization and transmitting the subportion to the optical detector (20); and a crystal (28) mounted in the housing (12a) in fixed relation to the beamsplitter (22b) and optically coupled to the beamsplitter (22b), for receiving the portion of the optical beam, changing the first polarization to the second polarization for the subportion of the optical beam in response to an externally-applied field, and returning the subportion of the optical beam to the beamsplitter (22b).
摘要翻译：提供了一种用于测量外部施加的场，例如电场或磁场的电光探头（10），其包括壳体（12a）; 安装在壳体（12a）中并通过柔性光纤电缆光耦合到光学检测器（20）的分束器（22b），用于通过提取来调节从光源（16）接收的光束所述光束的一部分具有第一极化，并且用于通过提取具有第二极化的光束的子部分并将所述子部分传输到所述光学检测器（20）来分析所述光束的所述部分。和与所述分束器（22b）固定关系并与所述分束器（22b）光学耦合的壳体（12a）中的晶体（28），用于接收所述光束的所述部分，将所述第一偏振改变为所述第二偏振响应于外部施加的场的光束的子部分，以及将光束的子部分返回到分束器（22b）。

27. 发明申请

WO2014081326A3 GUIDED OPTICAL POLARIMETRIC SENSOR BASED ON LITHIUM NIOBATE FOR MEASURING THE AC/DC ELECTRIC FIELDS 审中-公开
标题翻译：基于用于测量AC / DC电场的锂离子电池的导向光学极化传感器
公开(公告)号：WO2014081326A3
公开(公告)日：2014-09-12
申请号：PCT/RO2012000026
申请日：2012-09-21
申请人： A O T ADVANCED OPTICAL TRANSDUCER COMPANY S R L
发明人： BRATOVICH RUDI , BARBERIS ANGELO
IPC分类号： G01R29/08 , G01R15/24 , G01R31/308
CPC分类号： G01R1/071 , G01R15/241 , G01R29/0885 , G01R31/308
摘要： The invention refers to an optical sensor for measuring the AC/DC electric fields. The suggested sensor may be used in air or in different fluids without affecting the electric field. The main industrial application of the sensor is measuring in real time the health of the HV component used in the AC/DC transmission line or in the electricity transmission substance. The optical polarimetric sensor for measuring the electric field is formed of at least a "z- cut" LiNbO3 electro-optic crystal as sensitive optical material (10). a probe (6), with physical axes parallel with the crystal axes, whose birefringence characteristics are modulated by the electric field in contact, as well as a light source (1), an optical fibre (2) and some dielectric analysis components, including a GRIN lens (7), a polaroid (8), a retarder plate λ/4, (9), a dielectric mirror (12) and a photo diode (5) protected by a dielectric case (13, 13'). The device also includes a Y derivation (3) for transmitting a light source to the probe T (6) and from it to the photo diode (5), coupled to an optical fibre (2) coupling (4), and inside the probe (6) the electro-optical crystal (10) is framed by the polaroid (10) and the retarder plate λ/4, (9), of the one part and the retarder plate λ/8, (11) and the dielectric mirror (12) of the other part; in order to align the light beam wit this analyzer assembly, the GRIN lens (7) with attached optical fibre (2) is introduced in a cased block (14) aligned with the polaroid (8). As part of a real invention example, the GRIN lens (7) with attached optical fibre (2) is fixed in a dielectric sphere (15) perforated axially, that can rotate between two plates (16) and (17) fixed in the cased block (14).
摘要翻译：本发明涉及用于测量AC / DC电场的光学传感器。建议的传感器可以在空气或不同流体中使用，而不会影响电场。传感器的主要工业应用是实时测量AC / DC传输线或电力传输物质中使用的HV组件的健康状况。用于测量电场的光学偏振传感器由至少一个“z切”LiNbO 3电光晶体作为敏感光学材料（10）形成。探针（6），其物理轴平行于晶体轴，其双折射特性由接触的电场以及光源（1），光纤（2）和一些电介质分析部件调制，包括 GRI透镜（7），偏振片（8），延迟板λ/ 4，（9），电介质反射镜（12）和由电介质壳体（13,13'）保护的光电二极管（5）。该器件还包括用于将光源传输到探针T（6）并从其传输到光电二极管（5）的Y导数（3），耦合到光纤（2）耦合（4），并且在探针内部（6）电光晶体（10）由一部分的偏振片（10）和缓速板λ/ 4，（9）构成，延迟板λ/ 8，（11）和电介质镜（12）; 为了使该分析器组件的光束对准，具有附接的光纤（2）的GRIN透镜（7）被引入与偏光镜（8）对准的套环块（14）中。作为实施例的一部分，具有附接的光纤（2）的GRIN透镜（7）固定在轴向穿孔的电介质球（15）中，可以在固定在套管中的两个板（16）和（17）之间旋转块（14）。

