会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 17. 发明公开
    • 안테나의 성능을 개선하기 위한 방법 및 그 장치
    • 改善天线性能的方法和装置
    • KR1020150065482A
    • 2015-06-15
    • KR1020130150854
    • 2013-12-05
    • 삼성전자주식회사
    • 송성준김진경
    • H04B7/08
    • H04B7/12H04B1/0064H04B7/0837
    • 안테나의성능을개선하기위한방법이개시된다. 상기방법은제1 안테나를통하여수신된제1 밴드신호또는제2 밴드신호를제1 트랜시버로제공하는동작, 제2 안테나를통하여제2 밴드신호에대한제1 다이버시티신호를수신하여컴바이너로제공하는동작, 제3 안테나를통하여제2 밴드신호에대한제2 다이버시티신호를수신하여컴바이너로제공하는동작, 및컴바이너에서제1 다이버시티신호와제2 다이버시티신호를결합하고, 결합된신호를제3 트랜시버로제공하는동작을포함할수 있다. 이외에명세서를통해서파악되는다른실시예들이가능하다.
    • 公开了一种提高天线性能的方法。 该方法可以包括将通过第一天线接收的第一频带信号和第二频带信号提供给第一收发机的操作,通过第二天线接收第二频带信号的第一分集信号并将其提供给 组合器,通过第三天线接收第二频带信号的第二分集信号并将其提供给组合器的操作,以及将组合器中的第一分集信号与第二分集信号组合并将组合信号提供给组合器的操作 第三收发器。 可以实现说明书中的其它实施例。
    • 20. 发明公开
    • 반도체 장치의 테스트 보드 및 이를 포함하는 테스트 시스템
    • 包括半导体器件的测试板和测试系统
    • KR1020170073172A
    • 2017-06-28
    • KR1020150181754
    • 2015-12-18
    • 삼성전자주식회사
    • 송성준김영민김창수김한구
    • G01R31/28G01R31/26G01R1/073
    • G01R31/002G01R1/0416
    • 반도체장치의테스트보드및 이를포함하는테스트시스템이제공된다. 상기반도체장치의테스트보드는, 기판, 상기기판상에형성되는실장패드로, 제1 핀과제2 핀을포함하는반도체칩이실장되는실장패드, 상기기판상에상기실장패드와이격되어배치되고, 상기기판상에배치된패턴에의하여상기반도체칩과전기적으로연결되는테스트핀 그룹을포함하되, 상기테스트핀 그룹은상기제1 핀과전기적으로연결되는제1 테스트핀과, 상기제2 핀과전기적으로연결되는제2 테스트핀을포함하고, 상기제1 핀과상기제2 핀은제1 전압이인가되고, 상기제2 테스트핀에는스트레스신호가인가된다.
    • 提供了半导体器件的测试板和包括该测试板的测试系统。 所述半导体器件的测试板包括:衬底;形成在所述衬底上的安装焊盘,所述安装焊盘包括具有第二管脚和第二管脚的半导体芯片,所述安装焊盘与所述安装焊盘分隔开; 以及通过设置在所述基板上的图案电连接到所述半导体芯片的测试管脚组,其中所述测试管脚组包括:第一测试管脚,电连接到所述第一管脚; 并且第二测试引脚连接到第二测试引脚,其中第一电压被施加到第一引脚和第二引脚,并且应力信号被施加到第二测试引脚。