基本信息:
- 专利标题： HIGH VOLTAGE INTEGRATED CIRCUIT TESTING INTERFACE ASSEMBLY
- 申请号：PCT/US2020/023253 申请日：2020-03-18
- 公开(公告)号：WO2020190992A1 公开(公告)日：2020-09-24
- 发明人： COUCH, Andrew, Patrick , BLITZ, Phillip, Marcus , GRAHAM, David, Anthony
- 申请人： TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED , TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED
- 申请人地址： P.O. Box 655474, Mail Station 3999 Dallas, TX 75265-5474 US
- 专利权人： TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED,TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED
- 当前专利权人： TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED,TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED
- 当前专利权人地址： P.O. Box 655474, Mail Station 3999 Dallas, TX 75265-5474 US
- 代理机构： GRAHAM, Brian et al.
- 优先权： US62/819,862 20190318; US16/820,544 20200316
- 主分类号： G01R31/319
- IPC分类号： G01R31/319 ; G01R1/06
摘要：
An integrated circuit testing assembly (100). The integrated circuit testing assembly (100) includes a slab (200) having a slab axis (210), and a first electrode (402) and second electrode (404)) affixed relative to the slab (200).
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/319 | ....测试器硬件，即输出处理电路 |