基本信息:
- 专利标题： SYSTEMS AND METHODS FOR RINSING AND DRYING SUBSTRATES
- 专利标题（中）：用于冲洗和干燥基材的系统和方法
- 申请号：PCT/US2015/066924 申请日：2015-12-18
- 公开(公告)号：WO2016100938A1 公开(公告)日：2016-06-23
- 发明人： MIKHAYLICHENKO, Ekaterina , BROWN, Brian J. , HANSON, Kyle M. , FRANCISCHETTI, Vincent S.
- 申请人： APPLIED MATERIALS, INC.
- 申请人地址： 3050 Bowers Avenue Santa Clara, California 95054 US
- 专利权人： APPLIED MATERIALS, INC.
- 当前专利权人： APPLIED MATERIALS, INC.
- 当前专利权人地址： 3050 Bowers Avenue Santa Clara, California 95054 US
- 代理机构： DUGAN, Brian M. et al.
- 优先权： US62/094,938 20141219; US14/602,201 20150121
- 主分类号： H01L21/302
- IPC分类号： H01L21/302
摘要：
In some embodiments, a system is provided that includes (1) a loading position; (2) a drying position; (3) a movable tank configured to (a) hold at least one substrate; (b) hold a cleaning chemistry so as to expose a substrate within the movable tank to the cleaning chemistry; and (c) translate between the loading position and the drying position; and (4) a drying station located at the drying position and configured to rinse and dry a substrate as the substrate is unloaded from the movable tank when the movable tank is at the drying position. Numerous other aspects are provided.
摘要（中）：
在一些实施例中，提供一种系统，其包括（1）装载位置; （2）干燥位置; （3）可移动罐，其构造成（a）保持至少一个基板; （b）保持清洁化学品，以将可移动罐内的基材暴露于清洁化学品; 和（c）在装载位置和干燥位置之间平移; 和（4）位于干燥位置处的干燥站，其构造为当可移动罐处于干燥位置时基底从可移动罐卸载时冲洗和干燥基底。 提供了许多其他方面。
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H01 | 基本电气元件 |
| ----H01L | 半导体器件；其他类目未包含的电固体器件 |
| ------H01L21/00 | 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备 |
| --------H01L21/02 | .半导体器件或其部件的制造或处理 |
| ----------H01L21/027 | ..未在H01L21/18或H01L21/34组中包含的为进一步的光刻工艺在半导体之上制作掩膜 |
| ------------H01L21/18 | ...器件有由周期表第Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体，如掺杂材料 |
| --------------H01L21/26 | ....用波或粒子辐射轰击的 |
| ----------------H01L21/302 | .....改变半导体材料的表面物理特性或形状的，例如腐蚀、抛光、切割 |