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91. 发明申请

WO99035715A1 COAXIAL CONTACT ASSEMBLY APPARATUS 审中-公开
标题翻译：同轴触点装配装置
公开(公告)号：WO99035715A1
公开(公告)日：1999-07-15
申请号：PCT/US1998/018450
申请日：1998-09-02
IPC分类号： H01R11/18 , G01R1/06 , G01R1/067 , G01R1/073 , H01R9/05 , H01R13/24 , H01R24/44 , H01R103/00
CPC分类号： G01R1/06722 , G01R1/06 , G01R1/07328 , H01R9/05 , H01R13/2421 , H01R24/44 , H01R2103/00
摘要： A coaxial contact assembly (10) has a cylindrical ground plunger (30) which is fixedly attached to the ground conductor (1b) of a coaxial cable (1) through a ground sleeve (28) and mounted in a test head support (4) for sliding movement therein.
摘要翻译：同轴接触组件（10）具有圆柱形接地柱塞（30），其通过接地套筒（28）固定地连接到同轴电缆（1）的接地导体（1b）并安装在测试头支架（4）中，用于在其中滑动。

92. 发明申请

WO99014608A1 A METHOD OF CONTROLLING TEST PROBES IN A TESTING APPARATUS FOR ELECTRONIC PRINTED CIRCUIT BOARDS, AND AN APPARATUS FOR PERFORMING THE METHOD 审中-公开
标题翻译：用于电子印刷电路板的测试装置中的测试探针的控制方法以及用于执行该方法的装置
公开(公告)号：WO99014608A1
公开(公告)日：1999-03-25
申请号：PCT/DK1998/000392
申请日：1998-09-14
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2808 , G01R1/07328 , G01R1/07392
摘要： A method of controlling test probes (1, 2, 3, 4) in a testing apparatus for electronic printed circuit boards (5), wherein a test program is generated in dependence on information on print layout and a priority system according to which points are allocated to the individual test points (8, 9) in dependence on their accessibility from the probes. Use is made of probes of which at least some are longitudinally movable in respective disuniform spatial directions. The control is optimized with respect to probe selection so that a probe with the most expedient spatial direction of movement with respect to a given test point is selected.
摘要翻译：一种在用于电子印刷电路板（5）的测试装置中控制测试探针（1,2,3,4）的方法，其中根据关于打印布局的信息和优先系统产生测试程序，根据哪个点是根据探测器的可访问性分配给各个测试点（8,9）。使用其中至少一些可以在相应的不均匀空间方向上纵向移动的探针。相对于探针选择优化控制，使得选择具有相对于给定测试点的最方便的空间移动方向的探针。

93. 发明申请

WO1999001772A1 PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE 审中-公开
标题翻译：一种电路板
公开(公告)号：WO1999001772A1
公开(公告)日：1999-01-14
申请号：PCT/EP1997005656
申请日：1997-10-15
申请人： LUTHER & MAELZER GMBH , DE GRUYTER, Falko , HIGGEN, Hans-Hermann , DEHMEL, Rüdiger
发明人： LUTHER & MAELZER GMBH
IPC分类号： G01R01/073
CPC分类号： G01R1/07385 , G01R1/07328 , G01R31/2805
摘要： A device for testing the tracks (2-6) of electric printed circuit boards (1) for interruptions or isolation has test pins (10-15; 35, 36) for contacting the tracks (2-6) or the contact surfaces (a, b, c, ...; A, B, C, ...; X, Y, Z) connected therewith, a test voltage source (16) that can be connected to the test pins, and an evaluation circuit (26) which evaluates current conduction through the test pins connected on the one hand to the test voltage source and on the other hand to the track(s) to be tested as a result of the fault detection test. To allow extra-fine printed circuit structures to be electrically tested without damage to the tested contact surfaces and tracks, a contact element (7) can be inserted between the test pins and the printed circuit board. The side (8) of the contact element (7) facing the test pins (10; 35) is made of a conducting material and can form with at least one test pin an electric connection. The side (9) of the contact element (7) facing the printed circuit board is sized such that the contact element can simultaneously contact at least two tracks (2-4) or contact surfaces (a, b, c, ...) of the printed circuits. The contact element can be switched between a conducting and a non-conducting mode. In the conducting mode, it lets the current pass between the corresponding test pin(s) and the contacted tracks or contact surfaces, and in the non-conducting mode, it blocks the current and also mutually isolates the contacted tracks or contact surfaces. A particular advantage of the disclosed device is that it can be integrated with low cost and reduced labour into already existing test plant systems. The disclosed printed circuit board testing device can be used in hardwired special adapters, universal adapters and flying test finger systems.
摘要翻译：本发明是一种电路板测试仪用于开路或隔离，测试引脚测试电气电路板（1）的导体条迹（2-6）;用于接触导体轨（2-6）或（10-15 35-36）这些相关的接触表面（A，b，C，...; A，b，C，...，X，Y，Z），测试电压源可以连接到测试引脚（16），以及评估电路（26），所述评估通过连接到一方面所述测试电压源和在另一测试引脚作为错误校验的（一个或多个）将待测试迹线（S），其特征在于所述电流流动。为了允许超细电路板结构的电测试，而不会损坏接触区域和印制导线进行测试，根据本发明是测试引脚和（7）被设置在电路板接触元件之间的可插入，该测试引脚（10; 35）面向的侧（8）的导电材料的并且可以形成与至少一个测试端子的电接触连接，其侧面向印刷电路板侧（9）具有的尺寸使得对于至少两个导体轨迹（2-4）或接触区域的同时接触所述接触元件（A，b，C，... ）适合于电路迹线，其中，所述接触元件是一个通过模式和回扫模式之间切换时，它允许通道模式对应的测试引脚秒（（在之间的电流））和接触导体轨或接触区域，并且抑制在阻断模式这样的电流流动，并且另外在续 aktierten导体轨或接触区域彼此隔离。本发明装置的一个特别的优点是具有低的成本和精力到现有的测试设备系统，与本发明的电路板检查的一个应用程序集成的可能性是可能在两个硬连线特殊适配器，通用适配器以及飞行试验指系统。

