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131. 发明授权

KR101498687B1 검사장치 有权
标题翻译：一个测试设备
公开(公告)号：KR101498687B1
公开(公告)日：2015-03-06
申请号：KR1020140006013
申请日：2014-01-17
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 백승하
IPC分类号： G01R1/073 , H01R33/76
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R1/073 , H01R2201/20
摘要： 본 발명은 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부를 지지하는 베이스부 및 상기 베이스부에 힌지 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 제1프로브가 배치되는 커버를 포함하는 검사장치에 관한 것이다.
본 발명의 검사장치는 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부를 지지하는 베이스부; 및 상기 베이스부에 힌지 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 제1프로브가 배치되는 커버를 포함하며, 상기 베이스부는 하부에 배치되는 검사회기판의 검사접점에 일단이 접촉하는 제2프로브를 포함하며, 상기 커버는 상기 힌지에 의한 회동으로 상기 제2프로브의 타단에 접촉 및 이격하도록 상기 커버의 제2프로브에 상응하는 위치에 배치되는 제3프로브를 포함하며, 상기 커버의 제1프로브와 상기 제3프로브는 전기적으로 서로 연결되는 것을 특징으로 한다.
摘要翻译：检测装置技术领域本发明涉及一种检测装置，其特征在于，包括：基座单元，其支撑测试对象引导单元以安装测试对象;以及盖，铰链连接到所述基座单元以布置与所述第一探针接触并间隔开的第一探针从测试对象的测试接触点。测试装置包括：基座单元，用于支撑测试对象引导单元以安装测试对象; 以及盖，其铰接连接到基座单元以布置与被测试物体的测试接触点接触并与其隔开的第一探针。基座单元包括第二探针，其一端与布置在其下部的测试电路板的测试接触点接触。所述盖包括布置在与所述第二探针相对应的位置处的第三探针，所述第三探针通过铰链的旋转与所述第二探针的另一端接触并与所述第二探针的另一端隔开，其中所述第一探针和所述盖的第三探针彼此电连接。

132. 发明授权

KR101398550B1 컨택트 프로브 및 그 제조방법 有权
标题翻译：一种接触探针及其制造方法
公开(公告)号：KR101398550B1
公开(公告)日：2014-05-27
申请号：KR1020130044195
申请日：2013-04-22
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R3/00 , G01R1/06738 , G01R31/2601
摘要： The present invention relates to a contact probe for testing a test subject such as a semiconductor and a manufacturing method thereof. The manufacturing method for the contact probe for testing a test subject according to the present invention includes: a first processing step of integrating an upper plunger with an end unit contacting the test contact point of the test subject, a lower plunger contacting the testing point of the testing circuit board, and an intermediate connection unit connecting the upper and lower plunger; and a step of forming elastic connection unit by processing the intermediate connection unit using a plastic working technique. The present invention reduces the manufacturing cost by simplifying the manufacturing process, extends the life of the product, provides a tip unit fit for the shape of a text subject, and increases the reliability of the test by lowering the resistance.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试诸如半导体的测试对象的接触探针及其制造方法。根据本发明的用于测试受检对象的接触探针的制造方法包括：将上柱塞与接触受试对象的测试接触点的端单元集成的第一处理步骤，与测试对象的测试点接触的下柱塞测试电路板和连接上柱塞和下柱塞的中间连接单元; 以及通过使用塑性加工技术处理中间连接单元来形成弹性连接单元的步骤。本发明通过简化制造过程，延长产品寿命，提供适合于文本对象形状的尖端单元，并通过降低电阻来提高测试的可靠性来降低制造成本。

133. 发明授权

KR101367936B1 테스트 소켓 및 피검사체 인서트의 제조방법 有权
标题翻译：一种测试插座和用于测试对象插入器的制造方法
公开(公告)号：KR101367936B1
公开(公告)日：2014-02-28
申请号：KR1020120109492
申请日：2012-09-28
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , G01R1/067
摘要： The present invention relates to a test socket for testing the electrical characteristics of an object under test. According to the present invention, a test socket includes an object under test insert, and a probe support for supporting a probe by being arranged below the object under test insert. A mounting part includes a middle member having a metal conduction part connecting a contact of the object under test and the probe. The metal conduction part of the middle member includes a buried part filled in a through-hole formed on an insulating substrate, and a conductive metal layer formed on both surface areas around the through-hole. According to the test socket of the present invention, lifetime of the object under test insert can be improved, and contamination from the outside can be prevented.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试被测物体的电特性的测试插座。根据本发明，测试插座包括被测试对象的插入物和用于通过布置在待测试插入物下方来支撑探针的探针支架。安装部分包括具有连接被测试对象的触点和探针的金属导电部分的中间部件。中间构件的金属导电部分包括填充在绝缘基板上形成的通孔中的埋入部分和形成在通孔周围的两个表面区域上的导电金属层。根据本发明的测试插座，可以提高待测试对象的寿命，并且可以防止来自外部的污染。

