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    • 91. 发明公开
    • VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR THERMOMECHANISCHEN ANALYSE EINER PROBE
    • VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR THERMOMECHANISCHEN ANALYZE EINER PROBE
    • EP3112854A1
    • 2017-01-04
    • EP16001440.3
    • 2016-06-28
    • Netzsch Gerätebau GmbH
    • Moukhina, ElenaRapp, DoreenMeyer, MarkusHilpert, ThiloHager, MartinWohlfahrt, Fabian
    • G01N25/16
    • G01N25/16
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur thermomechanischen Analyse einer Probe (P) eines Materials, umfassend (a) Anordnen der Probe (P) in einer thermomechanischen Analyseeinrichtung (10) und Temperieren der Probe (P) mittels der Analyseeinrichtung gemäß eines modulierten Temperaturprogrammes, (b) Aufzeichnen von mittels der Analyseeinrichtung gewonnener Daten, die repräsentativ für eine Längenänderung (dL) der Probe (P) im Verlauf der Temperierung sind, (c) Auswerten der Daten, um eine reversible Komponente (dL rev ) der Längenänderung (dL) und/oder eine reversible Komponente (α rev ) des thermischen Ausdehnungskoeffizienten (α) der Probe (P) zu ermitteln, (d) Berechnen einer korrigierten reversiblen Komponente (dL rev-corr ; α rev-corr ) der Längenänderung (dL) und/oder des thermischen Ausdehnungskoeffizienten (α) mittels eines Korrekturparameters (k), der unter Verwendung eines aus den Daten ermittelten Verhältnisses eines eine totale Längenänderung (dL total ) charakterisierenden Parameters (α total ) und eines die reversible Komponente (dL rev ) der Längenänderung (dL) charakterisierenden Parameters (α rev ) berechnet wird. Erfindungsgemäß besitzt das Temperaturprogramm ein erstes Segment (S1) mit einer ersten Basisheizrate (β1) und wird der Korrekturparameter (k) anhand von Daten aus dem ersten Segment (S1) temperaturabhängig aus einer Schätzung einer temperaturabhängigen Funktion des genannten Verhältnisses in einem Bereich des ersten Segmentes (S1) berechnet, in welchem die Probe (P) keinem thermisch bedingten Umwandlungsprozess unterliegt, wobei das Temperaturprogramm ein zweites Segment (S2) mit einer z. B. gegenüber der ersten Basisheizrate (β1) kleineren zweiten Basisheizrate (β2) besitzt und für eine Berechnung der korrigierten reversiblen Komponente (dL rev-corr ; α rev-corr ) der Längenänderung (dL) und/oder des thermischen Ausdehnungskoeffizienten (α) im zweiten Segment (S2) der anhand der Daten aus dem ersten Segment (S1) berechnete Korrekturparameter (k) verwendet wird.
    • 一种用于材料样品(P)的热机械分析的方法,包括(a)控制样品(P)的温度,(b)记录代表样品(P)的长度变化(dL)的数据( c)评估数据以确定可逆分量(dLrev),(d)计算校正的可逆分量(dLrev-corr;αrev-corr)和/或热膨胀系数(α)。
    • 92. 发明公开
    • DEVICE AND METHOD OF DIFFERENTIAL THERMOGRAVIMETRIC ANALYSIS WITH SAMPLE AND REFERENCE MATERIAL HOLDER EACH HAVING ITS OWN ASSOCIATED HEAT SINK
    • 装置和方法差热重分析,每一个都有独立散热器样品架参照物保持
    • EP2988119A1
    • 2016-02-24
    • EP15002479.2
    • 2015-08-21
    • Netzsch Gerätebau GmbH
    • Shinoda, YoshioKinoshita, Ryoichi
    • G01N25/48G01N5/04
    • G01K7/02G01K13/00G01N5/04G01N25/4833G01N25/4866
    • Provided is a device for thermal analysis capable of highly accurate TG-DSC measurement without a complex measurement procedure.
      The device for thermal analysis according to the present invention comprises: a pair of sample container assembly sets including a first sample container assembly 101 and a second sample container assembly 102, in each of which a sample container and a heat sink are connected using a member having a predetermined thermal resistance; a heating unit 20 for equally heating the pair of sample container assembly sets; a temperature control unit 400 for controlling the temperature of the heating unit; a weight measurement unit 103 for measuring the weight difference between a sample placed on the sample container 9 of the first sample container assembly and a reference material placed on the sample container 10 of the second sample container assembly; and a temperature measurement unit 300 for measuring the temperature difference between the sample and the reference material, and while the temperature of the heating unit is changed using the temperature control unit, the weight difference and the temperature difference are measured.
    • 提供了一种用于没有复杂的测量程序能高度准确TG-DSC测定的热分析的装置。 为雅鼎在本发明的热分析的装置包括:对检测体容器组件套包括一个第一样本容器组件101和其中的每一个的第二样本容器组件102的样品容器和散热器使用的是构件连接的 具有预定的热阻; 用于加热的同样对样品容器组件套的加热单元20; 用于控制加热单元的温度的温度控制单元400; 用于测量放置在第一样本容器组件的样本容器9和设置在第二样品容器组件的检体容器10上的参考材料在样品之间的重量差的重量测量单元103; 和用于测量样品和参考材料之间的温度差的温度测量单元300,并且在加热单元的温度用的温度控制单元,所述重量差和温度差变化被测量。
    • 98. 发明公开
    • THERMOANALYSEVORRICHTUNG UND THERMOANALYSEVERFAHREN
    • 热分析装置和方法热分析
    • EP2438006A1
    • 2012-04-11
    • EP10732630.8
    • 2010-06-02
    • Netzsch Gerätebau GmbH
    • SCHINDLER, AlexanderBLUMM, Jürgen
    • C01B13/02G01N25/00G01N17/00
    • G01N25/00C01B13/0277C01B13/0281C01B2210/0046C01B2210/0079C01B2210/0082G01N17/002G01N25/486
    • The present invention relates to a thermal analysis apparatus (1), comprising a sample space (2) in which a sample carrier (3) and heating devices (4) as well as an inert gas (5) are present, wherein additionally flow devices (6) are present for the inert gas (5) for generating an inert gas flow (7) to the sample carrier (3) and getter devices (11) are present for removing residual oxygen from the inert gas (5), wherein the getter devices (11) are disposed in the inert gas flow (7) in the flow direction upstream of the sample carrier (3) in the vicinity thereof. The invention further relates to a thermal analysis apparatus (1), comprising a sample space (2) in which a sample carrier (3) and heating devices (4) as well as an inert gas (5) are present, wherein additionally flow devices (6) are present for the inert gas (5) for generating an inert gas flow (7) to the sample carrier (3) and oxygen trap devices (8) are present for removing residual oxygen from the inert gas (5), wherein the getter devices (8) are disposed in the inert gas flow (7) in the flow direction upstream of the sample carrier (3) in the vicinity thereof. In addition, the invention relates to a thermal analysis method, wherein in a sample space (2) a sample carrier (3) and heating devices (4) are surrounded by inert gas (5), and wherein the inert gas (5) is prompted to flow as an inert gas flow (7) in the sample space (2) first over or past getter devices (11) in order to remove residual oxygen from the inert gas (5) and then to flow to the sample carrier (3), which is disposed in the vicinity of the getter devices (11).