94. 发明申请

WO9837426A3 PROBE PLATE FOR A TEST FIXTURE 审中-公开
标题翻译：用于测试夹具的探针板
公开(公告)号：WO9837426A3
公开(公告)日：1998-10-08
申请号：PCT/US9714247
申请日：1997-08-11
申请人： TTI TESTRON INC
发明人： LAPASTORA JAMES
IPC分类号： G01R1/073 , G01R
CPC分类号： G01R1/07328
摘要： A probe plate (14) for a test fixture (10) includes a top laminate (36), a bottom laminate (38), and an intermediate layer (40) disposed between the top and bottom laminates (36, 38). The intermediate layer (40) provides strength and rigidity to the probe plate (14) for substantially preventing the flexing of the probe plate (14). The top and bottom laminates (36, 38) are each fabricated from reinforced polymeric material, such as continuous-filament woven glass-fabric impregnated with epoxy resin, whereas the intermediate layer (40) is fabricated from lightweight, honeycomb material, such as aluminum and reinforced woven fabric. Also, the intermediate layer (40) can be fabricated from a lightweight, carbon fiber composite.

95. 发明申请

WO2017058325A1 COAXIAL ELECTRICAL INTERCONNECT 审中-公开
标题翻译：同轴电气互联
公开(公告)号：WO2017058325A1
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：PCT/US2016/040513
申请日：2016-06-30
申请人： RAYTHEON COMPANY
发明人： PATTERSON, Chad , QUACH, Duke , HEINRICH, Ethan S. , FITZGIBBON, Michael M.
IPC分类号： H01R12/71 , H01R12/91 , H01R24/44 , H01R24/86 , H01R13/24 , H01R13/405 , G01R1/073
CPC分类号： H01R31/06 , G01R1/07328 , H01R12/714 , H01R12/75 , H01R12/91 , H01R13/2421 , H01R13/2478 , H01R13/405 , H01R13/6473 , H01R24/44 , H01R24/86
摘要： A coaxial electrical interconnect is disclosed. The coaxial electrical interconnect can include an inner conductor including an electrically conductive spring probe. The coaxial electrical interconnect can also include an outer conductor including a plurality of electrically conductive spring probes disposed about the inner conductor. Each spring probe can have a barrel and a plunger biased out of the barrel. The plunger can have a first plunger portion external to the barrel and a second plunger portion disposed partially in the barrel. The first and second plunger portions can have different diameters. A barrel of the spring probe of the inner conductor can be located proximate a plunger of at least one of the spring probes of the outer conductor.
摘要翻译：公开了一种同轴电互连。同轴电气互连可以包括包括导电弹簧探针的内部导体。同轴电互连还可以包括外导体，其包括围绕内导体设置的多个导电弹簧探针。每个弹簧探针都可以有一个筒体和一个柱塞偏压出筒体。柱塞可以具有在筒外部的第一柱塞部分和部分地设置在筒体中的第二柱塞部分。第一和第二柱塞部分可以具有不同的直径。内导体的弹簧探针的一个筒体可以位于外导体的至少一个弹簧探针的柱塞附近。

