发明申请
WO2017214735A1 SYSTEMS AND METHODS FOR OBTAINING A STRUCTURED LIGHT RECONSTRUCTION OF A 3D SURFACE
审中-公开
基本信息:
- 专利标题： SYSTEMS AND METHODS FOR OBTAINING A STRUCTURED LIGHT RECONSTRUCTION OF A 3D SURFACE
- 专利标题（中）：用于获得3D表面的结构化光重建的系统和方法
- 申请号：PCT/CA2017/050743 申请日：2017-06-16
- 公开(公告)号：WO2017214735A1 公开(公告)日：2017-12-21
- 发明人： MARIAMPILLAI, Adrian , LEE, Kenneth Kuei-Ching , LEUNG, Michael , SIEGLER, Peter , STANDISH, Beau Anthony , YANG, Victor X.D.
- 申请人： 7D SURGICAL INC.
- 申请人地址： 60 Scarsdale Road Unit 118 Toronto, Ontario M3B 2R7 CA
- 专利权人： 7D SURGICAL INC.
- 当前专利权人： 7D SURGICAL INC.
- 当前专利权人地址： 60 Scarsdale Road Unit 118 Toronto, Ontario M3B 2R7 CA
- 代理机构： HILL & SCHUMACHER
- 优先权： US62/351,622 20160617
- 主分类号： G01B11/25
- IPC分类号： G01B11/25 ; G01B11/245 ; A61B34/10
摘要：
Disclosed are systems and methods for obtaining a structured light reconstruction using a hybrid spatio-temporal pattern sequence projected on a surface. The method includes projecting a structured light pattern, such as a binary de Bruijn sequence, onto a 3D surface and acquiring an image set of at least a portion of this projected sequence with a camera system, and projecting a binary edge detection pattern onto the portion of the surface and acquiring an image set of the same portion of the projected binary pattern. The acquired image set of the binary pattern is processed to determine edge locations therein, and then employed to identify the locations of pattern edges within the acquired image set of the structured light pattern. The detected edges of the structured light pattern images are employed to decode the structured light pattern and calculate a disparity map, which is used to reconstruct the 3D surface.
摘要（中）：
公开了使用投影在表面上的混合时空模式序列获得结构光重建的系统和方法。 该方法包括将诸如二元de Bruijn序列的结构化光图案投影到3D表面上，并且利用相机系统获取该投影序列的至少一部分的图像集合，并将二值边缘检测图案投影到该部分 并且获取投影的二元图案的相同部分的图像集合。 对所获取的二值图案的图像集进行处理以确定其中的边缘位置，然后用于识别所获取的结构化光图案的图像集内的图案边缘的位置。 采用结构化光图案图像的检测边缘来解码结构化光图案并计算用于重建3D表面的视差图。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/24 | .用于计量轮廓或曲率 |
| ----------G01B11/25 | ..通过在物体上投影一个图形，例如莫尔（moiré）条纹 |