基本信息:
- 专利标题： 試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析システム用プログラム
- 专利标题（英）：Sample analysis substrate, sample analysis device, sample analysis system, and program for sample analysis
- 专利标题（中）：样品分析底物，样品分析装置，样品分析系统和样品分析系统程序
- 申请号：PCT/JP2016/088568 申请日：2016-12-22
- 公开(公告)号：WO2017111128A1 公开(公告)日：2017-06-29
- 发明人： 岡本 房俊 , 城野 政博
- 申请人： パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社
- 申请人地址： 〒1058433 東京都港区西新橋2-38-5 Tokyo JP
- 专利权人： パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社
- 当前专利权人： パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社
- 当前专利权人地址： 〒1058433 東京都港区西新橋２－３８－５ Tokyo JP
- 代理机构： 奥田 誠司
- 优先权： JP2015-252322 20151224
- 主分类号： G01N35/00
- IPC分类号： G01N35/00 ; G01N35/08 ; G01N37/00
摘要：
回転運動によって、液体の移送を行う試料分析用基板であって、回転軸を有する基板と、基板内にそれぞれ位置する、第１保持チャンバー、第１保持チャンバーから排出される第１液体を保持するための第２保持チャンバー、第２保持チャンバーから排出される第１液体を保持するためのメインチャンバー、第１開口および第２開口を有する第１流路であって、第１開口および第２開口がそれぞれ第１保持チャンバーおよび第２保持チャンバーに接続された第１流路、および、第３開口および第４開口を有する第２流路であって、第３開口および第４開口がそれぞれ第２保持チャンバーおよびメインチャンバーに接続された第２流路を備え、第１保持チャンバーは第１開口が接続している位置よりも前記回転軸から離れた部分を有し、第２保持チャンバーは第２開口が接続している位置よりも回転軸から離れた部分を有し、第２流路において、第３開口は、第４開口よりも回転軸に近接している。
摘要（中）：
一种用于通过旋转运动传送液体的样本分析用衬底，包括：具有旋转轴线的衬底;由第一保持室保持的衬底，第一保持室 第一保持室，用于保持要排出的第一液体;主室，用于保持从第二保持室排出的第一液体;第一流道，具有第一开口和第二开口 第一流路，其中第一开口和第二开口分别连接到第一保持室和第二保持室;以及第二流路，其具有第三开口和第四开口， 以及第二流路，在该第二流路中，第四开口分别连接到第二保持室和主室，其中第一保持室具有比连接第一开口的位置更远离旋转轴线的部分 第二保持室具有比连接第二开口的位置更远离旋转轴线的部分，并且在第二流道中第三开口比第四开口更靠近旋转轴线 。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N35/00 | 不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送 |