会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明申请
    • 共振器、プリント基板及び複素誘電率の測定方法
    • 谐振器,打印板和测量复合电介质常数的方法
    • WO2006101145A1
    • 2006-09-28
    • PCT/JP2006/305745
    • 2006-03-22
    • 日本電気株式会社成田 薫クシュタ タラス
    • 成田 薫クシュタ タラス
    • G01R27/26
    • H05K1/0268G01R27/2617G01R31/2805H05K1/16H05K3/429H05K2201/09618H05K2201/10068
    •  導体層が夫々誘電体層を間に挟むようにして相互に平行に配置されたプリント基板における導体層に設けられた開口部の周囲に、導電体層に接続する複数のスルーホールビアを相互に間隔をおいて配置する。また、導体層の開口部並びにこれらの開口部に整合する誘電体層の領域に、導体層に非接触で励振用のスルーホールビアを配置する。そして、複素誘電率を測定する際は、スルーホールビアに高周波電力を印加し、Sパラメータ法によりスルーホールビアと導電体層との間の電力損失を測定する。これにより、数GHz乃至20GHzの周波数範囲において、複素誘電率及びその周波数依存性を精度よく測定することができ、基板に搭載しても他の部品との電気的な干渉がない。
    • 印刷电路板包括彼此平行布置以便夹着电介质层的导电层。 连接到导电层的多个通孔连接在布置在导电层中的开口周围以一定间隔布置。 此外,在导电层的开口区域和与开口对准的电介质层的区域中,用于激发的通孔布置成与导电层非接触。 当测量复合介电常数时,将高频功率施加到通孔,并测量通孔和导电层之间的功率损耗间隔S参数法。 因此,可以精确地测量复数介电常数及其对几GHz至20GHz的频率范围内的频率的依赖性。 即使这样的谐振器安装在基板上,也不会产生与其它部件的电气干扰。
    • 4. 发明专利
    • 半導体モジュール
    • 半导体模块
    • JP2015185779A
    • 2015-10-22
    • JP2014062878
    • 2014-03-26
    • 日本電気株式会社
    • 岩波 瑞樹クシュタ タラス
    • H01L23/14H05K1/02H01L23/12
    • H01L2224/48091H01L2224/48227H01L2924/15311
    • 【課題】LSIチップ由来のノイズを抑制しつつ半導体モジュールや電子機器を小型化、薄型化する。 【解決手段】インターポーザ90の表面91はLSIチップ60に面し、電源配線10、グランド配線20、信号配線30、パッド71及び膜140は表面91に接し、かつ表面91と平行な方向に伸展する。非信号配線は、表面91上に、一方及び他方の末端13,14、並びに側端11,12を有し、一方の末端13は、インターポーザ90の裏面と導通接続し、他方の末端14は、パッド71と接し、又は一体になっており、パッド71は、ボンディングワイヤ51と接する。側端12は、一方及び他方の末端13,14の間に位置し、側端12は膜140と接し、膜140は磁性体及び/又は誘電体からなり、インターポーザ90を表面91側から上面視すると、非信号配線の占める領域と膜140の占める領域とは互いに接しかつ分離している。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:为了实现半导体模块和电子设备的厚度的小型化和减小,同时抑制LSI芯片衍生的噪声。解决方案:半导体模块包括:具有面向LSI芯片60的表面91的插入器90; 以及电源布线10,接地布线20,信号布线30,焊盘71和薄膜140,它们各自接触表面91并且在与表面91平行的方向上延伸。非信号布线具有一个和另一个端子13 ,14表面91和侧端11,12,一个端子13与插入件90的后表面电连接,另一个端子14接触焊盘71或与焊盘71聚集。焊盘71接触接合线 侧端12位于一端和另一个端子13,14之间,并且侧端12与膜140接触。膜140由磁性物质和/或电介质构成。 当从表面91侧从上方观察插入件90时,由非信号布线占据的区域和膜140所占据的区域彼此接触并彼此隔离。
    • 9. 发明专利
    • 半導体モジュール
    • 半导体模块
    • JP2015185780A
    • 2015-10-22
    • JP2014062879
    • 2014-03-26
    • 日本電気株式会社
    • 岩波 瑞樹クシュタ タラス
    • H01L23/32H01L23/12
    • H01L2224/48091H01L2224/48227H01L2224/49175H01L2924/15183H01L2924/15311H01L2924/19105
    • 【課題】LSIチップ由来の伝導ノイズを抑制しつつ半導体モジュールや電子機器を小型化、薄型化する。 【解決手段】電源配線10、グランド配線20及び膜140は、インターポーザ90の表面91と平行な方向に伸展する。電源配線10及びグランド配線20は、表面91上に、それぞれ一方及び他方の末端13,14,23,24並びに側端12,22を有する。一方の末端13,23は、それぞれインターポーザ90の裏面と導通接続する。他方の末端14,24は、それぞれパッド71,72と接し、又は一体になっている。パッド71,72は、それぞれボンディングワイヤ51,52と接する。側端12,22は、それぞれ一方及び他方の末端13,14,23,24の間に位置し、かつ互いに対向する。膜140は、誘電体及び/又は磁性体からなり、電源配線10とグランド配線20との間に位置し、かつこれらの側端12,22と接する。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:为了实现半导体模块和电子设备的厚度的小型化和减小,同时抑制LSI芯片衍生的导电噪声。解决方案:在半导体模块中,电源布线10,接地布线20和薄膜140延伸 与插入器90的表面91平行的方向。电源配线10和接地配线20分别具有位于表面91上的一个端子13,14,23,24和侧端部12,22。 一个端子13,23与插入器90的后表面电连接。另一个端子14,24分别接触焊盘71 72或彼此聚集。 焊盘71,72分别与接合线51,52接触。 侧端12,22分别位于一个端子13,23之间,另一个端子14,24之间并且彼此相对。 膜140由电介质物质和/或磁性物质构成,位于电源配线10和接地配线20之间,与电源配线10的侧端部12,22和接地配线20接触 。