96. 发明申请

WO2009062696A2 VORRICHTUNG ZUM KONTAKTIEREN VON SCHALTUNGEN 审中-公开
标题翻译：设备用于接触CIRCUITS
公开(公告)号：WO2009062696A2
公开(公告)日：2009-05-22
申请号：PCT/EP2008/009558
申请日：2008-11-12
申请人： RATZKY, Christian , RATZKY, Bruno
发明人： RATZKY, Bruno
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07364 , G01R1/0408 , G01R1/07328 , G01R31/2808
摘要： Vorrichtung zum Kontaktieren, insbesondere zum Prüfen von Schaltungen, umfassend eine Mehrzahl an Kontaktmitteln zum elektrischen Kontaktieren zumindest einer, in einer Prüfstellung in die Vorrichtung eingelegten Schaltung und einer relativ zu der, in der Prüfstellung befindlichen Schaltung bewegbaren, Nadelträgerplatte, wobei die Kontaktmittel mit der Nadelträgerplatte relativ zu der in der Prüfstellung befindlichen Schaltung bewegt werden können.
摘要翻译：装置用于接触，特别是用于包括多个可动的电路的测试接触装置，用于电接触的至少一个，插在设备电路的测试位置和一个电路向，位于相对在测试位置，所述针支承板，其中所述接触与所述针支承板装置可相对于位于所述电路测试位置移动。

97. 发明申请

WO2008042520A3 PROBE ARRAY WAFER 审中-公开
标题翻译：探头阵列晶圆
公开(公告)号：WO2008042520A3
公开(公告)日：2008-08-07
申请号：PCT/US2007076841
申请日：2007-08-27
申请人： INTERCONNECT DEVICES INC , BOGATIN ERIC L , HENRY DAVID W , MARX DONALD A
发明人： BOGATIN ERIC L , HENRY DAVID W , MARX DONALD A
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R1/07328 , G01R1/07364
摘要： A probe array wafer (20) includes a substrate (24) upon which a plurality of compliant probes (22, 28, 30) are mounted. Pairs of axially aligned probes (28) may be electrically connected together to provide a pass through power connection from the test equipment to the device under test. Likewise, pairs of axially aligned probes (28) may be electrically connected together to probe a ground connection from the test equipment to the device under test.
摘要翻译：探针阵列晶片（20）包括其上安装有多个柔性探针（22,28,30）的基底（24）。成对的轴向对齐的探针（28）可以电连接在一起以提供从测试设备到被测设备的通过电力连接。类似地，成对的轴向对齐的探针（28）可以电连接在一起以探测从测试设备到被测设备的接地连接。

98. 发明申请

WO2008071541A2 MODUL FÜR EINE PRÜFVORRICHTUNG ZUM TESTEN VON LEITERPLATTEN 审中-公开
标题翻译： MODULE FOR测试仪，电路板检测
公开(公告)号：WO2008071541A2
公开(公告)日：2008-06-19
申请号：PCT/EP2007/062888
申请日：2007-11-27
申请人： ATG LUTHER & MAELZER GMBH , GÜLZOW, Andreas , ROMANOV, Viktor , GOLDSCHMITT, Volker , MÜLLER, Werner , DEHMEL, Rüdiger , ROTHAUG, Uwe
发明人： GÜLZOW, Andreas , ROMANOV, Viktor , GOLDSCHMITT, Volker , MÜLLER, Werner , DEHMEL, Rüdiger , ROTHAUG, Uwe
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2808 , G01R1/07328
摘要： Die Erfindung betrifft ein Modul für eine Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten. Derartige Prüfvorrichtungen weisen ein Grundraster auf, auf dem ein Adapter und/oder ein Translator angeordnet werden können, um Kontaktstellen des Grundrasters mit Leiterplattentestpunkten mit einer zu testenden Leiterplatte zu verbinden. Das Modul weist eine Stützplatte und eine Kontaktplatte auf. Die Kontaktplatte ist aus einem starren Leiterplattenabschnitt, der als Grundrasterelement bezeichnet wird, und zumindest einem flexiblen Leiterplattenabschnitt ausgebildet. Am Grundrasterelement sind Kontaktstellen vorgesehen, die jeweils ein Teil der Kontaktstellen des Grundrasters bilden. Das Grundrasterelement ist an einer Stirnfläche der Stützplatte angeordnet und der biegsame Leiterplattenabschnitt ist derart abgebogen, dass zumindest ein Teil des übrigen Bereichs der Kontaktplatte parallel zur Stützplatte angeordnet ist. Die Kontaktstellen des Grundrasterelementes stehen jeweils im elektrischen Kontakt mit in der Kontaktplatte verlaufenden Leiterbahnen, die sich von dem Grundrasterelement in den flexiblen Leiterabschnitt erstrecken.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试印刷电路板的测试装置的模块。这样的测试装置具有在其上的适配器和/或翻译可以被布置为连接用的印刷电路板的电路板的测试点的基本格的接触点被测试的基本画面。该模块包括一个支承板和接触板。接触板被从其中被称为基本栅格元件的刚性电路板部分在柔性印刷电路板部分制成，并且至少。上设置在基本光栅元件的接触点，每个成形的基本网格的接触点的一部分。基本网格元件被布置在支撑板和柔性电路板部的端部表面被弯曲，以使得至少所述接触板的剩余部分的一部分被布置成平行于支撑板。基本网格元件的接触点的每个都与其中从在柔性导体部分的基本栅格元件延伸导体轨迹延伸的接触板的电接触。

