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    • 23. 发明申请
    • SiO2-SCHLICKER FÜR DIE HERSTELLUNG VON QUARZGLAS SOWIE VERWENDUNG DES SCHLICKERS
    • 二氧化硅SCHLICKER滑差的石英玻璃的生产和使用
    • WO2008040615A1
    • 2008-04-10
    • PCT/EP2007/059565
    • 2007-09-12
    • HERAEUS QUARZGLAS GMBH & CO. KGWERDECKER, WaltraudTRAEGER, NorbertWEBER, Juergen
    • WERDECKER, WaltraudTRAEGER, NorbertWEBER, Juergen
    • C03B19/06G02B5/02C03C17/02H05B3/00
    • C03C17/02C03B19/06C03B19/066C03B20/00C03C2218/11
    • Ein bekannter SiO 2 -Schlicker zur Herstellung von Quarzglas enthält eine Dispersionsflüssigkeit und amorphe SiO 2 -Teilchen mit Teilchengrößen bis maximal 500 µm, wobei SiO 2 -Teilchen mit Teilchengrößen im Bereich zwischen 1 µm und 60 µm den größten Volumenanteil ausmachen, sowie außerdem SiO 2 -Nanoteilchen mit Teilchengrößen von weniger als 100 nm im Bereich zwischen 0,2 Gew.-% und 15 Gew.-% (bezogen auf den gesamten Feststoffgehalt). Um hiervon ausgehend einen Schlicker bereit zu stellen, dessen Fließverhalten insbesondere im Hinblick auf eine Verarbeitung durch Abziehen oder Gießen der Schlickermasse und in Bezug auf ein rissfreies Trocknen und Sintern optimiert ist, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, dass die SiO 2 -Teilchen eine mehrmodale Teilchengrößenverteilung mit einem ersten Maximum der Größenverteilung im Bereich von 1 und 3 µm und einem zweiten Maximum im Bereich von 5 bis 50 µm aufweisen, und dass der Feststoffgehalt (Gewichtsanteil der SiO 2 -Teilchen und der SiO 2 -Nanoteilchen zusammen) im Bereich zwischen 83 und 90 % liegt.
    • 一个众所周知的SiO 2 -Schlicker用于容纳液体和无定形的SiO 的分散体的生产熔融二氧化硅的2 高达500微米的颗粒尺寸,颗粒,其中的SiO 2 在1微米和60微米之间的范围内的粒径的粒子构成的最大体积分数,并且还二氧化硅 2 与颗粒重量的纳米颗粒尺寸小于100nm的范围内之间.- 0.2重量%和15 .-%(基于总固体含量)。 为了此基础上提供制备浆液,其流动特性,特别适合与通过去除或在相对于无裂纹的干燥和烧结的浆料的浇注以便处理时,本发明提出,在SiO 2 颗粒具有在1个3微米的范围内,并在5至50微米具有范围内的第二最大尺寸分布的第一最大值的多峰粒度分布,且其固体含量(按重量计的比例的SiO 2 颗粒和 所述的SiO 2 纳米颗粒)是一起在范围83-90%。
    • 26. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER OBERFLÄCHENBELEGUNG EINES QUARZGLASBAUTEILS
    • 一种用于确定石英玻璃结构供给表面占有率
    • WO2007068692A1
    • 2007-06-21
    • PCT/EP2006/069593
    • 2006-12-12
    • HERAEUS QUARZGLAS GMBH & CO. KGSHIN-ETSU QUARTZ PROCUCTS CO. LTD.WIEDEMANN, Karl-HeinzWEBER, Juergen
    • WIEDEMANN, Karl-HeinzWEBER, Juergen
    • G01N1/32
    • G01N1/32G01N1/4044
    • Ein bekanntes Verfahren zur Bestimmung der Oberflächenbelegung eines Quarzglasbauteils mit Verunreinigungen umfasst eine Probenahme, bei der mindestens ein Teil der Oberfläche des Quarzglas-Bauteils mit einer sauren Desorptionslösung in Kontakt gebracht, zu analysierende Verunreinigungen der Oberfläche darin angesammelt und einer elementspezifischen Analyse unterzogen werden. Um hiervon ausgehend ein Verfahren bereitzustellen, mittels dem die Oberflächenbelegung von Quarzglasbauteilen genau und reproduzierbar bestimmt werden kann, und das für die Ermittlung geringer Verunreinigungsmengen in der Größenordnung von 10 10 Atomen/cm 2 auch für einen Einsatz unmittelbar vor Ort geeignet ist, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, dass die Probenahme ein Kontaktieren der Bauteil-Oberfläche mit einer sauren Desorptionslösung umfasst, die Wasser, Salpetersäure und Flusssäure enthält, wobei die Salpetersäure-Konzentration in der Desorptionslösung zwischen dem 1,5-fachen bis 5-fachen der Flusssäure-Konzentration (in Vol.-%) beträgt, und mit der Maßgabe, dass der Gehalt an Flusssäure, die Kontaktierungsdauer und -temperatur so eingestellt werden, dass die Bauteiloberfläche nicht mehr als 0,5 µm tief abgetragen wird.
    • 用于确定与杂质的石英玻璃元件的表面覆盖的公知方法包括在与在其中积累待分析表面的污染物接触酸性解吸液带来至少石英玻璃部件的表面的一部分的采样,和一个特定的元素分析进行​​。 向该基础,借助于该能精确且可再现地被确定的石英玻璃部件的表面涂层,以提供一个方法,和较小的,用于确定在10 10 原子/ cm 2 也适用于在现场直接使用,本发明提出的是,采样包括将所述部件表面用含有水,硝酸和氢氟酸的酸性解吸溶液接触,在1之间的解吸溶液中的硝酸浓度, 5倍到氢氟酸浓度的5倍(在体积%)的重量,并用氢氟酸,接触时间和温度的内容被调整的条件,使得在部件表面不大于0.5微米 深深侵蚀。