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91. 发明专利

TW200614703A 光訊號特性選擇裝置 OPTICAL SIGNAL SELECTOR 失效
简体标题：光信号特性选择设备 OPTICAL SIGNAL SELECTOR
公开(公告)号：TW200614703A
公开(公告)日：2006-05-01
申请号：TW094126591
申请日：2005-08-04
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：佐藤毅志 SATO, TAKESHI , 上野修宏 UENO, NOBUHIRO
IPC分类号： H04B , G02F
CPC分类号： G01M11/33 , H04B10/00
摘要：本發明是關於一種光訊號特性選擇裝置，在光學測定、光通訊之領域中，為了進行N個光訊號特性轉換條件之切換選擇，在從輸入至輸出的訊號搬送光路中，使用光開關提供N個之選擇光路，以達成所要之光訊號特性轉換。係為將1個光訊號輸入藉由光開關而分岔到N個之選擇光路，N個之選擇光路藉由光開關而作為1個光訊號輸出之光開關電路，在N個之選擇光路上，進行光訊號特性轉換的機器插入至少一個部位以上，藉由光開關的控制，使N個之光訊號特性轉換條件之選擇成為可能之裝置。
简体摘要：本发明是关于一种光信号特性选择设备，在光学测定、光通信之领域中，为了进行N个光信号特性转换条件之切换选择，在从输入至输出的信号搬送光路中，使用光开关提供N个之选择光路，以达成所要之光信号特性转换。系为将1个光信号输入借由光开关而分岔到N个之选择光路，N个之选择光路借由光开关而作为1个光信号输出之光开关电路，在N个之选择光路上，进行光信号特性转换的机器插入至少一个部位以上，借由光开关的控制，使N个之光信号特性转换条件之选择成为可能之设备。

92. 发明专利

TW200942795A 光纖檢測裝置及其方法 OPTICAL FIBER INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：光纤检测设备及其方法 OPTICAL FIBER INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW200942795A
公开(公告)日：2009-10-16
申请号：TW097113496
申请日：2008-04-14
申请人：瑞軒科技股份有限公司
发明人：尤文平 , 邱東柏
IPC分类号： G01M , G02B
CPC分类号： G01M11/33
摘要：本發明係提供一種光纖檢測裝置。光纖檢測裝置係用以檢測光纖。光纖具有第一端以及第二端。光纖檢測裝置包含光發射器以及銜接部。光纖之第一端係可插拔地連接至銜接部，使得光纖與光發射器所發出的光線耦合。
简体摘要：本发明系提供一种光纤检测设备。光纤检测设备系用以检测光纤。光纤具有第一端以及第二端。光纤检测设备包含光发射器以及衔接部。光纤之第一端系可插拔地连接至衔接部，使得光纤与光发射器所发出的光线耦合。

93. 发明授权

KR100624247B1 고속 근거리 전송망을 위한 다중모드 광섬유 有权
标题翻译：用于高数据速率局域网的多模光纤
公开(公告)号：KR100624247B1
公开(公告)日：2006-09-19
申请号：KR1020040051390
申请日：2004-07-02
申请人： 주식회사 엘에스
发明人： 이동욱 , 강병철 , 강병윤
IPC分类号： C03B37/01
CPC分类号： G01M11/33 , C03B37/01861 , C03B37/01869 , C03B2201/31 , G02B6/02 , G02B6/02042 , G02B6/0288 , Y02P40/57
摘要： 본 발명은 다중모드 광섬유에 관한 것으로서, 코어의 직경이 50± 3㎛ 이고, 850nm와 1300nm 파장에서 1기가비트(Gb)급 신호를 전송거리가 600m 이상인 근거리 광통신망을 통해 전송하기에 적합한 다중모드 광섬유에 있어서, 850nm에 대한 개별모드지연(DMD) 특성 중 코어의 전 영역에서의 최대 시간지연차가 2.0ns/km 이내이며,오프셋이 5㎛ 부터 18㎛인 지점까지의 최대 시간지연차가 2.0ns/km 이내인 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명은 인덱스 딥이나 인덱스 피크와 같은 코어 중심영역의 결함을 제거할 수 있으므로 광원의 종류에 관계없이 기가비트급 고속 근거리 전송망에 적용할 수 있는 다중모드 광섬유를 제조할 수 있다.
MCVD, 다중모드 광섬유, 개별지연모드, 라디알 오프셋