134. 发明公开

KR1020140003666A 전자부품 검사용 소켓 有权
标题翻译：具有弯曲互连板的电子设备的测试插座
公开(公告)号：KR1020140003666A
公开(公告)日：2014-01-10
申请号：KR1020120067157
申请日：2012-06-22
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/06711 , G01R1/06727 , G01R1/0675 , G01R1/07307 , G01R31/2801
摘要： The purpose of the present invention is accomplished by a socket for test comprising; a probe supporter in which probes are arranged and supported so that test end parts of the socket for test which supports a plurality of probes having a connection end part of the other side and a test end part of one side which is in contact with a contacted terminal of an electronic component is to be tested at the end to the contacted terminal; a connection contact part which is separated from a probe contact part and is in contact with the connection end part of each probe; a probe clip having an elastic connection part for connecting the connection contact part with the probe contact part so that the connection contact part is elastically changed in a direction which is parallel to a probe axial line; and a clip supporter which supports the probe clips by being combined to the probe supporter. The socket for test according to the present invention is easily manufactured and assembled without the installation of a pressure spring by being formed of the connection contact part having a magnetic elastic connection part which is bent and extended as a cantilever support shape. The present invention provides the socket for test having test reliability and stability because each connection contact part elastically is in contact with a test contact point of a test device substrate with individual elasticity according to the height (distance).
摘要翻译：本发明的目的是通过用于测试的插座实现的，包括：探针支架，其中探针被布置和支撑，使得支撑用于测试的插座的测试端部分，该测试端部支撑具有另一侧的连接端部的多个探针和与被接触的一侧接触的一侧的测试端部要在接触终端的末端测试电子部件的端子; 连接接触部分，其与探针接触部分分离并与每个探针的连接端部接触; 探针夹具具有用于将连接接触部与探针接触部连接的弹性连接部，使得连接接触部在与探针轴线平行的方向上弹性变化; 以及夹子支撑件，其通过组合到探针支撑件来支撑探针夹。根据本发明的用于测试的插座可以容易地制造和组装，而不需要通过由具有作为悬臂支撑形状弯曲和延伸的磁性弹性连接部分的连接接触部分形成而安装压力弹簧。本发明提供了具有测试可靠性和稳定性的测试插座，因为每个连接接触部分弹性地根据高度（距离）与具有各自弹性的测试装置基板的测试接触点接触。

135. 发明授权

KR101337427B1 반도체 검사용 프루브 有权
标题翻译：用于测试半导体的探头
公开(公告)号：KR101337427B1
公开(公告)日：2013-12-06
申请号：KR1020120071218
申请日：2012-06-29
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본 발명에 따른 반도체 검사용 프루브는, 길이방향으로 신축가능한 콘택트와; 적어도 2 이상의 상기 콘택트들을 내부에 수용하는 도전성 통체를 포함하여 구성한다.
본 발명에 의하면 검사 시에 프루브의 접촉저항 및 저항 편차를 줄일 수 있고 내구성을 높일 수 있다.

136. 发明授权

KR101337418B1 테스트 핸들러 有权
标题翻译：测试手段
公开(公告)号：KR101337418B1
公开(公告)日：2013-12-06
申请号：KR1020120075448
申请日：2012-07-11
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R31/26
摘要： The present invention relates to a test handler for testing a semiconductor device. The test handler comprises: an insert for accepting a testing semiconductor chip; a cover having a pusher for pressurizing a semiconductor device accepted in the insert; a handle including a moving member for moving the pusher forward or backward toward the semiconductor device; and a stopper for gradually stopping forward and backward movement of the pusher toward the semiconductor device. The test handler according to the present invention can generally be used for various kinds of semiconductor devices.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试半导体器件的测试处理器。测试处理器包括：用于接受测试半导体芯片的插入件; 具有用于对插入件中接受的半导体器件加压的推动器的盖; 手柄，包括用于朝向半导体装置向前或向后移动推动件的移动构件; 以及用于逐渐停止推动器朝向半导体器件的前后移动的止动件。根据本发明的测试处理器通常可以用于各种半导体器件。

137. 发明公开

KR1020130089336A 프로브 有权
标题翻译：探测
公开(公告)号：KR1020130089336A
公开(公告)日：2013-08-12
申请号：KR1020120010615
申请日：2012-02-02
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/06738 , G01R1/06722 , G01R1/06755 , G01R31/2601
摘要： PURPOSE: A probe is provided to test the semiconductor device by using other wires of a bundle of wires even when at least one of the wires is worn or damaged, thereby extending the life of the probe. CONSTITUTION: An upper plunger (20) is electrically connected to a semiconductor device (2). A lower plunger (40) is electrically connected to a tester (6). An internal elastic member (60) elastically biases at least one of the upper plunger and the lower plunger to allow the upper plunger and the lower plunger to be spaced apart from each other. A barrel (80) receives the internal elastic member. The at least one of the upper plunger and the lower plunger is made of metal materials and includes a receiving groove (22) in the end portion thereof. A bundle (24) of conductive wires is arranged on the receiving groove to expose a part of the bundle.
摘要翻译：目的：提供探头，即使当至少一根电线磨损或损坏时，也可以使用一束电线的其他电线来测试半导体器件，从而延长探头的使用寿命。构成：上部柱塞（20）电连接到半导体器件（2）。下柱塞（40）电连接到测试器（6）。内部弹性构件（60）弹性地偏压上部柱塞和下部柱塞中的至少一个，以允许上部柱塞和下部柱塞彼此间隔开。桶（80）接收内部弹性构件。上柱塞和下柱塞中的至少一个由金属材料制成，并且在其端部包括接收槽（22）。导线的束（24）布置在接收槽上以暴露束的一部分。

