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    • 30. 发明授权
    • Radiation-hardened SRAM cell with write error protection
    • 具有写入错误保护的辐射硬化SRAM单元
    • US07233518B2
    • 2007-06-19
    • US11051916
    • 2005-02-04
    • Harry Liu
    • Harry Liu
    • G11C11/00
    • G11C11/4125
    • A method and system is disclosed for preventing write errors in a Single Event Upset (SEU) hardened static random access memory (SRAM) cell. A compensating element has been connected to a feedback path of the SRAM cell. The compensating element operates to cancel out capacitive coupling generated in an active delay element of the SRAM cell. If the compensating element sufficiently cancels the effects of the capacitive coupling, a write error will not occur in the SRAM cell. The compensating element also occupies a smaller silicon area than other proposed solutions.
    • 公开了一种用于防止单事件颠覆(SEU)硬化静态随机存取存储器(SRAM)单元中的写入错误的方法和系统。 补偿元件已经连接到SRAM单元的反馈路径。 补偿元件用于抵消在SRAM单元的有源延迟元件中产生的电容耦合。 如果补偿元件充分抵消了电容耦合的影响,则在SRAM单元中不会发生写入错误。 补偿元件的硅面积也比其他提出的解决方案要小。