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11. 发明专利

JP2021102809A 放射線検査機能を備えた立体物造形装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021102809A
公开(公告)日：2021-07-15
申请号：JP2019240198
申请日：2019-12-25
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：神山民彦 , 富澤雅美
IPC分类号： G01N23/046 , B33Y30/00 , B22F3/105 , B22F3/16
摘要：【課題】金属粉末などの造形時における溶融状態、及び製造途中や完成状態の造形物の外観や内部検査を実施することができる、放射線検査機能を備えた立体物造形装置を提供する。【解決手段】ターンテーブル1は造形対象の立体物Mを載置する。レーザビーム照射器4と金属粉末供給ノズル5は、ターンテーブル1の回転中心部を避けて、ターンテーブル1の上方に配置される。放射線発生器8は、ターンテーブル1の上方において、レーザビーム照射器4と金属粉末供給ノズル5よりもターンテーブル1の回転中心側に配置され、ターンテーブル1の外方に向かって放射線を照射する。放射線検出器11は、立体物Mを挟んで放射線発生器8と対向して、ターンテーブル1の側方に配置される。【選択図】図1

12. 发明专利

JP2017167113A コンピュータ断層撮影装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017167113A
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：JP2016075452
申请日：2016-03-16
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：大門弘典 , 富澤雅美 , 山本輝夫 , 岩澤純一
IPC分类号： G01N23/04
摘要：【課題】被検体をスキャンするときの位置決めを簡単に正確に行うコンピュータ断層撮影装置を提供する。【解決手段】被検体3を回転軸C上もしくはその近傍から撮影する外観カメラ4と、外観カメラ4により撮影された被検体3の外観像を表示部に表示し、表示された被検体3の外観像上で任意のROIを設定するROI入力部と、ROIで設定した着目部分が断層像視野にちょうど包含されるようにX線源1と回転軸Cとの間の透過像撮影距離を計算する計算手段と、この計算された透過像撮影距離になるようにX線源1と回転軸Cとの間の距離を調整する調整手段を有するコンピュータ断層撮影装置。【選択図】図1

13. 发明专利

JP2017157536A X線発生装置およびX線撮像装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017157536A
公开(公告)日：2017-09-07
申请号：JP2016054488
申请日：2016-03-01
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：富澤雅美
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/18 , H05G1/70
摘要：【課題】一つの管容器から複数のX線ビームを得ることができるX線発生装置及びこれを用いたX線撮像装置を提供する。【解決手段】等しい形状と構造を持つX線管1a,1bと、X線管1a,1bに高電圧を供給する高電圧電源部6と、X線管1a,1bが有するそれぞれのフィラメントに電力を供給するフィラメント電源部4a,4bと、X線管1a,1b、高電圧電源部6、フィラメント電源部4a,4bを収納する管容器11と、管容器11の内部を満たす絶縁物7とから成り、X線管1a,1bは管容器11内で互いに等しい電位を保つように配置することを特徴とするX線発生装置及びこれを用いたX線撮像装置。【選択図】図1

14. 发明专利

JP2021025848A 非破壊解析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021025848A
公开(公告)日：2021-02-22
申请号：JP2019142769
申请日：2019-08-02
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：国本真典 , 冨樫法仁 , 富澤雅美 , 守田健
IPC分类号： G01N23/046 , G01N23/04
摘要：【課題】被検査物と釘とが明確に区別された鮮鋭な透視画像を得ることのできる非破壊解析装置を得る。【解決手段】X線検出器3は、X線発生器1から照射され被検査物Wを透過したX線を検出し、その出力を画像化する画像構成装置5によってX線透視画像を得る。釘刺し装置8は、被検査物Wに対して釘刺し装置8により刺激などを加える。釘刺し装置8の釘81の先端は、タングステンなどの線減弱係数の高い材料からなる。計測装置9は、その刺激などによって変化した被検査物Wの状態を測定する。制御装置6は、計測装置9の計測結果に基づいて、X線発生器1の位置、釘刺し装置8の状態などを制御する。【選択図】図1

16. 发明专利

JP2019191072A CT撮影装置及び撮影方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019191072A
公开(公告)日：2019-10-31
申请号：JP2018086237
申请日：2018-04-27
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：富澤雅美 , 原拓生 , 渡邉洋貴
IPC分类号： G01N23/046
摘要：【課題】コーンビームアーチファクトを低減したCT撮影装置及びコーンビームアーチファクトを低減させる撮影方法を提供する。【解決手段】CT撮影装置は、コーンビーム状の放射線を被検体100に照射する。被検体100を載置するステージ4の載置面45は、被検体100内の関心領域7の端面71と放射線の焦点Fとが同一平面に載るように傾けられ、関心領域7の全ての体軸断面と、放射線透過経路の一つとが、ステージ4の回転と放射線の照射中に一度は平行になるようにする。【選択図】図2

17. 发明专利

JP2018200184A X線断層撮影装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018200184A
公开(公告)日：2018-12-20
申请号：JP2017103774
申请日：2017-05-25
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：富澤雅美
IPC分类号： G01N23/046
摘要：【課題】データ収集時間が短時間で済む撮影領域が大きなX線断層撮影装置を提供する。【解決手段】第一のX線検出器は、入力面がX線光軸に対して垂直な面内に設けられ、且つ、入力面の感度領域の端に近い部分にX線光軸が位置する。第二のX線検出器は、入力面が被検査物の撮影領域の周辺部の透過X線を捕えるように配置される。サイノグラム生成部は、被検査物の撮影領域と試料テーブルの回転角度とを基準とするサイノグラムであって、複数の入力面の受光データに基づいて複数組の順パス領域と逆パス領域を有するサイノグラムを生成する。データ補間部は、サイノグラムにおける複数の順パス領域間に形成された非受光部分の順パス領域のデータを、複数の逆パス領域のデータを順パス領域のデータに変換することによって補間する。【選択図】図1

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