发明申请
WO2023037078A1 PROCEDE, DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ORDINATEUR DE CONTROLE D'UNE PIECE PAR RADIOGRAPHIE AUX RAYONS X
审中-公开
基本信息:
- 专利标题： PROCEDE, DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ORDINATEUR DE CONTROLE D'UNE PIECE PAR RADIOGRAPHIE AUX RAYONS X
- 专利标题（英）：METHOD, DEVICE AND COMPUTER PROGRAM FOR MONITORING A PART BY X-RAY
- 申请号：PCT/FR2022/051698 申请日：2022-09-08
- 公开(公告)号：WO2023037078A1 公开(公告)日：2023-03-16
- 发明人： FRAGNAUD, Cédric , ROUX, Stéphane , BETANCUR, Julian
- 申请人： SAFRAN , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , ECOLE NORMALE SUPERIEURE PARIS-SACLAY
- 申请人地址： 2, boulevard du Général Martial Valin; 3, rue Michel Ange; 4 Avenue des Sciences
- 专利权人： SAFRAN,CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS),ECOLE NORMALE SUPERIEURE PARIS-SACLAY
- 当前专利权人： SAFRAN,CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS),ECOLE NORMALE SUPERIEURE PARIS-SACLAY
- 当前专利权人地址： 2, boulevard du Général Martial Valin; 3, rue Michel Ange; 4 Avenue des Sciences
- 代理机构： REGIMBEAU
- 优先权： FRFR2109443 2021-09-09
- 主分类号： G01N23/046
- IPC分类号： G01N23/046 ; G06T11/00
摘要：
L'invention concerne un procédé de contrôle non destructif d'une pièce par radiographie en transmission, comportant les étapes suivantes acquisition de N proj ections (P(n)) de la pièce, génération (E2) de N images (P (n)) calculées de la pièce, estimation (E3a, E3b, E3c) par itérations successives, du vecteur p à partir d' un vecteur initial p = pini et du vecteur c à partir d' un vecteur initial c = cini et/ ou du vecteur a de paramètres à partir d' un vecteur initial α = αini, par minimisation de la somme des normes des différences au carré entre les project ions (P(n)) et les images(P (n)), traitement des projections (P(n)) et/ ou des images (P (n)), identification de défauts de la pièce par comparaison des proj ections (P(n)) traitées et des images traitées (P(n)).
摘要（英）：
The invention relates to a method for non-destructively testing a part by means of transmission radiography, which method comprises the following steps of acquiring N projections (P(n)) of the part, generating (E2) calculated N images (P (n)) of the part, estimating (E3a, E3b, E3c), by successive iterations, the vector p from an initial vector p = pini and the vector c from an initial vector c = cini and/or the parameter vector a from an initial vector α = αini, by minimising the sum of the squared differences between the projections (P(n)) and the images (P (n)), processing the projections (P(n)) and/or the images (P (n)), identifying defects in the part by comparing the processed projections (P(n)) and the processed images (P(n)).
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |
| ------------G01N23/046 | ...应用X光断层技术，如计算机X光断层技术 |