会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 21. 发明专利
    • NUEVAS FORMAS SOLIDAS DE UN MICROBICIDA
    • CO6220876A2
    • 2010-11-19
    • CO09097211
    • 2009-09-10
    • SYNGENTA PARTICIPATIONS AGSYNGENTA LTD
    • SHAH SHAILESHGEORGE NEILJONES IAN KEVINBONNETT PAUL EDWARD
    • A01N43/56A01P3/00
    • 1.- Modificación cristalina C de la syn-(9-isopropil-1,2,3,4 tetrahidro-1,4-metano-naftalen-5-il)-amida de ácido 3-difluormetil-1-metil-1H-pirazol-4-carboxílico racémica, donde dicha modificación cristalina se caracteriza por un patrón de difracción de rayos X de polvo, expresado en términos de espaciamientos de intensidades relativas, donde dicho patrón de difracción de rayos X de polvo comprende las siguientes líneas características: 13,74 Å (fuerte), 7,95 Å (débil), 6,94 Å (media), 6,04 Å (débil), 4,43 Å (media) y 3,72 Å (fuerte). 2.- La modificación cristalina de la reivindicación 1 caracterizada además por tener el patrón de difracción de rayos X de polvo ilustrado en la Figura 1. 3.- La modificación cristalina de la reivindicación 1 caracterizada además por presentar en el termograma por calorimetría diferencial de barrido una señal endotérmica con un pico en el rango de 130°C a 142°C. 4.- La modificación cristalina de la reivindicación 1 en forma sustancialmente pura. 5.- Modificación cristalina I de la anti-(9-isopropil- 1,2,3,4-tetrahidro-1,4-metano-naftalen-5-il)-amida de ácido 3-difluormetil-1-metil-1H-pirazol-4-carboxílico racémica, donde dicha modificación cristalina se caracteriza por un patrón de difracción de rayos X de polvo, expresado en términos de espaciamientos de intensidades relativas, donde dicho patrón de difracción de rayos X de polvo comprende las siguientes líneas características: 16,19 Å (muy fuerte), 11,77 Å (fuerte), 9,47 Å (media): 5,49 Å (muy fuerte), 5,16 Å (media), 4,61 Å (fuerte) y 4,22 Å (fuerte). 6.- La modificación cristalina de la reivindicación 5 caracterizada además por tener el patrón de difracción de rayos X de polvo ilustrado en la Figura 4.