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11. 发明专利

TW201802479A 檢查用導電性接觸件及半導體檢查裝置审中-公开
简体标题：检查用导电性接触件及半导体检查设备
公开(公告)号：TW201802479A
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：TW106104521
申请日：2017-02-10
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO.,LTD.
发明人：廣中浩平 , HIRONAKA, KOHEI , 相馬一也 , SOUMA, KAZUYA , 莊司哲 , SHOJI, SATOSHI , 山口諒輔 , YAMAGUCHI, RYOSUKE
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/067
摘要：提供一種包含第一端部及相對於第一端部之第二端部之導電性接觸件。第一端部具有第一線狀脊、第二線狀脊、第三線狀脊、第四線狀脊、第一頂點、第二頂點、第三頂點、第四頂點及第五頂點。第一線狀脊、第二線狀脊、第三線狀脊及第四線狀脊彼此間隔且以形成十字形之方式配置。第一頂點、第二頂點、第三頂點及第四頂點位於第一端部之外周，且分別設置於第一線狀脊與第二線狀脊之間、第二線狀脊與第三件線狀脊之間、第三件狀脊與第四線狀脊之間以及第四線狀脊與第一線狀脊之間。
简体摘要：提供一种包含第一端部及相对于第一端部之第二端部之导电性接触件。第一端部具有第一线状嵴、第二线状嵴、第三线状嵴、第四线状嵴、第一顶点、第二顶点、第三顶点、第四顶点及第五顶点。第一线状嵴、第二线状嵴、第三线状嵴及第四线状嵴彼此间隔且以形成十字形之方式配置。第一顶点、第二顶点、第三顶点及第四顶点位于第一端部之外周，且分别设置于第一线状嵴与第二线状嵴之间、第二线状嵴与第三件线状嵴之间、第三件状嵴与第四线状嵴之间以及第四线状嵴与第一线状嵴之间。

12. 发明专利

TWI554762B 探針單元有权
简体标题：探针单元
公开(公告)号：TWI554762B
公开(公告)日：2016-10-21
申请号：TW104104991
申请日：2015-02-13
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：山田佳男 , YAMADA, YOSHIO , 広中浩平 , HIRONAKA, KOHEI , 相馬一也 , SOUMA, KAZUYA , 高橋雅宏 , TAKAHASHI, MASAHIRO
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/06738 , G01R1/0466 , G01R1/06722 , G01R1/07314

13. 发明专利

TWI458183B 連接端子有权
简体标题：连接端子
公开(公告)号：TWI458183B
公开(公告)日：2014-10-21
申请号：TW100141571
申请日：2011-11-15
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：風間俊男 , KAZAMA, TOSHIO , 相馬一也 , SOUMA, KAZUYA
IPC分类号： H01R13/22
CPC分类号： H01R13/2421 , G01R1/06722 , G01R1/06738

14. 发明专利

TWI600218B 連接端子有权
简体标题：连接端子
公开(公告)号：TWI600218B
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：TW104125773
申请日：2015-08-07
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：風間俊男 , KAZAMA, TOSHIO , 相馬一也 , SOUMA, KAZUYA
IPC分类号： H01R13/22
CPC分类号： G01R1/06722 , H01R13/24

15. 发明专利

TW201531712A 探針單元审中-公开
简体标题：探针单元
公开(公告)号：TW201531712A
公开(公告)日：2015-08-16
申请号：TW104104991
申请日：2015-02-13
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：山田佳男 , YAMADA, YOSHIO , 広中浩平 , HIRONAKA, KOHEI , 相馬一也 , SOUMA, KAZUYA , 高橋雅宏 , TAKAHASHI, MASAHIRO
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/06738 , G01R1/0466 , G01R1/06722 , G01R1/07314
摘要：本發明之接觸探針係具有：基部；傾斜部，係具有相對於該基部的長邊方向傾斜的第1傾斜面；延在部，係具有形成與該基部的長邊方向平行的平面之平面部；以及接觸部，係相對於基部的長邊方向的傾斜角度與第1傾斜面的傾斜角度相等的第2傾斜面，且在前端與接觸對象之一個電極相接觸；探針保持具係形成有：複數個保持孔，係保持複數個接觸探針；以及長孔，係在探針保持具的上端面具有開口，且在與複數個保持孔的一端相連通並且在內部壁面保持平面部且沿著內部壁面排列複數個接觸探針。
简体摘要：本发明之接触探针系具有：基部；倾斜部，系具有相对于该基部的长边方向倾斜的第1倾斜面；延在部，系具有形成与该基部的长边方向平行的平面之平面部；以及接触部，系相对于基部的长边方向的倾斜角度与第1倾斜面的倾斜角度相等的第2倾斜面，且在前端与接触对象之一个电极相接触；探针保持具系形成有：复数个保持孔，系保持复数个接触探针；以及长孔，系在探针保持具的上端面具有开口，且在与复数个保持孔的一端相连通并且在内部壁面保持平面部且沿着内部壁面排列复数个接触探针。