28. 发明申请

WO2014073398A1 半導体デバイス検査装置及び半導体デバイス検査方法审中-公开
标题翻译：半导体器件检测器件和半导体器件检测方法
公开(公告)号：WO2014073398A1
公开(公告)日：2014-05-15
申请号：PCT/JP2013/078987
申请日：2013-10-25
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：中村　共則
IPC分类号： G01R31/302 , G01N21/00
CPC分类号： G01R31/311 , G01N21/95607 , G01R1/071 , G01R31/26 , G01R31/2601 , G01R31/2851 , G01R31/308
摘要：　半導体デバイス検査装置１は、光を出射するレーザ光源２と、当該光の半導体デバイス１０での反射光を検出し、検出信号を出力する光センサ１２と、検出信号に対して測定周波数帯域及び参照周波数帯域を設定する周波数帯域設定部１６と、測定周波数帯域及び参照周波数帯域における検出信号から測定信号及び参照信号を生成するスペクトラムアナライザ１５と、測定信号と参照信号との差分を算出することで、解析信号を取得する信号取得部１７と、を備える。周波数帯域設定部１６は、検出信号のレベルをパワーに基づいて算出した場合に、当該レベルが、基準となるホワイトノイズレベルに３デシベルを加算したレベル以下となる周波数領域に、参照周波数帯域を設定する。
摘要翻译：该半导体装置检查装置（1）具备：照射光的激光光源（2）检测来自半导体装置（10）的所述光的反射光的光传感器（12），并输出检测信号; 频带设定部（16），其在所述检测信号中设定测定频带和基准频带; 频谱分析器（15），其从测量频带和参考频带中的检测信号产生测量信号和参考信号; 以及通过计算测量信号和参考信号之间的差异来获取分析信号的信号获取单元（17）。当基于功率计算出检测信号电平时，频带设定单元（16）将参考频带设置为频率区域，在该频率区域，该电平变得不大于将3分贝加到基线白色噪音水平。

29. 发明申请

WO2010040161A3 SWITCHING APPARATUS FOR ELECTRICAL CONTACT TESTING 审中-公开
标题翻译：控制装置的电接触测试
公开(公告)号：WO2010040161A3
公开(公告)日：2010-07-01
申请号：PCT/AT2009000387
申请日：2009-10-07
申请人： NANOLDENT TECHNOLOGIES AG , SCHROETER KLAUS
发明人： SCHROETER KLAUS
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R1/071 , G01R31/2808
摘要： The invention relates to a switching apparatus (1) for electrical contact testing of populated and unpopulated printed circuit boards (12), comprising at least one extensive mount layer (2), a first electrode arrangement (3) and a functional layer (4), wherein the mount layer (2) is elastically restorably deformable and wherein the functional layer (4) is arranged on the first electrode arrangement (3). The functional layer (4) is formed from at least one from the group comprising a layer of a photosensitive material (7), a quantum detector, a photoresistor, and, furthermore, at least one source of electromagnetic radiation (8) is arranged above the functional layer (7), wherein the emitted electromagnetic radiation acts predominantly in the direction of the functional layer (4). The functional layer (4) may also be in the form of a transistor arrangement (9), formed from a plurality of transistors. Furthermore, the invention relates to a method for producing a switching apparatus (1).
摘要翻译：本发明涉及的开关装置（1），用于填充和未填充的印刷电路板的电接触的测试（12）包括至少一个平坦的支撑上诉（2），第一电极组件（3）和一个功能层（4），其中所述载体片材（2）弹性地是可恢复的变形的，并且其中所述功能层（4）被布置在所述第一电极装置（3）。功能层（4）由包含感光材料（7）的层的组中的至少一个的，量子检测器，光敏电阻，被形成，和电磁辐射的另外的至少一个源（8）设置在所述功能层上述（7）其中，在所述功能层的方向上发射的电磁辐射主要（4）作用。功能层（4）可以形成为从多个晶体管构成的晶体管阵列（9）。本发明还涉及一种制造开关设备（1）的方法。

30. 发明申请

WO0194955A3 SCANNING ELECTRO-OPTIC NEAR FIELD DEVICE AND METHOD OF SCANNING 审中-公开
标题翻译：扫描电光近场仪和扫描方法
公开(公告)号：WO0194955A3
公开(公告)日：2002-04-18
申请号：PCT/US0140909
申请日：2001-06-08
申请人： UNIV MICHIGAN , WHITAKER JOHN N FA , YANG KYOUNG , KATEHI LINDA P B
发明人： WHITAKER JOHN FIRMAN , YANG KYOUNG , KATEHI LINDA P B
IPC分类号： G01R1/07 , G01R13/34 , G01R29/08 , G01R29/14 , G01R31/311
CPC分类号： G01R29/14 , G01R1/071 , G01R13/347 , G01R29/0885 , G01R31/311
摘要： A microwave and millimeter-wave electric-field mapping system based on electro-optic sampling has been developed using micromachined Gallium Arsenide crystals mounted on gradient index lenses and single-mode optical fibers. The probes are able to detect three orthogonal polarizations of electric fields and, due to the flexibility and size of the optical fiber, can be positioned not only from the extreme near-field to the far-field regions of microwave and millimeter-wave structures, but also inside of enclosures such as waveguides and packages. A microwave electric-field-mapping system based on micromachined GaAs electro-optic sampling probes mounted on gradient index lenses and single-mode optical fibers can extract field images from the interior of an enclosed microwave cavity.
摘要翻译：已经使用安装在梯度折射率透镜和单模光纤上的微加工砷化镓晶体开发了基于电光采样的微波和毫米波电场映射系统。探头能够检测电场的三个正交极化，并且由于光纤的灵活性和尺寸，不仅可以定位在微波和毫米波结构的远场区域的极端近场，而且还在诸如波导和封装的外壳内部。基于安装在梯度折射率透镜和单模光纤上的微加工GaAs电光采样探针的微波电场映射系统可以从封闭的微波腔内部提取场图像。

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