94. 发明授权

KR100444268B1 평면배열형 수광 소자를 이용한 광 측정 장치 및 방법 有权
标题翻译： 평배열배열수광소자를이용한광측정장치및방
公开(公告)号：KR100444268B1
公开(公告)日：2004-08-12
申请号：KR1020020031637
申请日：2002-06-05
申请人： 주식회사 한택 , 정보통신연구진흥원
发明人： 주관종 , 최재식 , 양진세 , 지광순 , 김억연 , 정기우 , 김도훈 , 김은하 , 송경수 , 이지연
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/4257 , G01M11/088 , G01M11/33
摘要： The disclosure is an optical measuring system and the method thereof for precisely measuring physical characteristics of light emitted from waveguides, such as beam size, pattern, strength, focusing, collimation degree, and divergence angle, by means of a plane optical detector in which a plurality of pixels formed by a semiconductor fabrication process are arranged in an array, without specific measuring means. The light is incident into ends of the arrayed waveguides with uniform time intervals and emitted from the other ends of the waveguides to reach the optical detectors through which the physical characteristics of the light are obtained and defined arithmetically.
摘要翻译：本发明是一种光学测量系统及其方法，其借助于平面光学检测器来精确测量从波导发射的光的物理特性，诸如光束尺寸，图案，强度，聚焦，准直度和发散角，通过半导体制造工艺形成的多个像素被排列成阵列，而没有特定的测量装置。光以均匀的时间间隔入射到阵列波导的端部，并从波导的另一端发射，以到达光学检测器，通过该光学检测器获得光的物理特性并以算术方式定义。

95. 发明公开

KR1020030093786A 평면배열형 수광 소자를 이용한 광 측정 장치 및 방법 有权
标题翻译：使用平面阵列式光接收装置测量光的装置和方法
公开(公告)号：KR1020030093786A
公开(公告)日：2003-12-11
申请号：KR1020020031637
申请日：2002-06-05
申请人： 주식회사 한택 , 정보통신연구진흥원
发明人： 주관종 , 최재식 , 양진세 , 지광순 , 김억연 , 정기우 , 김도훈 , 김은하 , 송경수 , 이지연
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/4257 , G01M11/088 , G01M11/33
摘要： PURPOSE: An apparatus and a method for measuring light by using a planar array type light receiving device are provided to precisely measure a shape and uniformity of light radiated from optical waveguide. CONSTITUTION: An optical measuring apparatus includes an optical switch(100), a waveguide array section(110), an x-axis moving device(120), a light receiving device(130), a z-axis moving device(140), a controller(150), a memory(160), a digital signal processor(170) and an LCD panel(180). The waveguide array section(110) includes a plurality of waveguide arrays, which are aligned in a row at a predetermined interval. The optical switch(100) selects one of the waveguide arrays in response to a control signal of the controller(150). The light receiving device(130) has a plurality of pixels aligned in a lattice pattern.
摘要翻译：目的：提供一种通过使用平面阵列型光接收装置测量光的装置和方法，以精确地测量从光波导辐射的光的形状和均匀性。构成：光学测量装置包括光开关（100），波导阵列部分（110），x轴移动装置（120），光接收装置（130），z轴移动装置（140）控制器（150），存储器（160），数字信号处理器（170）和LCD面板（180）。波导阵列部分（110）包括多个波导阵列，它们以预定的间隔排成一行。光开关（100）响应于控制器（150）的控制信号选择一个波导阵列。光接收装置（130）具有以格子图案对准的多个像素。