16. 发明专利

TWI463141B 接觸探針及探針單元有权
简体标题：接触探针及探针单元
公开(公告)号：TWI463141B
公开(公告)日：2014-12-01
申请号：TW100141985
申请日：2011-11-17
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：風間俊男 , KAZAMA, TOSHIO , 相馬一也 , SOUMA, KAZUYA
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/06738 , G01R1/0483 , G01R1/07314

17. 发明专利

TW201229519A 接觸探針及探針單元 CONTACT PROBE AND PROBE UNIT 审中-公开
简体标题：接触探针及探针单元 CONTACT PROBE AND PROBE UNIT
公开(公告)号：TW201229519A
公开(公告)日：2012-07-16
申请号：TW100141985
申请日：2011-11-17
申请人：日本發條股份有限公司
发明人：風間俊男 , 相馬一也
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/06738 , G01R1/0483 , G01R1/07314
摘要：呈可沿著長度方向伸縮之針狀之導電性接觸探針(2)係具備複數個突出部，該等突出部設於長度方向之至少一方之端部且沿著長度方向呈錘狀或山狀而分別突出，並包括長度方向中之前端的高度與其他突出部有所不同者，藉此，可確實削落存在於接觸對象之球狀電極之表面的氧化被膜，並且可確保更為安定的導通。
简体摘要：呈可沿着长度方向伸缩之针状之导电性接触探针(2)系具备复数个突出部，该等突出部设于长度方向之至少一方之端部且沿着长度方向呈锤状或山状而分别突出，并包括长度方向中之前端的高度与其他突出部有所不同者，借此，可确实削落存在于接触对象之球状电极之表面的氧化被膜，并且可确保更为安定的导通。

18. 发明专利

TW201232934A 連接端子 CONNECTING TERMINAL 审中-公开
简体标题：连接端子 CONNECTING TERMINAL
公开(公告)号：TW201232934A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW100141566
申请日：2011-11-15
申请人：日本發條股份有限公司
发明人：風間俊男 , 相馬一也
IPC分类号： H01R
CPC分类号： G01R1/06722
摘要：一種連接端子,具備導電性第1接觸構件(10)、導電性第2接觸構件(20)與線圈彈簧(30),該導電性第1接觸構件(10)係於同軸上具有具前端較細之前端形狀的前端部(11)及呈大致柱狀的基端部(14);該導電性第2接觸構件(20)係於同軸上具有具前端較細之前端形狀的前端部(21)、及具有沿長度方向相互平行延伸之2個臂部(24a、24b)之基端部(24),其中基端部(14)進入臂部(24a、24b)之間而至少與一方之臂部接觸;該線圈彈簧(30)係安裝於第1接觸構件(10)及第2接觸構件(20),並將第1接觸構件(10)及第2接觸構件(20)分別朝向前端部(11、21)側彈推;並且前端部(11)或前端部(21)之至少一方於前端係具有1個或複數個頂點。
简体摘要：一种连接端子,具备导电性第1接触构件(10)、导电性第2接触构件(20)与线圈弹簧(30),该导电性第1接触构件(10)系于同轴上具有具前端较细之前端形状的前端部(11)及呈大致柱状的基端部(14);该导电性第2接触构件(20)系于同轴上具有具前端较细之前端形状的前端部(21)、及具有沿长度方向相互平行延伸之2个臂部(24a、24b)之基端部(24),其中基端部(14)进入臂部(24a、24b)之间而至少与一方之臂部接触;该线圈弹簧(30)系安装于第1接触构件(10)及第2接触构件(20),并将第1接触构件(10)及第2接触构件(20)分别朝向前端部(11、21)侧弹推;并且前端部(11)或前端部(21)之至少一方于前端系具有1个或复数个顶点。

