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1. 发明专利

JP5889501B1 信号伝送絶縁デバイス及びパワー半導体モジュール有权
标题翻译：信号传输绝缘装置及功率半导体模块
公开(公告)号：JP5889501B1
公开(公告)日：2016-03-22
申请号：JP2015558276
申请日：2015-08-19
申请人：三菱電機株式会社
发明人：菅健一 , 釣本崇夫 , 塩田裕基 , 諸熊健一 , 折田昭一 , 為谷典孝 , 井上貴公 , 魚田紫織
IPC分类号： H01L27/04 , H01L21/822
摘要：信号伝送絶縁デバイスを、第1コイルと、第1コイルに対向し第1コイルとトランスを構成する第2コイルと、第1コイルと第2コイルとが対向する間の第1の誘電体からなる第1絶縁膜と、第1コイルを囲み第1の誘電体より低抵抗率の第2の誘電体からなる第2絶縁膜と、第2コイルを囲み第1の誘電体より低抵抗率の第3の誘電体からなる第3絶縁膜とを備えたもの、又は第1コイルと、第1コイルに対向し第1コイルとトランスを構成する第2コイルと、第1コイルと第2コイルとが対向する間の第1の誘電体からなる第1絶縁膜と、第1コイルを囲み第1の誘電体より高誘電率の第2の誘電体からなる第2絶縁膜と、第2コイルを囲む第1の誘電体よりも高誘電率の第3の誘電体からなる第3絶縁膜とを備えたものとする。
摘要翻译：信号传输分离装置，其包括第一电介质，其之间的第一线圈，构成第一线圈和面对所述第一线圈，所述第一线圈和第二线圈的变压器的第二线圈对置的第一绝缘膜，由低电阻率比所述第一电介质的第二绝缘膜包围所述第一线圈第二电介质，低的电阻率比所述第一电介质的第一环绕所述第二线圈 3，其由电介质构成的第三绝缘膜，或一个第一线圈，从而构成第一线圈和面对第一线圈的变压器的第二线圈，以及第一线圈和第二线圈包围由具有比第一电介质的高介电常数制成的第二电介质的相反的第二绝缘膜之间的第一电介质的第一绝缘膜包围所述第一线圈，所述第二线圈比所述第一电介质和与高介电常数由第三电介质的第三绝缘膜。

2. 发明专利

JP6008160B1 ノイズフィルタ有权
标题翻译：噪声过滤
公开(公告)号：JP6008160B1
公开(公告)日：2016-10-19
申请号：JP2016533742
申请日：2016-01-22
申请人：三菱電機株式会社
发明人：宮川成人 , 菅健一 , 開田健 , 下畑賢司 , 春名延是 , ▲高▼橋慶多
IPC分类号： H03H7/01
CPC分类号： H01F27/28 , H01F37/00 , H03H7/01
摘要：平板状の導体(50)が積層されて巻線パターンが構成されたコイル(1a、1b)と、このコイル(1a、1b)に巻き回された磁性体コア(2)と、コイル(1a、1b)の積層方向の端部に電気的に絶縁されて密着された放熱部材(3)とを備えたノイズフィルタ(100、200、300)において、コイル(1a、1b)の積層方向の端部に配置された導体(50)の熱抵抗を他の導体(50)の熱抵抗と比較して最も小さくしたものである。
摘要翻译：板状导体（50）被层叠线圈绕组图案构造（1A，1B）和线圈（1A，1B）的周围围绕磁芯（2）中，线圈（1A，在通过粘接电绝缘的热辐射构件为1b）（3）噪声滤波器和（100，200，300），线圈的层叠方向的（端部1a的层叠方向的端部，1b）的所部署的导体（50）的热阻与其他导体的热电阻进行比较（50）通过最小而获得。

3. 发明专利

JP2015064329A 絶縁寿命評価方法および絶縁寿命評価装置审中-公开
标题翻译：用于评估绝缘寿命的方法和装置
公开(公告)号：JP2015064329A
公开(公告)日：2015-04-09
申请号：JP2014040410
申请日：2014-03-03
申请人：三菱電機株式会社
发明人：田尻邦彦 , 菅健一 , 釣本崇夫 , 塩田裕基
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/00
摘要：【課題】被測定物の発熱量により被測定物の絶縁寿命を確実に判定することができる絶縁寿命評価装置を提供する。【解決手段】絶縁媒体3が充填され、被測定物8を設置する断熱容器1と、断熱容器1内で被測定物8に所定の周波数および所定の電圧値の高電圧を印加する高電圧発生部2と、断熱容器1内で絶縁媒体3の温度を測定する熱電対温度計9と、熱電対温度計9で測定した温度データから被測定物8に所定の高電圧が印加された被測定物8の発熱量を導出し、この発熱量を基準測定物に対する発熱量と絶縁破壊時間との相関を示す絶縁寿命推定曲線と比較して絶縁寿命を判定する解析装置4とを備えたものである。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于评估绝缘寿命的装置，其能够使用被测量物体的发热量确定待测物体的绝缘寿命。解决方案：用于评估绝缘寿命的装置包括：a 隔热容器1，其填充有绝缘介质3，并且其中安装有待测量物体8; 在隔热容器1的内部向待测量对象物体8施加规定频率和规定电压值的高电压的高电压产生部2; 测量绝热容器1内的绝缘介质3的温度的热电偶温度计9; 以及分析器4，根据由热电偶温度计9测量的温度数据推定施加规定的高电压的被测定对象物8的发热量，并将发热量与表示发热量相对于参考测量对象和介电击穿时间来确定绝缘寿命。

4. 发明专利

JP5921723B2 半導体装置有权
公开(公告)号：JP5921723B2
公开(公告)日：2016-05-24
申请号：JP2014556364
申请日：2013-12-20
申请人：三菱電機株式会社
发明人：塩田裕基 , 山竹厚 , 菅健一 , 山口義弘 , 上田哲也
IPC分类号： H01L23/29 , H01L23/28 , H01L23/31 , H01L23/12
CPC分类号： H01L23/3737 , H01L23/08 , H01L23/36 , H01L23/4334 , H01L23/482 , H01L23/495 , H01L23/49558 , H01L23/49586 , H01L23/49838 , H01L23/49861 , H01L23/564 , H01L29/1602 , H01L29/1608 , H01L29/2003 , H01L2224/2929 , H01L2224/32245 , H01L23/3121 , H01L23/49562 , H01L23/49575 , H01L2924/1305 , H01L2924/13055

5. 发明专利

JP5855285B2 信号伝送絶縁デバイス及びパワー半導体モジュール有权
标题翻译：信号传输绝缘装置及功率半导体模块
公开(公告)号：JP5855285B2
公开(公告)日：2016-02-09
申请号：JP2014557327
申请日：2013-10-31
申请人：三菱電機株式会社
发明人：菅健一 , 釣本崇夫 , 塩田裕基 , 諸熊健一 , 西川和康 , 折田昭一 , 為谷典孝 , 西田信也 , 米山玲 , 井上貴公 , 魚田紫織
IPC分类号： H01L27/04 , H01L21/768 , H01L23/532 , H01F19/04 , H01F17/00 , H01F41/12 , H02M1/08 , H01L21/822
CPC分类号： H01L23/53295 , H01F19/08 , H01L23/5227 , H01F2019/085 , H01L2924/0002

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