96. 发明授权

KR1019890001930B1 단일 모우드 파이버의 스폿 사이즈 측정방법 失效
标题翻译：如何测量单模光纤的光斑尺寸
公开(公告)号：KR1019890001930B1
公开(公告)日：1989-05-31
申请号：KR1019840005865
申请日：1984-09-25
申请人： 스미토모덴키고교가부시키가이샤 , 닛뽕덴신뎅와고오샤
发明人： 도꾸다마사미쯔 , 스즈끼슈우조오 , 니시무라마사유끼
IPC分类号： G01B11/08
CPC分类号： G01M11/33
摘要： A laser provides the light source for an optical system connected to the fibre. An angle of arc is measured for which the far field pattern is reduced from a max. value by 25 dB. The electric field distributions, F(&thgr;), R(γ) for the far field pattern and near field pattern are related by F(&thgr;) which is proportional to integral between O and R(γ) Jo(Kγ Sin&thgr; )γ d γ where Jo is the zero order Bessel function, &thgr; is the radiation angle, K is the wave number, and r is the half radius of the fibre. Using the Hankel transform, the expression is derived for the near field pattern according to R(γ) is proportional to integral between O and F(&thgr;) Jo (Krsin &thgr;) sin2 &thgr; d &thgr;.
摘要翻译：激光器为连接到光纤的光学系统提供光源。测量远场图案从最大角度减小的弧角。值25 dB。对于远场模式和近场模式的电场分布F（＆thgr），R（γ）与F（＆thgr）相关，F（＆thgr）与O和R（γ）Jo（KγSin＆thgr）之间的积分成比例 γdγ其中Jo为零阶贝塞尔函数，＆thgr; 是辐射角，K是波数，r是光纤的半径。使用Hankel变换，根据R（γ）与O和F（＆amp; Gr）之间的积分成比例，导出近场模式的表达式（Krsin＆thgr;）sin2＆thgr; d＆thgr

97. 发明授权

KR101609029B1 광 전달 매질의 투과 특성을 측정하는 방법 및 이를 이용한 이미지 획득 장치 有权
标题翻译：测量光传输介质和成像设备传输特性的方法
公开(公告)号：KR101609029B1
公开(公告)日：2016-04-04
申请号：KR1020130155281
申请日：2013-12-13
申请人： 고려대학교 산학협력단
发明人： 최원식 , 김동규
IPC分类号： G01N21/59
CPC分类号： G01M11/33 , G01N21/59
摘要： 본발명은광 전달매질의투과특성을측정하는방법및 이를이용한이미지획득장치에관한것이다. 본발명에따른이미지획득장치는빛을조사하는광원부과, 복수의단위미러로구성되고, 상기광원부로부터조사된빛을반사시키되상기복수의단위미러의온/오프패턴에따른상호상이한파면의기 설정된복수의포커싱패턴광이순차적으로형성되도록상기광원부로부터의빛을반사하는디지털마이크로미러와, 상기디지털마이크로미러에의해형성된상기포커싱패턴광이투과하여측정대상물로향하게하는광 전달매질과, 상기측정대상물로부터반사되어상과광 전달매질을투과한측정광을이미징하는이미징부와, 상기디지털마이크로미러와상기광 전달매질사이의광 경로상에배치되어상기디지털마이크로미러로부터의상기포커싱패턴광을상기광 전달매질로향하게하고, 상기광 전달매질을투과한상기측정광을상기이미징부로향하게하는빔 스플리터를포함하며; 하나의포커싱패턴광은상기광 전달매질을투과할때 하나의특정점에포커싱되도록형성되고; 상기복수의포커싱패턴광각각에의해포커싱되는특정점들이상기측정대상물을스캔하여상기측정대상물이이미징되는것을특징으로한다. 이에따라, 광섬유와같은광 전달매질을이용한이미지획득에있어, 광전달매질의종류와무관하게픽셀화현상, 수차(Aberration) 현상을제거하면서도별도의스캐너를설치하지않고고해상도의이미지를고속으로획득할수 있다.

