会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 14. 发明专利
    • Numerisches Steuerverfahren und Vorrichtung dafür
    • DE112010005510T5
    • 2013-03-21
    • DE112010005510
    • 2010-04-21
    • MITSUBISHI ELECTRIC CORP
    • NAKAMURA NAOKI
    • G05B19/4155
    • Zur Bereitstellung eines numerischen Steuerverfahrens und einer Vorrichtung dafür, die eine Interferenz eines Werkzeugs mit einem Drehtisch oder einem Werkstück vermeiden kann, ohne dass der Benutzer einen manuellen Betrieb zum Durchführen eines Interferenzvermeidungsbetriebs durchführt, wird eine Vermeidungshöhen-Berechnungseinheit 6 bereitgestellt, die eine Interferenzvermeidungshöhe 23 des Werkzeugs berechnet, bei der das Werkzeug nicht mit dem Drehtisch und dem Werkstück interferiert, über einen gesamten beweglichen Bereich einer Drehachse, in die die Bewegungsanweisung eingegeben ist, sowie eine Interferenzbestimmungseinheit 7, die bestimmt, ob das Werkzeug mit dem Drehtisch und dem Werkstück interferieren wird, durch Vergleichen einer gegenwärtigen Höhe 24 einer Spitze des Werkzeugs mit der Interferenzvermeidungshöhe 23, und eine Vermeidungsbetriebs-Erzeugungseinheit 9, die eine Anweisung zur Bewegung in eine Werkzeugachsenrichtung bis zu der Interferenzvermeidungshöhe 23 erzeugt.
    • 15. 发明专利
    • Numerische Steuervorrichtung
    • DE112011104784T5
    • 2013-10-31
    • DE112011104784
    • 2011-01-26
    • MITSUBISHI ELECTRIC CORP
    • SATO TOMONORINAKAMURA NAOKIIUCHI YUKIHIROFUJINO DAISUKE
    • G05B19/18G05B19/19
    • Eine Numeriksteuervorrichtung (1) für eine Bearbeitungsmaschine, die in der Lage ist, eine Werkzeughaltung (17) relativ zu einem Werkstück unter Verwendung von Rotationsantreiben einer Drehantriebsachse um einen Maschinensteuerpunkt zu steuern, beinhaltet: eine Interpolationseinheit (3), die einen Interpolationsprozess an Bewegungsdaten durchführt, die aus einem Bearbeitungsprogramm (8) erzeugt werden, und eine Position des Maschinensteuerpunktes für jeden inneren Interpolationsprozess ausgibt; eine Koordinatentransformationseinheit (5), die eine Position des Maschinensteuerpunktes zu einer Werkzeugspitzen-Punktposition transformiert; eine Hubgrenz-Bestimmungseinheit (6), die feststellt, ob die Position des Maschinensteuerpunkts und die Werkzeugspitzen-Punktposition innerhalb eines Bereichs einer Bewegungsregion fallen; und ein Hubgrenzsignal (15), das eine Hubgrenze anzeigt, und einen Werkzeughaltungsänderungsbefehl (16) zum Anweisen der Änderung in der Werkzeughaltung 17 auswählt und ausgibt; und eine Werkzeughaltungsänderungseinheit (7), welche die Werkzeughaltung (17) in Reaktion auf den Werkzeughaltungsänderungsbefehl (16) ändert.
    • 18. 发明专利
    • Optische integrierte Halbleitervorrichtung
    • DE112018007107T5
    • 2020-11-05
    • DE112018007107
    • 2018-02-19
    • MITSUBISHI ELECTRIC CORP
    • NAKAMURA NAOKIISHIMURA EITARO
    • G02B6/12G02B6/122H01S5/026
    • Eine Aufgabe besteht darin, eine optische integrierte Halbleitervorrichtung bereitzustellen, welche eine Intensität eines sich durch einen Lichtwellenleiter ausbreitenden Lichts überwachen kann, ohne die Lichtverteilung dieses Lichts zu beeinflussen und ohne Charakteristiken eines optischen Elements auf der Lichteinfallsseite zu verschlechtern. Eine optische integrierte Halbleitervorrichtung (200) ist eine optische integrierte Halbleitervorrichtung, in der ein erstes optisches Element (61), ein Überwachungs-Lichtwellenleiter (62) und ein zweites optisches Element (63), durch die sich Licht ausbreitet, auf einem gemeinsamen Halbleitersubstrat (1) ausgebildet sind; wobei der Überwachungs-Lichtwellenleiter (62) mit dem ersten optischen Element (61) verbunden ist und das zweite optische Element (63) mit dem Überwachungs-Lichtwellenleiter (62) verbunden ist. Der Überwachungs-Lichtwellenleiter (62) enthält einen lichtstreuenden Teilbereich (7) zum Streuen eines Teils des Lichts, der aus einer Kombination von Lichtwellenleitern mit verschiedenen Modenfelddurchmessern besteht; und ein Lichtdetektor (65) zum Empfangen gestreuten Lichts, das durch den lichtstreuenden Teilbereich (7) gestreut wird, ist auf einer äußeren Peripherie des Überwachungs-Lichtwellenleiters (62) oder auf einer rückseitigen Oberfläche des Halbleitersubstrats (1) auf dessen Seite platziert, die derjenigen entgegengesetzt ist, die dem lichtstreuenden Teilbereich (7) zugewandt ist.