138. 发明授权

KR101149760B1 검사용 탐침 장치 有权
标题翻译：探针
公开(公告)号：KR101149760B1
公开(公告)日：2012-06-01
申请号：KR1020090060509
申请日：2009-07-03
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/303
CPC分类号： G01R1/06722
摘要： 본발명은반도체칩 검사용탐침장치에관한것으로서, 검사전류가안정적으로흐를수 있도록구조를개선하여검사신뢰성이향상한검사용탐침장치를제공하기위하여, 상하가개구된배럴과반도체칩의접속단자에접촉되는탐침돌기가상단부에형성되고상기배럴의상부에하부가수용되는상부플런저와상기배럴의하부에상부가수용되는하부플런저를포함하여이루어지는반도체칩을검사하기위한검사용탐침장치에있어서, 원통형상의실리콘에금속볼이함유되어도전성을띠는도전성실리콘부가상기배럴의내부에수용되되상기도전성실리콘부는상기상부플런저와하부플런저를전기적으로연결시키고, 반도체칩 검사과정에서상부플런저에전달되는하방압력을탄성지지함을특징으로하여, 배럴내부에금속볼이함유되어도전성을띠는도전성실리콘부가삽입되어검사과정에서상부플런저를탄성지지하고, 상기도전성실리콘부를따라검사전류가안정적으로흐를수 있도록하여검사신뢰성을향상시킬수 있는장점이있다.

139. 发明授权

KR101149759B1 반도체 디바이스의 검사장치 有权
标题翻译：半导体器件的测试装置
公开(公告)号：KR101149759B1
公开(公告)日：2012-06-01
申请号：KR1020110091552
申请日：2011-09-09
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , H01R33/76 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/0441 , G01R1/0466 , G01R31/2893
摘要： PURPOSE: A semiconductor device inspection apparatus is provided to reduce contact point errors of a probe pin and a test contact point of a semiconductor device. CONSTITUTION: A semiconductor device(10) is mounted on a test material carrier(300). A pusher(200) is located on the upper part of the test material carrier in order to pressurize the mounted semiconductor device. A floor member(320) is detachable supported on the floor surface of the test material carrier. A socket guide(400) is located on the lower part of the test material carrier. A socket assembly(500) supports a plurality of probe pins by being combined with the socket guide.
摘要翻译：目的：提供半导体器件检查装置，以减少探针的接触点误差和半导体器件的测试接触点。构成：半导体器件（10）安装在测试材料载体（300）上。推动器（200）位于测试材料载体的上部，以便对安装的半导体器件加压。地板构件（320）可拆卸地支撑在测试材料托架的地板表面上。插座引导件（400）位于测试载体的下部。插座组件（500）通过与插座引导件组合来支撑多个探针。

140. 发明授权

KR101120405B1 프로브 블록 조립체 有权
标题翻译：探头块装配
公开(公告)号：KR101120405B1
公开(公告)日：2012-03-20
申请号：KR1020100013157
申请日：2010-02-12
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/073 , G01R1/04
摘要： 본 발명의 일실시예는 프로브 블록 조립체에 관한 것으로, 이는 상면에 중앙홈이 형성되어 있고 중앙홈의 바닥에서 하면까지 관통하는 다수의 삽입구멍을 갖춘 하부블록, 하부블록의 위에 위치하되 하부블록의 중앙홈에 상응하게 하면에 중앙홈이 형성되어 있고 상면에서 중앙홈까지 관통하는 다수의 삽입구멍을 갖춘 상부블록, 상부블록과 하부블록 사이에 위치되는 지지부재, 지지부재에 부착되어 지지되면서 다수의 삽입구멍을 갖춘 적어도 하나의 정렬부재, 및 상부블록의 삽입구멍과 정렬부재의 삽입구멍 및 하부블록의 삽입구멍에 삽입 관통하여 위치되는 다수의 프로브를 포함하여 구성되어서, 인접한 프로브들 사이의 접촉이 방지되어 프로브들을 단락 없이 안정되게 정렬시킬 수 있게 됨과 더불어, 프로브들 사이의 간격이 미세하게 되더라도 단락을 방지할 수 있도록 조립하는 것이 가능하게 되어 고집적화된 반도체 장치의 검사에도 적용될 수 있다.

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