98. 发明授权

KR100684495B1 광 신호 특성 선택장치 失效
标题翻译：光信号选择器
公开(公告)号：KR100684495B1
公开(公告)日：2007-02-22
申请号：KR1020050077721
申请日：2005-08-24
申请人： 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤
发明人： 다케시사토 , 노부히로우에노
IPC分类号： H04B10/00 , H04B10/291
CPC分类号： G01M11/33 , H04B10/00
摘要： 광학 측정, 광 통신의 분야에서, N개의 광 신호 특성 변환 조건을 바꾸어 선택을 하기 때문에, 입력으로부터 출력에 도달하는 신호 반송 광로 중에, 광 스위치를 사용하여 N개의 선택 광로를 제공하여 원하는 광 신호 특성 변환을 한다. 1개의 광 신호 입력을 광 스위치에 의해 N개의 선택 광로로 분기하고, N개의 선택 광로는 광 스위치에 의해 1개의 광 신호로서 출력하는 광 스위칭회로이며, N개의 선택 광로상에, 광 신호 특성 변환을 하는 기기가 적어도 1개소 이상 삽입되고, 광 스위치의 제어에 의한 N개의 광 신호 특성 변환 조건의 선택이 가능한 장치.
광학 측정, 광 통신, 광 신호 특성 변환, 광 스위치, 제어기

99. 发明公开

KR1020000043494A 광섬유 시료의 만곡구부림 특성을 검출하는 방법 및 장치 无效
标题翻译：用于检测光纤样品弯曲特性的装置和方法
公开(公告)号：KR1020000043494A
公开(公告)日：2000-07-15
申请号：KR1019980059887
申请日：1998-12-29
申请人： 주식회사 엘에스
发明人： 이명재 , 김대원
IPC分类号： G02B6/00
CPC分类号： G01M11/33 , G02B21/26 , G02B21/365
摘要： PURPOSE: An apparatus for detecting the bending characteristics of an optical fiber sample is provided to simply obtain the bending characteristics of an optical fiber sample. CONSTITUTION: An apparatus for detecting the bending characteristics of an optical fiber sample comprises a rotary holder(52), a microscope lens(56), a camera(58), and a monitor scan driver(60). The rotary holder(52) fixes and rotates an optical fiber sample. The microscope lens(56) is located at one end of the optical fiber sample which is fixed to the rotary holder(52). The light which passes through the optical fiber sample is applied to the microscope lens(56) The camera(58) is connected to the microscope lens(56). The monitor scanning driver(60) displays the data signal which is applied through the camera(58).
摘要翻译：目的：提供一种用于检测光纤样品的弯曲特性的设备，以简单地获得光纤样品的弯曲特性。构成：用于检测光纤样品的弯曲特性的装置包括旋转保持器（52），显微镜（56），照相机（58）和监视器扫描驱动器（60）。旋转保持器（52）固定并旋转光纤样品。显微镜（56）位于固定于旋转保持架（52）的光纤试样的一端。将通过光纤样品的光施加到显微镜（56）。相机（58）连接到显微镜（56）。显示器扫描驱动器（60）显示通过照相机（58）施加的数据信号。

100. 发明授权

KR1019940009539B1 다중 모의 피일위치 만곡부를 도입한 광섬유 시험 방법 및 그 장치 无效
标题翻译：使用多模态位置回路的光纤测试方法和方法
公开(公告)号：KR1019940009539B1
公开(公告)日：1994-10-14
申请号：KR1019910004819
申请日：1991-03-27
申请人： 레이티언 컴파니
发明人： 빈센트엘.죠운즈 , 로날드비.쳬슬러 , 죠오지더블류.리콤트
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： G01M11/33 , G01M11/088
摘要： 내용 없음.

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