专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

121. 发明授权

KR102208381B1 검사프로브 및 그의 제조방법, 그리고 그를 지지하는 검사소켓 有权
公开(公告)号：KR102208381B1
公开(公告)日：2021-01-28
申请号：KR1020190110423
申请日：2019-09-06
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이학재 , 백승하
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/04 , G01R3/00 , G01R31/28 , H04N17/00
摘要： 피검사체를검사하기위한검사프로브가개시된다. 검사프로브는서로이격되게선형으로연장하는 2개의접촉라인을각각가진제1접촉라인세트와제2접촉라인세트를포함하며, 상기제1접촉라인세트와상기제2접촉라인세트가 V형으로배치되는라인접촉부를포함한다.

122. 发明公开

KR1020210006596A 검사장치 有权
公开(公告)号：KR1020210006596A
公开(公告)日：2021-01-19
申请号：KR1020190082405
申请日：2019-07-09
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 박동훈
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04 , H01L21/67
摘要： 피검사체의전기적특성을검사하기위한검사장치가개시된다. 검사장치는, 상기피검사체에검사신호를전달하는프로브를가진검사소켓과, 상기피검사체를상기프로브에대해접근및 후퇴이동하도록누르는푸셔유닛을포함하며, 상기푸셔유닛은, 상기피검사체를가압하는누름돌기와, 일면에상기누름돌기가마련되고, 타면에다수의방열컬럼삽입부가마련된푸셔베이스와, 일단부가상기방열컬럼삽입부에삽입되고, 외주면에다수의방열윙을가진막대형상의방열컬럼을포함한다.

123. 发明授权

KR102092674B1 검사 프로브 조립체 및 검사 소켓 有权
公开(公告)号：KR102092674B1
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：KR1020180067907
申请日：2018-06-14
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 정재환 , 김근수 , 신정철
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/18 , G01R3/00 , G01R1/04 , G01R31/28

124. 发明授权

KR102058378B1 인터포저 및 그의 제조방법, 그리고 그를 이용한 프로브카드 有权
公开(公告)号：KR102058378B1
公开(公告)日：2019-12-24
申请号：KR1020180029704
申请日：2018-03-14
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 박웅기
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28

125. 发明公开

KR1020180090134A 검사용 프로브 및 소켓 有权
公开(公告)号：KR1020180090134A
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：KR1020170015153
申请日：2017-02-02
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 백승하
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0416
摘要： 곡면통형상의피검사접촉단자를갖는피검사체의검사용프로브가개시된다. 검사용프로브는 V형으로배치되어상기피검사접촉단자의상호이격된위치에각각접촉하는한 쌍의접촉면을가진접촉부와, 상기접촉부로부터길이방향을따라후방으로일체연장하는연장부를갖는제1접촉부재를포함한다. 본발명의검사용프로브에의하면, 스마트폰용초소형카메라모듈과같은피검사체의부분곡면통형상의피검사접촉단자에효과적으로접촉하여검사에러를방지할수 있다.

126. 发明授权

KR101882209B1 동축 테스트소켓 조립체 有权
公开(公告)号：KR101882209B1
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：KR1020160034619
申请日：2016-03-23
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 정재환 , 김근수 , 신정철
IPC分类号： G01R1/04 , G01R1/073 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/045
摘要： 본발명은피검사체의피검사접점과검사회로의검사접점을전기적으로연결하기위한동축테스트소켓조립체에관한것이다. 동축테스트소켓조립체는, 복수의신호용프로브; 상기검사회로를향한하면과상기피검사체를향한상면을가지고, 상기복수의신호용프로브들을양 단부가상기상면및 상기하면으로노출되도록상호평행하게수용하는복수의프로브공과, 상기상면과하면중 적어도어느하나에상기프로브공들의둘레영역을제외한적어도일부의영역에서상기상면과상기하면으로부터함몰된수용함몰부를갖는소켓블록; 및상기수용함몰부에수용되어상기피검사체와상기검사회로중 어느하나와접촉하는전도성탄성소재로만들어진탄성접지부재를포함한다.

