基本信息:
- 专利标题： 表面特性測定方法、表面特性測定装置、及び表面特性測定プログラム
- 专利标题（英）：Surface property measuring method, surface property measuring device, and surface property measuring program
- 专利标题（中）：表面物性测量方法，表面物性测量装置和表面物性测量程序
- 申请号：PCT/JP2016/076973 申请日：2016-09-13
- 公开(公告)号：WO2017056968A1 公开(公告)日：2017-04-06
- 发明人： 小倉 有紀 , 穂積 直裕 , 吉田 祥子 , 小林 和人 , 原 祐輔
- 申请人： 株式会社資生堂 , 国立大学法人豊橋技術科学大学 , 本多電子株式会社
- 申请人地址： 〒1040061 東京都中央区銀座7丁目5番5号 Tokyo JP
- 专利权人： 株式会社資生堂,国立大学法人豊橋技術科学大学,本多電子株式会社
- 当前专利权人： 株式会社資生堂,国立大学法人豊橋技術科学大学,本多電子株式会社
- 当前专利权人地址： 〒1040061 東京都中央区銀座７丁目５番５号 Tokyo JP
- 代理机构： 伊東 忠重
- 优先权： JP2015-192075 20150929; JP2016-175317 20160908
- 主分类号： A61B8/00
- IPC分类号： A61B8/00 ; G01N29/09 ; G01N29/50
摘要：
物質の表面特性を精度良く評価することのできる表面特性測定技術を提供する。 表面特性測定方法は、測定対象物に超音波を照射して前記測定対象物からの反射信号を取得し、測定装置にて前記測定対象物からの反射信号と、あらかじめ取得した参照物質からの参照反射信号との相互相関関数の最大値を計算し、前記相互相関関数の最大値を用いて界面での反射成分を計算し、前記反射成分と前記参照反射信号の比較結果に応じて、前記測定対象物の音響インピーダンスと前記参照物質の音響インピーダンスのいずれか一方を測定値として出力する。
摘要（中）：
本发明提供能够精确评估材料的表面性质的表面性质测量技术。 根据本发明的表面性质测量方法包括：将超声波辐射到要测量的目标上以获得来自待测对象的反射信号; 使用测量装置计算来自被测量目标的反射信号与预先获取的参考物质的参考反射信号之间的互相关函数的最大值; 通过使用互相关函数的最大值来计算界面处的反射分量; 并且根据反射分量与参考反射信号之间的比较结果，作为测量值输出被测量目标的声阻抗和参考材料的声阻抗之一。
IPC结构图谱:
| A | 人类生活必需 |
| --A61 | 医学或兽医学；卫生学 |
| ----A61B | 诊断；外科；鉴定 |
| ------A61B8/00 | 用超声波、声波或次声波的诊断 |