基本信息:
- 专利标题： 免震装置の点検システム及び免震装置の点検方法
- 专利标题（英）：SEISMIC ISOLATION DEVICE INSPECTION SYSTEM AND SEISMIC ISOLATION DEVICE INSPECTION METHOD
- 申请号：PCT/JP2019/002559 申请日：2019-01-25
- 公开(公告)号：WO2019151152A1 公开(公告)日：2019-08-08
- 发明人： 加藤 秀章 , 永井 敏朗
- 申请人： 株式会社ブリヂストン
- 申请人地址： 〒1048340 東京都中央区京橋三丁目1番1号 Tokyo JP
- 专利权人： 株式会社ブリヂストン
- 当前专利权人： 株式会社ブリヂストン
- 当前专利权人地址： 〒1048340 東京都中央区京橋三丁目１番１号 Tokyo JP
- 代理机构： 杉村 憲司
- 优先权： JP2018-015652 20180131
- 主分类号： G01B21/32
- IPC分类号： G01B21/32 ; E04H9/02 ; G01B21/02
This seismic isolation device inspection system comprises: a height measurement unit; an angle measurement unit; and a communication device capable of communicating with the foregoing units The height measurement unit and the angle measurement unit are capable of sending measurement information to the communication device. The seismic isolation device inspection system further comprises a calculation unit for calculating the displacement amount of the seismic isolation device on the basis of the measurement information. This seismic isolation device inspection method includes: a height measurement step; an angle measurement step; a measurement information sending step for sending the measurement information to the communication device; and a calculation step for calculating the displacement amount of the seismic isolation device on the basis of the measurement information.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B21/00 | 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件 |
| --------G01B21/32 | .用于计量固体的变形 |