99. 发明申请

WO02008770A2 SPRING PROBE ASSEMBLIES 审中-公开
标题翻译：弹簧探头组件
公开(公告)号：WO02008770A2
公开(公告)日：2002-01-31
申请号：PCT/US2001/023391
申请日：2001-07-25
IPC分类号： H01R13/652 , G01R1/067 , G01R1/073 , G01R
CPC分类号： G01R1/06772 , G01R1/06722 , G01R1/07328 , G01R1/18
摘要： This invention is directed to a spring probe assembly (10) which contains spring probes (50, 60) used for mating to various planar devices, such as a printed circuit board, via spring contact with interface areas on their surfaces. The assembly (10) is comprised of a non-metallic, insulating material block (20) which has been crafted to secure multiple, impedance matched, coaxial spring probe assemblies (50) and ground spring pins (60). A metallic clip (70) is used to join signal probe shield 54 with the ground spring pin (62) in the appropriate geometry, while isolating that signal probe shield (54) and ground spring pin (62) from all other signal probe shields (54) and ground pins (62). The pins (52) of the signal probes (50) make contact with the surfaces of various planar devices via back pressure applied to the pins (52).
摘要翻译：本发明涉及一种弹簧探针组件（10），弹簧探针组件（10）包含弹簧探针（50,60），用于通过与其表面上的界面区域的弹簧接触来与各种平面装置（例如印刷电路板）配合。组件（10）由非金属绝缘材料块（20）组成，其已被制造以固定多个，阻抗匹配的同轴弹簧探针组件（50）和接地弹簧销（60）。金属夹（70）用于将信号探针屏蔽54与接地弹簧销（62）以适当的几何结合，同时将信号探针屏蔽（54）和接地弹簧销（62）与所有其它信号探针屏蔽（ 54）和接地引脚（62）。信号探针（50）的引脚（52）通过施加到销（52）的背压与各种平面装置的表面接触。

100. 发明申请

WO02000394A1 VACUUM CHUCK WITH INTEGRATED ELECTRICAL TESTING POINTS 审中-公开
标题翻译：真空泵与集成电气测试点
公开(公告)号：WO02000394A1
公开(公告)日：2002-01-03
申请号：PCT/US2001/019874
申请日：2001-06-21
IPC分类号： G01R31/02 , B23Q3/08 , B25B11/00 , G01R1/073 , G01R31/28 , G01R1/04
CPC分类号： G01R31/2808 , B25B11/005 , G01R1/07328 , Y10S279/904 , Y10T279/11
摘要： A vacuum chuck with a conductive circuit embedded onto its surface wherein the chuck provides a reliable conductive path for electrical testing as well as reliable and uniform mechanical support over the entire area of a flexible panel to be tested. In one possible form, the chuck comprises an air permeable fine grain porous alumina ceramic module having a surface coated with conductive material wherein the coating is thin enough that it does not prevent air from passing through the conductive material or the ceramic module. The conductive material may also be etched or otherwise formed into a conductive pattern to facilitate testing of a panel.
摘要翻译：具有嵌入到其表面上的导电电路的真空卡盘，其中卡盘提供用于电测试的可靠的导电路径以及在待测试的柔性面板的整个区域上的可靠和均匀的机械支撑。在一种可能的形式中，卡盘包括透气的细晶粒多孔氧化铝陶瓷模块，其具有涂覆有导电材料的表面，其中涂层足够薄，使得其不会阻止空气通过导电材料或陶瓷模块。导电材料也可以被蚀刻或以其它方式形成为导电图案以便于面板的测试。

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