19. 发明专利

TW201213813A 接觸探針及探針單元 CONTACT PROBE AND PROBE UNIT 审中-公开
简体标题：接触探针及探针单元 CONTACT PROBE AND PROBE UNIT
公开(公告)号：TW201213813A
公开(公告)日：2012-04-01
申请号：TW100122162
申请日：2011-06-24
申请人：日本發條股份有限公司
发明人：風間俊男 , 相馬一也 , 松井曉洋
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/067 , G01R1/06722 , G01R1/07314 , H01L24/72 , H01L2924/14 , H01R13/2421 , H05K7/1069 , H01L2924/00
摘要：一種接觸探針，其具備：第1柱塞(21)，其在同軸上具有前端部(21a)、凸緣部(21c)、凸轂部(21d)以及基端部(21e)，其中前端部(21a)係具有尖細的前端形狀，而凸緣部(21c)係從前端部(21a)的基端側延伸，且具有比前端部(21a)的直徑還大的直徑，而凸轂部(21d)具有比凸緣部(21c)的直徑還小的直徑，至於基端部(21e)具有比凸轂部(21d)的直徑還小的直徑；第2柱塞(22)，其在同軸上具有第2前端部與凸轂部(22c)，其中第2前端部具有尖細的前端形狀，而凸轂部(22c)具有與基端部(21e)的直徑幾乎相同的直徑；以及線圈彈簧(23)，其具有以比凸轂部(21d)直徑還大的內徑以預定間距捲繞之稀疏捲繞部(23a)、以及以與凸轂部(22c)的直徑幾乎相等的內徑而以緊密捲繞之方式捲繞之緊密捲繞部(23b)，並以同軸方式將第1柱塞(21)及第2柱塞(22)予以連結。
简体摘要：一种接触探针，其具备：第1柱塞(21)，其在同轴上具有前端部(21a)、凸缘部(21c)、凸毂部(21d)以及基端部(21e)，其中前端部(21a)系具有尖细的前端形状，而凸缘部(21c)系从前端部(21a)的基端侧延伸，且具有比前端部(21a)的直径还大的直径，而凸毂部(21d)具有比凸缘部(21c)的直径还小的直径，至于基端部(21e)具有比凸毂部(21d)的直径还小的直径；第2柱塞(22)，其在同轴上具有第2前端部与凸毂部(22c)，其中第2前端部具有尖细的前端形状，而凸毂部(22c)具有与基端部(21e)的直径几乎相同的直径；以及线圈弹簧(23)，其具有以比凸毂部(21d)直径还大的内径以预定间距卷绕之稀疏卷绕部(23a)、以及以与凸毂部(22c)的直径几乎相等的内径而以紧密卷绕之方式卷绕之紧密卷绕部(23b)，并以同轴方式将第1柱塞(21)及第2柱塞(22)予以链接。

20. 发明专利

TW201251216A 連接端子 CONTACT PROBE 有权
简体标题：连接端子 CONTACT PROBE
公开(公告)号：TW201251216A
公开(公告)日：2012-12-16
申请号：TW100141571
申请日：2011-11-15
申请人：日本發條股份有限公司
发明人：風間俊男 , 相馬一也
IPC分类号： H01R
CPC分类号： H01R13/2421 , G01R1/06722 , G01R1/06738
摘要：本發明提供一種有關用於電性連接電路基板彼此間用之連接端子,係具備:導電性之第一接觸構件,於同軸上具有具備前端變細之前端形狀之前端部11以及大致呈柱狀之基端部14;導電性之第二接觸構件20,於同軸上具有具備前端變細之前端形狀之前端部21,以及沿長邊方向互相平行延伸之大致呈柱狀之二個臂部(arm)24a、24b,並且前述第一基端部14進入二個臂部24a、24b之間並至少與一方之臂部接觸之基端部24;以及線圈(coil)彈簧30,係被安裝成為一端壓入第一接觸構件10,另一端壓入第二接觸構件20,並將第一接觸構件10與第二接觸構件20分別向前端部11、12之方向彈壓。
简体摘要：本发明提供一种有关用于电性连接电路基板彼此间用之连接端子,系具备:导电性之第一接触构件,于同轴上具有具备前端变细之前端形状之前端部11以及大致呈柱状之基端部14;导电性之第二接触构件20,于同轴上具有具备前端变细之前端形状之前端部21,以及沿长边方向互相平行延伸之大致呈柱状之二个臂部(arm)24a、24b,并且前述第一基端部14进入二个臂部24a、24b之间并至少与一方之臂部接触之基端部24;以及线圈(coil)弹簧30,系被安装成为一端压入第一接触构件10,另一端压入第二接触构件20,并将第一接触构件10与第二接触构件20分别向前端部11、12之方向弹压。

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