127. 发明公开

KR20180060781A 카메라모듈 검사장치 有权
公开(公告)号：KR20180060781A
公开(公告)日：2018-06-07
申请号：KR20160160670
申请日：2016-11-29
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 김희철
IPC分类号： H04N17/00 , G01R1/04 , G01R1/073 , G01R31/28 , H04N5/225
CPC分类号： H04N17/002 , G01R1/04 , G01R1/073 , G01R31/28 , H04N5/225 , H04N5/2251
摘要： 피검사체의피검사단자와검사회로의검사단자를전기적으로연결하는검사장치가개시된다. 검사장치는신호용프로브와, 접지용프로브와, 상기신호용프로브가전기적으로비접촉상태로통과하도록형성된신호용프로브공과상기접지용프로브가전기적으로접촉상태로통과하도록형성된접지용프로브공을가진도전성블록과, 상기도전성블록을수용하고, 상기신호용프로브의양단을지지하는절연하우징을포함한다. 이에의하면, 신호용프로브및 신호단자간 노이즈를효과적으로차폐할수 있다.

128. 发明授权

KR101706205B1 반도체 디바이스 테스트용 콘택터 및 이를 포함하는 테스트 소켓 有权
标题翻译：用于测试半导体器件的接触器和包括其的测试插座
公开(公告)号：KR101706205B1
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：KR1020110064742
申请日：2011-06-30
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 이채윤
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/26
摘要： 제조원가를절감할수 있는반도체디바이스테스트용콘택터및 이를포함하는테스트소켓을개시한다. 개시된콘택트는, 반도체디바이스와상기반도체디바이스를테스트하기위한테스트신호를인가하는테스트보드사이를전기적으로연결하며, 상기반도체디바이스를향해절곡된디바이스절곡부와; 상기디바이스절곡부의양단에서각각횡방향으로연결되며상기디바이스절곡부를사이에두고양측에상기테스트보드를향해절곡된보드절곡부를포함하는것을특징으로한다.
摘要翻译：目的：提供用于测试半导体器件的接触器和包括其的测试插座，以降低制造成本。构成：半导体测试插座（100）包括用于测试半导体器件的触点（110），弹性部件（120）和壳体（130）。用于测试半导体器件的触点将半导体器件电连接到测试板以施加半导体器件测试信号。弹性构件设置在触点的下侧。壳体接收接触件和弹性构件。

129. 发明授权

KR101580549B1 이방 도전성 커넥터, 그의 제조 방법 및 장치 有权
标题翻译：各向异性导电连接器生产方法及其生产设备
公开(公告)号：KR101580549B1
公开(公告)日：2015-12-28
申请号：KR1020140058037
申请日：2014-05-14
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 양외석
IPC分类号： H01R11/01 , H01B5/16 , H01B13/00
摘要： 본발명은이방도전성커넥터에관한것으로, 두께방향으로도전성을나타내도록자성을나타내는도전성입자가두께방향으로배열되도록배향한상태로함유되어형성되는복수의도전부및 상기복수의도전부주위에형성된탄성절연부를가지는판상탄성체를포함하며, 상기도전부는피검사물의피검사접점표면에부분접촉하도록요철(凹凸)부를가진단부를포함하는것을특징으로한다. 본발명의이방도전성커넥터의도전부단부는예리한팁부가피검사물의피검사접점에접촉하도록함으로써테스트시에발생하는이물질, 예를들면주석(Sn)의전이를방지하여안정적인저항특성을유지하도록할 수있다.

130. 发明公开

KR1020150139226A 프로브 장치 无效
标题翻译：一个探测器
公开(公告)号：KR1020150139226A
公开(公告)日：2015-12-11
申请号：KR1020140067502
申请日：2014-06-03
申请人： 리노공업주식회사
发明人： 조성현
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/073
CPC分类号： H01L22/00
摘要： 본발명은피검사체의피검사접점과검사회로의검사접점사이를전기적으로연결하는프로브장치에관한것이다. 프로브장치는일단이상기피검사접점과검사접점중 하나에접촉하는제1플런저,일단이상기피검사접점과검사접점중 다른하나에접촉하는제2플런저및 상기제1플런저와제2플런저사이에배치되어상기제1플런저와제2플런저가서로를향해접근또는이격되도록탄성력을제공하는탄성체를포함하며, 상기탄성체는외부로부터가압력을받았을때 변곡점을가진탄성력을제공하는것을특징으로한다.
摘要翻译：本发明涉及一种电连接被检者的被检查接触点和检查电路的检查接触点的探针装置。探针装置包括：第一柱塞，其中一端与对象检查接触点或检查接触点接触; 第二柱塞，其中一端与所述对象检查接触点和所述检查接触点中的另一端接触; 以及弹性体，其设置在所述第一柱塞和所述第二柱塞之间，并且为所述第一柱塞和所述第二柱塞彼此靠近或彼此分离提供弹性力。当弹性体从外部受到虚拟的压力时，弹性体提供具有拐点的弹性力。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式