基本信息:
- 专利标题: APPAREIL DE TEST ET PROCEDE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE
- 专利标题(英):WO2018211218A1 - Integrated circuit test apparatus and method
- 申请号:PCT/FR2018/051182 申请日:2018-05-17
- 公开(公告)号:WO2018211218A1 公开(公告)日:2018-11-22
- 发明人: PORTOLAN, Michele
- 申请人: INSTITUT POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE
- 申请人地址: 46 Avenue Félix Viallet 38000 GRENOBLE FR
- 专利权人: INSTITUT POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE
- 当前专利权人: INSTITUT POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE
- 当前专利权人地址: 46 Avenue Félix Viallet 38000 GRENOBLE FR
- 代理机构: NOVAGRAAF TECHNOLOGIES
- 优先权: FR1754491 20170519
- 主分类号: G01R31/3183
- IPC分类号: G01R31/3183 ; G01R31/319
摘要:
L'invention concerne un appareil de test comprenant : un dispositif de test (302) comportant une mémoire (304) mémorisant des instructions informatiques et un ou plusieurs processeurs agencés, lors de l'exécution des instructions informatiques, pour exécuter du code de test (308) pour mettre en œuvre une opération de test sur le dispositif sous test (102), le code de test (308) définissant un ou plusieurs motifs de test et un ou plusieurs algorithmes de test à appliquer à des instruments de test du dispositif sous test, le code de test étant dans un premier format qui est indépendant de l'interface de test (106, 08) entre le dispositif de test (302) et le dispositif sous test (102); et un pilote d'interface (310) agencé pour convertir des communications générées par le dispositif de test pendant l'exécution du code de test dans un deuxième format adapté à l'interface de test, et pour convertir des communications provenant du dispositif sous test (102) dans le premier format.
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01R | 测量电变量;测量磁变量(通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
------G01R31/00 | 电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
--------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
--------------G01R31/3183 | ....测试输入量的产生,例如测量矢量、图形或顺序 |